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2012 Fiscal Year Annual Research Report

液中環境におけるナノスケール表面電荷分布計測

Research Project

Project/Area Number 22686007
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

小林 圭  京都大学, 産官学連携本部, 助教 (40335211)

Project Period (FY) 2010-04-01 – 2013-03-31
Keywords原子間力顕微鏡 / カンチレバー / 溶液環境
Research Abstract

ダイナミックモードAFMでは、カンチレバーの励振にしばしば圧電素子が用いられるが、液中ではカンチレバーのQ値が低いために、溶液セルの機械振動の誘発や、カンチレバー/ホルダー界面の振動伝達関数の影響から、スプリアス(余計な)ピークが現れる。これにより、カンチレバーの見かけ上のQ値が向上してしまい、周波数変調方式AFM(FM-AFM)において、保存力と散逸力の分離が困難となるだけでなく、それぞれの定量的計測を妨げることが明らかになった。この問題に対し、強度変調レーザ光を用いた光熱励振系を構築することで、液中においてもカンチレバーに理想的な周波数応答特性を持たせることに成功した。
また、従来、真空中や大気中の表面電荷計測法として用いられてきたケルビンプローブ原子間力顕微鏡(KFM)や静電気力顕微鏡(EFM)と同様に、電解質液中において変調電圧を探針-試料間に印加した場合にカンチレバーの各部位に誘起される表面張力・静電気力を解析したところ、探針先端にはたらく相互作用力が非常に小さく、カンチレバーにはたらく力がむしろ支配的になることが示された。したがって、電解質液中でのナノスケール電荷分布計測には従来のKFMやEFMをそのまま利用することはできないが、一方で、3次元フォースマップ法を用いて探針-試料間にはたらく相互作用力の距離依存性(フォースカーブ)を詳細に計測・解析することで、試料表面の電荷密度を推測することができることが分かった。
さらに、探針-試料間に非常に高い周波数の交流電圧を印加し、その振幅をカンチレバーの共振周波数で振幅変調することで、光熱励振と同様にスプリアスピークを発生させることなくカンチレバーを励振する方法も新たに開発した。

Current Status of Research Progress
Reason

24年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (8 results)

All 2013 2012 Other

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (4 results) Patent(Industrial Property Rights) (1 results)

  • [Journal Article] Analysis of capacitive force acting on a cantilever tip at solid/liquid interfaces2013

    • Author(s)
      K.-I. Umeda, K. Kobavashi, N. Oyabu, Y. Hirata, K. Matsushige and H. Yamada
    • Journal Title

      J. Appl. Phys

      Volume: 113

    • DOI

      DOI:10.1063/1.4801795

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Direct actuation of cantilever in aqueous solutions by electrostatic force using high-frequency electric fields2012

    • Author(s)
      K.-I. Umeda, K. Kobavashi, K. Matsushige and H. Yamada
    • Journal Title

      Appl. Phys. Lett

      Volume: 101

    • DOI

      DOI:10.1063/1.4754289

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Retrofitting an atomic force microscope with photothermal excitation for a clean cantilever response in low Q environments2012

    • Author(s)
      Aleksander Labuda, Kei Kobayashi, Yoichi Miyahara, Peter Grutter
    • Journal Title

      Review of Scientific Instruments

      Volume: 83 Pages: 053703

    • DOI

      10.1063/1.4712286

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Molecular-Scale Investigations of Self-Assembled Surfactant Aggregates on Graphite by Force Mapping Using FM-AFM

    • Author(s)
      Kazuhiro Suzuki, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, and Hirofumi Yamada
    • Organizer
      20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • Place of Presentation
      Naha, Japan
  • [Presentation] Quantitative charge density measurement of biomolecule in aqueous solutions by FM-AFM with force mapping technique

    • Author(s)
      Ken-ichi Umeda, Yoshiki Hirata, Noriaki Oyabu, Kei Kobayashi, and Hirofumi Yamada
    • Organizer
      20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • Place of Presentation
      Naha, Japan
  • [Presentation] FM-AFMによる界面活性剤分子集合体上の電気二重層力の評価

    • Author(s)
      鈴木一博, 大藪範昭, 小林圭, 松重和美, 山田啓文
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学
  • [Presentation] 液中動作周波数変調AFMにおけるエネルギー散逸一定モードを用いた電荷 密度計測

    • Author(s)
      梅田健一, 平田芳樹, 大藪範昭, 小林圭, 山田啓文
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      愛媛大学・松山大学
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 原子間力顕微鏡を用いた表面電荷密度測定装置2013

    • Inventor(s)
      大田昌弘, 梅田健一, 小林圭, 山田啓文
    • Industrial Property Rights Holder
      株式会社島津製作所
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      PCT/JP2023/55002
    • Filing Date
      2013-02-26

URL: 

Published: 2014-07-24  

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