2012 Fiscal Year Annual Research Report
| Project/Area Number |
22560104
|
|---|
| Research Institution | The University of Tokyo |
|---|
Principal Investigator |
上村 康幸 東京大学, 生産技術研究所, 技術専門職員 (20396906)
|
|---|
| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
土屋 健介 東京大学, 生産技術研究所, 准教授 (80345173)
|
|---|
| Project Period (FY) |
2010-04-01 – 2013-03-31
|
| Keywords | 目詰まり / 固定砥粒 / スパイラル気孔 / ドレスレス / 電着 / 砥粒率 |
|---|
| Research Abstract |
本研究は、固定砥粒工具に共通する目詰まりを防止するために、切屑の流動性を確保したスパイラル気孔（チップポケット）に切屑を連続排出することのできるアシストレスの固定砥粒工具を開発することを行なった．その結果、 (1)複合めっき時の突起物を抑えるためには，電流密度を下げて，めっき時間を長くすると良い．品質を考慮した工具を製造するためには，40A/dm2以下の電流密度が望ましい．(2)工具が目詰まりすると力センサを取り付けた系が強く加振される研削抵抗の2倍以上のスパイク信号が現われることが分かった．この信号を早期に検知すれば，工具の目詰まりを即座に判断できる．今回使用した砥粒率67%は，切込み量15um前後で初期のスパイク信号を検知した．(3)目詰まりした工具には使用した砥粒径以上の切屑が存在するが，目詰まりしなければ，使用した砥粒径以上の切屑は発生しないことが分かった．(4)目詰まりの有無を判断する砥粒率は，使用砥粒の切屑の大きさから55%前後であることが分かった．また，この砥粒率は，使用する砥粒径に関係なくほぼ一様である．工具製造時は，安全率を考慮して50%以下の砥粒率にすることが望ましい．その際，砥粒率は電流密度で制御でき，30A/dm2で40%，40A/dm2で50%にすることが可能である．(5)目詰まりの原因は，①高砥粒率によるチップポケットの形成，②工具と工作物の接触面積の大きさ，③砥粒周りに連続したスパイラル気孔(チップポケット)がないことである．これらの因子を考慮したスパイラル工具は，アシストレスの固定砥粒加工が可能であることを示した． 最終年度（平成２４年度）は、研究の成果を国際学会、国内学会等に発表した．
|
| Current Status of Research Progress |
Reason
24年度が最終年度であるため、記入しない。
|
| Strategy for Future Research Activity |
24年度が最終年度であるため、記入しない。
|
