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2011 Fiscal Year Annual Research Report

III-V族化合物半導体MOSFETの量子補正シミュレーション

Research Project

Project/Area Number 22560346
Research InstitutionTokyo University of Science

Principal Investigator

藤代 博記  東京理科大学, 基礎工学部, 教授 (60339132)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 原 紳介  東京理科大学, 基礎工学部, 助教 (30434038)
KeywordsIII-V族化合物半導体 / MOSFET / CMOSロードマップ / バリスティック伝導 / 歪バンド構造 / 量子補正モンテカルロシミュレーション / InGaAs / InP
Research Abstract

本研究はCM0Sロードマップの更なる延長を目指して,量子補正モンテカルロ(MC)シミュレーションにより(1)ドレイン電流の増加,(2)リーク電流の低減(3)チャネル制御性の向上,(4)特性ばらつきの抑制の観点から,ナローおよびワイドバンドギャップIII-V族化合物半導体のロジックデバイスへの適合性を理論的に検討し,ポストSiデバイスとして真に有望なチャネル材料および構造を明らかにすることを目的とする。初年度は,代表的なIII-V族化合物半導体でありデバイスの試作も行われているInGaAsについて詳細な検討を行い,プレーナ型MOSFET構造に適用した場合の問題点を明らかにすると共に,デバイス内のキャリア輸送モデルを提案した。2年目の平成23年度は有効質量,谷間エネルギー,バンドギャップエネルギー等の異なる種々の材料(InGaAs,GaAs,InP)についての検討を行い,以下の成果を得た。
1.各種チャネル材料の検討
InGaAsは有効質量が小さいために注入速度が大きいが,ドレイン領域からの跳ね返りによりボトルネック速度が減少し,かつゲート容量が小さいために電子濃度が低い。GaAsはΓ-L谷間のエネルギーが小さいためにL谷内の伝導が起こり,かつドレイン領域からの跳ね返りも促進される。InPは有効質量が大きいために注入速度は小さいがドレイン領域からの跳ね返りが起こり難く,逆にゲート容量が大きいために電子濃度が高い。結果として,InPでより大きいドレイン電流が得られることを示した。またそれぞれについてデバイス内のキャリア輸送モデルを提案した。
2.量子補正モンテカルロ(MC)シミュレータの高度化
歪みバンド構造から抽出したバンドパラメータを用いて計算を行う量子補正MCシミュレータを開発し,研究に用いた。しかし歪みバンド構造をそのまま輸送計算に用いるフルバンドMCエンジンは計算時間・精度にまだ問題が見られた。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

各種のIII-V族化合物半導体をチャンネル材料に用いたプレーナ型MOSFETの特性を比較・検討し,その優劣を議論すると共に,それぞれについてデバイス内のキャリア輸送モデルを提案した。フルバンドMCエンジンは計算時間・精度にまだ問題があり,本格的な利用には至っていないが,本研究課題を遂行する上では現在の近似的バンドを用いたMCエンジンでも大きな問題はない。

Strategy for Future Research Activity

最終年度である平成24年度はこれまでのチャネル材料の検討結果を非プレーナ型MOSFET構造に展開し,課題(1),(2),(3)の観点から総合的な検討を行い,どの材料および構造がポストSiMOSFETとして真に有望であるかを明らかにする。課題(4)は材料および構造の選択とは概ね別課題であるため,研究資源を課題(1),(2),(3)に集中させる。量子補正モンテカルロ(MC)シミュレータの高度化は本研究後の展開を見据え継続して行う。

  • Research Products

    (15 results)

All 2012 2011 Other

All Journal Article (5 results) (of which Peer Reviewed: 4 results) Presentation (8 results) Remarks (2 results)

  • [Journal Article] Comparative Study on Nano-Scale III-V MOSFETs with Various Channel Materials Using Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation2012

    • Author(s)
      T. Homma, K. Hasegawa, H. Watanabe, S.Haraand H. I. Fujishiro
    • Journal Title

      Physica Status Solidi C

      Volume: 9 Pages: 346-349

    • DOI

      DOI:10.1002/pssc.201100275

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] 量子補正モンテカルロ法による歪みInAs HEMTの解析2011

    • Author(s)
      佐藤 純, 町田 史晴, 原 紳介, 藤代 博記
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 111 Pages: 79-84.

