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2010 Fiscal Year Annual Research Report

13nm高次高調波の時間コヒーレンス100倍改善法の開発

Research Project

Project/Area Number 22760029
Research InstitutionUniversity of Hyogo

Principal Investigator

原田 哲男  兵庫県立大学, 高度産業科学技術研究所, 助教 (30451636)

Keywords応用光学 / EUV / 高次高調波 / コヒーレンス / コヒーレント回折イメージング
Research Abstract

13nm高次高調波の時間コヒーレンスを100倍に改善するための多層膜回折格子製作が開発課題である.しかし,現在の放射光を利用するコヒーレントスキャトロメトリー顕微鏡(CSM)においては集光基板にてスペックルが発生しS/Nを悪くしていた.高次高調波は空間的にコヒーレントな光源のため,途中の光学素子の表面が荒れているとスペックル発生源となり性能を発揮できない.そこで国内外の光学メーカー3社の基板をCSMで測定し,ドイツ製のガラス基板がスペックルの散乱がほぼないことを確認した.このメーカーの基板にCSMの集光光学系を交換し,測定再現性を向上させた.今後は,この基板を用いて多層膜回折格子の製作を進める.
CSMにおいてタイコグラフィー法による,回折画像からの試料像再生アルゴリズムを開発した.タイコグラフィーでは従来と異なり,試料に対して位置をずらして照明光を照射し,CCDカメラで記録した複数枚の回折画像に対して反復計算処理して像再生する.測定位置が制御されるため,周期的なパタンだけでなく,非周期的な構造に対しても像再生が容易となる.実際に,ライン/スペースパタンの端点形状や,アライメント用十字パタン像を再生できた.また,位相構造も測定し,形状はもとより位相量まで像として検出できた.

  • Research Products

    (8 results)

All 2011 2010

All Presentation (8 results)

  • [Presentation] コヒーレントスキャトロメトリー顕微鏡によるEUVマスク上のプログラム欠陥観察結果2011

    • Author(s)
      中筋正人, 木村瑛彦, 多田将樹, 原田哲男, 渡邊健夫, 木下博雄
    • Organizer
      第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      (講演予稿集のみ)
    • Year and Date
      2011-03-24
  • [Presentation] コヒーレントスキャトロメトリー顕微鏡によるCD評価2011

    • Author(s)
      中筋正人, 多田将樹, 原田哲男, 渡邊健夫,木下博雄
    • Organizer
      第24回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場
    • Year and Date
      2011-01-10
  • [Presentation] タイコグラフィーにおける像再生条件の最適化2011

    • Author(s)
      木村瑛彦, 中筋正人, 原田哲男, 渡邊健夫, 木下博雄
    • Organizer
      第24回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場
    • Year and Date
      2011-01-10
  • [Presentation] コヒーレントスキャトロメトリー顕微鏡によるタイコグラフィーでのEUVマスクパタン増再生2011

    • Author(s)
      原田哲男, 中筋正人, 木村瑛彦, 渡邊健夫, 木下博雄
    • Organizer
      第24回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場
    • Year and Date
      2011-01-09
  • [Presentation] Critical Dimension Evaluation of an EUV Mask utilizing the Coherent EUV Scatterometry Microscope2010

    • Author(s)
      Tetsuo Harada, Masato Nakasuji, Masaki Tada, Takeo Watanabe, Hiroo Kinoshita
    • Organizer
      MNC2010
    • Place of Presentation
      小倉
    • Year and Date
      2010-11-10
  • [Presentation] X線回折顕微法によるEUVマスク像再生アルゴリズムの検討2010

    • Author(s)
      木村瑛彦, 原田哲男, 渡邊健夫, 木下博雄
    • Organizer
      2010年度精密工学会 秋季大会学術講演会
    • Place of Presentation
      名古屋大学
    • Year and Date
      2010-09-27
  • [Presentation] コヒーレントスキャトロメトリー顕微鏡によるCD評価2010

    • Author(s)
      原田哲男, 中筋正人, 多田将樹, 渡邊健夫, 木下博雄
    • Organizer
      第71回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      長崎大学
    • Year and Date
      2010-09-14
  • [Presentation] コヒーレントスキャトロメトリー顕微鏡によるEUVマスク上のプログラム欠陥観察結果2010

    • Author(s)
      中筋正人, 多田将樹, 原田哲男, 渡邊健夫, 木下博雄
    • Organizer
      第71回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      長崎大学
    • Year and Date
      2010-09-14

URL: 

Published: 2012-07-19  

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