2012 Fiscal Year Annual Research Report
ＬＳＩの多様な要求品質に対応できる数理計画的アプローチによる体系的なテスト生成法
| Project/Area Number |
22700049
|
|---|
| Research Institution | Hiroshima City University |
|---|
Principal Investigator |
岩垣 剛 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教 (00397845)
|
|---|
| Project Period (FY) |
2010-04-01 – 2013-03-31
|
| Keywords | テスト生成 / ホールドタイム故障 / 整数計画問題 / テストパターン数最小化 / 検出故障数最大化 |
|---|
| Research Abstract |
平成24年度は，平成23年度に引き続き，近年の微細化された大規模集積回路において特に問題視されているホールドタイム故障に着目し，テストコストの重要な要素の一つであるテストパターン数の最小化を指向したテスト生成について議論をおこなった．以下にその概要を示す．
ここで対象とする最小テストパターン集合生成問題（入力：テスト対象回路とホールドタイム故障集合，出力：すべての検出可能故障に対するテストパターン集合，最適化目標：テストパターン集合サイズの最小化）に対して，以下のように厳密解法とヒューリスティック解法の両面からアプローチした．厳密解法では，まず，各ホールドタイム故障の検出条件とテスト対象回路の論理動作を整数計画問題の制約式として表し，テストパターン数の上界の見積もりから必要な制約式数を決定する．これにより十分な数のテストパターンを同時に生成することが可能となる．さらに，制約としてすべての故障の検出を保証するための不等式と不必要なテストパターンを識別するための不等式を考慮し，必要なテストパターン数の最小化を表現する目的関数を設定することで，上記の問題に対する最適解（最小のテストパターン集合）を原理的に得ることができる．一方，ヒューリスティック解法では，厳密解法では扱うことが難しい規模の問題にも対処できるようにするため，対象故障集合の中から一部の故障集合のみを考慮してテスト生成をおこなう．具体的には，部分故障集合に対して，検出故障数が最大となるようなテストパターンを生成する問題を整数計画問題として定式化し，それをすべての故障が検出されるまで繰り返し解く．これにより，解の最適性は失われるが規模の大きな問題にも対応が可能となる．以上の手法をベンチマーク回路に適用し，手法の利点・欠点を数値的に明らかにした．
|
| Current Status of Research Progress |
Reason
24年度が最終年度であるため、記入しない。
|
| Strategy for Future Research Activity |
24年度が最終年度であるため、記入しない。
|
