2011 Fiscal Year Annual Research Report
ナノ半導体アナログ回路の自己校正・テスト・診断修復技術の研究
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22560319
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| Research Institution | Gunma University |
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Principal Investigator |
小林 春夫 群馬大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20292625)
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| Keywords | 集積回路 / ナノCMOS / アナログ / 自己校正 / LSIテスト |
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| Research Abstract |
(1)ナノCMOSシステムLSIでのキーコンポーネントである、タイムデジタイザ回路の高精度化のためにマルチビット構成とその非線形性の自己校正法を考案し、特許出願、学会発表を行った。また、タイムデジタイザ回路のディジタル信号間のタイミングの短時間・高精度テストへの応用を検討した。
(2)連続時間アナログフィルタのディジタル自己調整法を考案し、シミュレーションによる原理確認を行い、学会発表を行った。
(3)パイプラインADCの精度を向上させる自己校正アルゴリズムを考案し、シミュレーションにより有効性を確認し、学会発表を行った。
(4)サイクリックADCの精度を向上させ低消費電力化を実現する自己校正アルゴリズムを考案しシミュレーションにより有効性を確認し、学会発表を行った。
(5)ADCのテスト信号をディジタル信号処理により高線形化する技術を開発し実測で有効性を確認した。
(6)完全ディジタルPLL回路の短時間での自己校正アルゴリズムの実機検証を行った。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
着実に研究成果がでており、学会発表、論文発表にもつながっている。
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| Strategy for Future Research Activity |
半導体メモリの回路・システム構成、テスト方法にヒントを得て、アナログ回路にもその考え方が援用する方式を新たに着想したので、その着想の検討も含めて研究を推進していく。
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[Presentation] TVチューナ用完全ディジタルPLL回路-システムの観点から2011
Author(s)
湯本哲也, 村上健, 西村繁幸, 田邊朋之, 壇徹, 高橋伸夫, 内藤智洋, 北村真一, 坂田浩司, 小林春夫, 高井伸和, 新津葵一
Organizer
電気学会 電子回路研究会
Place of Presentation
長崎
Year and Date
2011-10-20
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[Presentation] TVチューナ用完全ディジタルPLL回路-広帯域化の検討2011
Author(s)
村上健, 湯本哲也, 長谷川賀則, 三田大介, 壇徹, 内藤智洋, 高橋伸夫, 坂田浩司, 北村真一, 小林春夫, 高井伸和, 新津葵一
Organizer
電気学会 電子回路研究会
Place of Presentation
長崎
Year and Date
2011-10-20
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[Presentation] Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Using ΣΔ DAC2011
Author(s)
T.Yamada, O.Kobayashi, K.Kato, K.Wakabayashi, H.Kobayashi, T.Matsuura, Y.Yano, T.Gake, K.Niitsu, N.Takai, T.Yamaguchi
Organizer
IEEE International Test Conference
Place of Presentation
Anaheim, CA, USA
Year and Date
2011-09-21
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[Presentation] Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Algorithms Using an Arbitrary Waveform Generator2011
Author(s)
K.Wakabayashi, T.Yamada, S.Uemori, O.Kobayashi, K.Kato, H.Kobayashi, K.Nitsu, H.Miyashita, S.Kishigami, K.Rikino, Y.Yano, T.Gake
Organizer
IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
Place of Presentation
Santa Barbara, CA, USA
Year and Date
2011-05-16
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