  • [Journal Article] Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation of InSb HEMTs Considering Strain Effects2011

    • Author(s)
      S.Hara, F.Machida, J.Sato, H.I.Fujishiro, A.Endo, Y.Yamashita, I.Watanabe
    • Journal Title

      Abstracts of 9th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM2011)

      Pages: 41-42

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Strain Effects on Performances in InAs HEMTs2011

    • Author(s)
      F.Machida, H.Nishino, J.Sato, H.Watanabe, S. Hara, H. I. Fujishiro
    • Journal Title

      Proceedings of 23rd International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM2011)

      Pages: 437-440

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Comparative Study on Nano-Scale III-V MOSFETs with Various Channel Materials Using Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation2011

    • Author(s)
      T.Homma, K.Hasegawa, H. Watanabe, S.Hara, H.I.Fujishiro
    • Journal Title

      Abstracts of 38th International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS2011)

      Pages: 469-470

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] InSb HEMTのデバイス特性に及ぼすラフネス散乱の影響2012

    • Author(s)
      佐藤純, 荒井敦志, 町田史晴, 原紳介, 藤代博記, 遠藤聡, 渡邊一世
    • Organizer
      2012年春季第59回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      早稲田大学
    • Year and Date
      2012-03-18
  • [Presentation] Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation of Nano-Scale III-V MOSFETs2011

    • Author(s)
      Hiroki Fujishiro
    • Organizer
      BIT's 1st Annual World Congress of Nano-S&T
    • Place of Presentation
      World EXPO Center, Dalian, China
    • Year and Date
      20111023-20111027
  • [Presentation] 歪みInSb HEMTのモンテカルロ解析2011

    • Author(s)
      町田史晴, 佐藤純, 原紳介, 藤代博記, 遠藤聡, 渡邊一世
    • Organizer
      2011年秋季第72回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      山形大学
    • Year and Date
      20110829-20110902
  • [Presentation] 各種チャネル材料を用いた微細III-V MOSFETの特性比較2011

    • Author(s)
      長谷川慶, 本間嵩広, 原紳介, 藤代博記
    • Organizer
      2011年秋季第72回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      山形大学
    • Year and Date
      20110829-20110902
  • [Presentation] Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation of InSb HEMTs Considering Strain Effects2011

    • Author(s)
      S.Hara, F.Machida, J Sato, H.I.Fujishiro, H.Endo, Y.Yamashita, I.Watanabe
    • Organizer
      9th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM2011)
    • Place of Presentation
      Nagaragawa Convention Center, Gifu, Japan
    • Year and Date
      20110828-20110831
  • [Presentation] 量子補正モンテカルロ法による歪みInAs HEMTの解析2011

    • Author(s)
      佐藤純, 町田史晴, 原紳介, 藤代博記
    • Organizer
      電子情報通信学会ED研究会
    • Place of Presentation
      長岡技術科学大学マルチメディアシステムセンター
    • Year and Date
      20110729-20110730
  • [Presentation] Strain Effects on Performances in InAs HEMTs2011

    • Author(s)
      F.Machida, H.Nishino, J.Sato, H.Watanabe, S.Hara, H.I.Fujishiro
    • Organizer
      23rd International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM2011)
    • Place of Presentation
      Maritim proArte Hotel, Berlin, Germany
    • Year and Date
      20110522-20110526
  • [Presentation] Comparative Study on Nano-Scale III-V MOSFETs witn Various Channel Materials Using Quantum-Corrected Monte Carlo Simulation2011

    • Author(s)
      T.Homma, K.Hasegawa, H.Watanabe, S.Hara, H.I.Fujishiro
    • Organizer
      38th International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS2011)
    • Place of Presentation
      Maritim proArte Hotel, Berlin, Geriany
    • Year and Date
      20110522-20110526
  • [Remarks]

    • URL

      http://www.tus.ac.jp/fac_grad/p/index.php?A14247

  • [Remarks]

    • URL

      http://www.te.noda.tus.ac.jp/pub/labs/fujisiro/index-j.html

URL: 

Published: 2013-06-26  

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