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2011 Fiscal Year Annual Research Report

自発的ナノスケール相分離とそれを利用した低次元ナノ構造体の創製

Research Project

Project/Area Number 22560696
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

石丸 学  大阪大学, 産業科学研究所, 准教授 (00264086)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 佐藤 和久  東北大学, 金属材料研究所, 助教 (70314424)
長谷川 繁彦  大阪大学, 産業科学研究所, 准教授 (50189528)
朝日 一  大阪大学, 産業科学研究所, 特任教授 (90192947)
Keywords自己組織化 / 透過電子顕微鏡 / 欠陥制御
Research Abstract

加速した電子やイオン等により材料改質を行う量子ビーム技術は、エネルギーや照射量等の条件を変化させることにより、材料の表面から内部に渡って、所望の位置にナノ構造体を形成することが出来る。本年度は、窒化ガリウム(GaN)単結晶基板に対して高エネルギーイオン照射を施し、照射条件および熱処理条件の組織形成過程に及ぼす影響について調べた。その結果、以下のことが明らかとなった。
1.透過電子顕微鏡法による断面観察の結果、高エネルギーAuイオン照射を施したGaN単結晶基板中には、(0001)面から成る積層欠陥が多量に導入されていたことが確認された。
2.損傷領域から得られた電子回折図形において001や003禁制反射の分裂が見られ、積層欠陥は周期配列していることが明らかとなった。
3.照射損傷領域には窒素ガスによるバブルが含まれていた。この結果より、積層欠陥はGa面から成ると類推される。
4.イオン照射温度や熱処理温度が高くなるに伴い、周期配列した積層欠陥の変調周期はが大きくなることが確認された。これは、照射時に導入された欠陥濃度が低くなることに対応している。
以上の結果は、イオンビーム技術により導入される欠陥を用いることにより低次元ナノ構造体を実現出来、照射条件や熱処理条件を変化させることより、変調周期を制御出来ることを示している。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

これまで、エピタキシャル成長やイオンビーム技術を用いて低次元ナノ構造体の創製に成功しており、得られたデーターは原著論文として報告している。

Strategy for Future Research Activity

最近我々は、スピントロニクス材料として注目されている希土類元素ドープGaNにおいて自然超格子が自発的に形成されることを見いだした。今年度は、X線回折や透過電子顕微鏡法等の回折結晶学的手法を駆使して、極微構造解析を行う予定である。

  • Research Products

    (6 results)

All 2012 2011

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (4 results)

  • [Journal Article] Superlattice-like stacking fault array in ion-irradiated GaN2012

    • Author(s)
      M. Ishimaru, I. O. Usov, Y. Zhang, W. J. Weber
    • Journal Title

      Philos. Mag. Lett.

      Volume: 92 Pages: 49-55

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Growth of higher manganese silicides from amorphous manganese-silicon layers synthesized by ion implantation2012

    • Author(s)
      M. Naito, R. Nakanishi, N. Machida, T. Shigematsu, M. Ishimaru, J. A. Valdez, K. E. Sickafus
    • Journal Title

      Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B

      Volume: 272 Pages: 446-449

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 透過電子顕微鏡によるイオン照射GaNの短範囲および長周期規則構造の解析2011

    • Author(s)
      石丸学
    • Organizer
      日本金属学会平成23年度秋期大会
    • Place of Presentation
      那覇
    • Year and Date
      2011-11-09
  • [Presentation] Electron diffraction study on radiation-induced amorphous structures2011

    • Author(s)
      M. Ishimaru
    • Organizer
      International Workshop on Ion Beam Applications of Functional Materials
    • Place of Presentation
      Jinan, Shandong, China(招待講演)
    • Year and Date
      2011-08-20
  • [Presentation] Radiation-induced amorphous and long-period structures in GaN2011

    • Author(s)
      M. Ishimaru
    • Organizer
      16th International Conference on Radiation Effects in Insulators
    • Place of Presentation
      Beijing, China
    • Year and Date
      2011-08-16
  • [Presentation] Chemical short-range order in amorphous semiconductors2011

    • Author(s)
      M. Ishimaru
    • Organizer
      European Materials Research Society 2011 Spring Meeting
    • Place of Presentation
      Nice, France(招待講演)
    • Year and Date
      2011-05-11

URL: 

Published: 2014-07-16  

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