2010 Fiscal Year Annual Research Report
情報通信機器の相互接続部に求められる接触性能要件の解明
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22760204
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| Research Institution | Tohoku University |
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Principal Investigator |
林 優一 東北大学, 大学院・工学研究科, COEフェロー (60551918)
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| Keywords | 電磁環境 / コネクタ / 接触不良 / 暗号・セキュリティ / 伝送線路 / 電気接点 / 相互接続 / 情報漏洩 |
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| Research Abstract |
平成22年度は,交付申請書の1.および2.に対応して以下の2項目について研究を行った。
1.RFカレントプローブとスペクトラムアナライザ/オシロスコープとその他の既存設備を組み合わせた「情報システムのイミュニティ劣化を測定するためのシステムの構築」を行った。構築したシステムを用いて接触不良による情報システムの機能低下のメカニズムを解明するため、情報システムのイミュニティ劣化の指標となるコモンモード電流の振幅情報、位相情報等のメカニズム解明に必要なパラメタを測定した。
2.実験と同時に「大規模計算機を用いた電磁界計算(FDTD法)のプログラムの開発」を行い詳細な電磁界分布を測定した。電磁界計算のプログラムの開発は東北大学の保有するSX-9上でFORTRANを用いて行った。プログラムの開発は、実験と良好な一致が得られているかを随時確認しながら進めた。また、必要に応じて経験豊富な技術職員に助言を求めた。作成したプログラムによって得られた詳細な電磁界計算の結果と実験で得られた結果を併せてメカニズムの解明を行った。さらに、システムからの情報漏洩を評価するための「漏洩電磁波波形の解析プログラムの開発」も行った。
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