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2012 Fiscal Year Annual Research Report

窒化ガリウムを用いた細胞培養監視用pHセンサの開発

Research Project

Project/Area Number 22560332
Research InstitutionThe University of Tokushima

Principal Investigator

敖 金平  徳島大学, ソシオテクノサイエンス研究部, 准教授 (40380109)

Project Period (FY) 2010-04-01 – 2013-03-31
KeywordspHセンサ / AlGaN/GaN HFET / 高温動作 / GaN MOSFET
Research Abstract

今年では安定性を持つ、高温動作できるpHセンサとした目標を達するために、デバイス再設計、プロセス最適化、メカニズムの解明とデバイスの高温評価を行った。
1.シリコーン樹脂を保護膜としたAlGaN/GaN HFETを用いたpHセンサ素子の構造の検討、フォトマスクの設計、製作プロセスの最適化を行った。
2.測定ホルダーを設計した。このホルダーにセンサチップを実装し、デバイス動作を確認し、溶液中リーク電流の液依存性を調べた。溶液中リーク電流が少なく、AlGaNと溶液の電気化学反応が見られなかった。
3.標準溶液(pH4.00のフタル酸塩、pH6.86の中性リン酸塩、pH9.22のホウ酸塩)を用い、pHセンサの高温特性(20℃から80℃まで)を評価した。各温度、各溶液で通常のHFETと同様の電流-電圧特性が得られた。温度上昇によりしきい電圧が正方向にシフトすることが確認できた。pH値が大きくなればしきい値は浅くなったことが判った。サブスレッショルドスイング値(S)が温度上昇によって増加したことを確認し、金属ゲートのS値よりかなり低くなったことも判った。pHごとのVG変化であるΔVG/pHは、各温度20℃、40℃、60℃、80℃で52.6mV、60.0mV、63.8mV、59.2mVとなっており、全ての温度帯で十分にpH変化をセンスできていると判った。
4.自動測定プログラムを開発し、細胞培養環境を実時間あるいは経時的監視へ応用に関する実験を行っている。
5.センサ用GaN MOSFETを開発も同時に行った。AlGaN/GaNヘテロ構造上にGaN MOSFETを作り、ドライエッチングプロセスのデバイス性能への影響、絶縁膜を後処理効果、素子間分離技術の開発に絞って研究を進めた。電子移動度160cm2/Vs台のデバイスが得られた。GaN MOSFET型のpHセンサを設計し、試作に入っている。

Current Status of Research Progress
Reason

24年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (10 results)

All 2013 2012

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (8 results) (of which Invited: 1 results)

  • [Journal Article] Influence of Dry Recess Process on Enhancement-Mode GaN Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors2013

    • Author(s)
      Qingpeng Wang, Kentaro Tamai, Takahiro Miyashita, Shin-ichi Motoyama, Dejun Wang, Jin-Ping Ao, and Yasuo Ohno
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: vol. 52, No.1 Pages: 1-5

    • DOI

      DOI:10.7567/JJAP.52.01AG02

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Design Fabrication and Characterization of GaN MOSFET (in Chinese)2012

    • Author(s)
      Qingpeng Wang
    • Journal Title

      Power Electronics

      Volume: 46 Pages: 81-83

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Field Isolation of GaN MOSFET by Boron Ion Implantation2013

    • Author(s)
      Ying Jiang
    • Organizer
      第60回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学(神奈川県)
    • Year and Date
      20130327-20130331
  • [Presentation] Oxide Thickness Dependency on Threshold Voltage of GaN MOSFETs on AlGaN/GaN Heterostructure2013

    • Author(s)
      Qingpeng Wang
    • Organizer
      第60回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学(神奈川県)
    • Year and Date
      20130327-20130331
  • [Presentation] Device Isolation for GaN MOSFETs With Boron Ion Implantation2013

    • Author(s)
      Ying Jiang
    • Organizer
      5th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Application for Nitrides and Nanomaterials
    • Place of Presentation
      名古屋大学(愛知県)
    • Year and Date
      20130128-20130202
  • [Presentation] Evaluation of a Gate-First Process for AlGaN/GaN HFETs2013

    • Author(s)
      Liuan Li
    • Organizer
      5th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Application for Nitrides and Nanomaterials
    • Place of Presentation
      名古屋大学(愛知県)
    • Year and Date
      20130128-20130202
  • [Presentation] Synthesis and Application of Metal Nitrides as Schottky Electrodes for Gallium Nitride Electron Devices2012

    • Author(s)
      Jin-Ping Ao
    • Organizer
      the first international conference on emerging advanced nanomaterials
    • Place of Presentation
      Mercure Hotel, Brisbane(Australia)
    • Year and Date
      20121022-20121025
    • Invited
  • [Presentation] GaN MOSFET with Boron Trichloride-Based Dry Recess Process2012

    • Author(s)
      Ying Jiang
    • Organizer
      11th Asia Pacific Conference on Plasma Science and Technology and 25th Symposium on Plasma Science for Materials
    • Place of Presentation
      京都大学桂キャンパス(京都府)
    • Year and Date
      20121002-20121005
  • [Presentation] GaNデバイスにおけるゲート・ファースト・プロセスの検討2012

    • Author(s)
      白石孝之
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学、松山大学(愛媛県)
    • Year and Date
      20120911-20120914
  • [Presentation] AlGaN/GaN MISHFETチャネル電子移動度の測定2012

    • Author(s)
      玉井健太郎
    • Organizer
      電子情報通信学会電子デバイス研究会
    • Place of Presentation
      福井大学(福井県)
    • Year and Date
      20120726-20120727

URL: 

Published: 2014-07-24  

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