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2010 Fiscal Year Annual Research Report

天文衛星搭載に向けたSISフォトン検出器の超高感度化

Research Project

Project/Area Number 22740129
Research InstitutionJapan Aerospace Exploration Agency

Principal Investigator

鈴木 仁研  独立行政法人宇宙航空研究開発機構, 宇宙科学研究所, 宇宙航空プロジェクト研究員 (30534599)

Keywords天文 / テラヘルツ / 量子型検出器 / MBE
Research Abstract

分子線エピタキシー(MBE)技術による高品質な(高純度・良好な結晶性)結晶膜の形成に向けて、MBE装置の整備、結晶成長の技術習得を行った。特に、電子銃が使用可能になったことで、Nb等の高融点金属でも高品質な結晶成長が可能となった。当初の計画では、SIS検出器の超高感度化を目指し、MBE技術によるNb膜の形成を予定していた。しかし、今後のテラヘルツ波帯での観測において、特に未開拓な観測周波数帯である10THz帯での観測が重要視されている。この天文学的背景に加え、その後の検出器開発研究の進展から、10THz帯においては、MBE技術によって製作されたBIB(Blocked Impurity Band)型ゲルマニム(Ge)検出器がSISよりも感度を大きく凌駕する性能を示すことが明らかになりつつある。そこで、超高感度テラヘルツ波検出器の開発という同一研究目的の下で、BIB型Ge検出器の開発の急展開を考慮し、MBE技術を用いたBIB型Ge検出器の超高感度化を目指す。具体的な技術課題点として、(1)GeにGaを高濃度(~10^16/cc)にドーピングした基板(=受光層)上に、極薄(~100nm)・高純度(常温キャリア密度~10^14/cc)なGe膜(=ブロック層)をエピタキシャル成長させる、(2)受光層とブロック層の界面で急峻なGa濃度プロファイルを実現する、である。これらは、液相エピタキシー等の従来法では実現困難な技術的課題点であるが、MBE技術を用いることでブレークスルーとなる。さらに、(3)大規模アレイ化を見越し、MBE技術にて透明電極を形成する。透明電極は、従来、イオン打ち込み法で形成される。しかし、ドーピング濃度プロファイルの制御性が優れているMBE技術を採用することで、透明電極での光吸収率が従来比で1/5程度まで抑制できると期待される。3つの技術課題点において、(1)の極薄で高品質なブロック層の形成に成功、(2)をクリア、(3)のドーピング濃度プロファイルが設計通りに得られ、良好な電気特徃(オーミック接触)が実証された。

  • Research Products

    (3 results)

All 2011 2010

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (1 results)

  • [Journal Article] Electrical and photoconductive properties at 2 K of germanium p+-I junction device fabricated by surface-activated wafer bonding2011

    • Author(s)
      Kaneda, H., et al.
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Subgap tunneling current at low temperature in Nb/Al-AlN/Nb SIS junctions2010

    • Author(s)
      Noguchi, T., Suzuki, T., Tamura, T.
    • Journal Title

      Applied Superconductivity (IEEE)

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 次世代遠赤外線ゲルマニウム検出器の開発 VI~分子線エピタキシー法による透明電極の形成~2011

    • Author(s)
      鈴木仁研, 他
    • Organizer
      天文学会
    • Place of Presentation
      筑波大学(茨城県)
    • Year and Date
      20110316-20110319

URL: 

Published: 2012-07-19  

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