2010 Fiscal Year Annual Research Report
光熱変換イメージングによるサブナノ粒子検出識別システムの開発
| Project/Area Number |
22686027
|
|---|
| Research Institution | The University of Tokushima |
|---|
Principal Investigator |
水谷 康弘 徳島大学, 大学院・ソシオテクノサイエンス研究部, 講師 (40374152)
|
|---|
| Keywords | 光熱変換 / サブナノ粒子検出 / 偏光計測 / 反磁性 / エバネセント / ナノ周期構造 |
|---|
| Research Abstract |
本研究の目的は,光学的にサブナノ粒子を遠隔操作するシステムを開発することである.サブナノ粒子を遠隔操作するシステムには,サブナノ粒手観察系とサブナノ粒子操作系が必要である.サブナノ粒子観察系では光エネルギを熱エネルギに変換する光熱変換効果を利用する.具体的には,高強度レーザをサブナノ粒子に照射することによりサブナノ粒子が光熱変換効果により温度が上昇する.熱は放熱するため媒質の温度が数度上昇することで屈折率がわずかに変化する.この屈折率変化もしくは位相の二次元分布を計測システムを作製する.また,サブナノ粒子を捕捉するために静磁場による反発力とエバネッセント揚による光放射圧を用いる.具体的には,数十nmのスリットが入ったプレパラートを作製し赤外光を入射させることでエバネッセント場を形成する.このエバネッセント場を利用することで多数のサブナノ粒子を効率的に捕捉できる.さらに,静磁場を利用することと補足粒子の垂直方向の位置が粒子の大きさに依存するのでサブナノ粒子の形状選別が可能となる.以上より,本課題では,高精度サブナノ粒子検出・職別年法を確立することを目的としている.
平成22年度までに,サブナノ粒子を補足するための光トラップシステムの基本的な部分を構築した.ここでは,ナノ粒子の補足が可能な一般的な光トラップシステムである.また,検出方法として,対物レンズを介した偏光計測システムを構築しサンプルの異方位性の計測が可能なシステムとしている.また,光熱変換効果に必要な光源を選定し,YAG2倍波(波長532nm),出力2Wのレーザの購入が終了している.
|
Research Products
(1 results)
