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2023 Fiscal Year Research-status Report

Critical phenomena of metal-insulator transition in disordered impurity systems: Effects of spin and compensation

Research Project

Project/Area Number 22K03449
Research InstitutionNara Institute of Science and Technology

Principal Investigator

原嶋 庸介  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 准教授 (90748203)

Project Period (FY) 2022-04-01 – 2025-03-31
Keywords金属絶縁体転移 / Anderson局在 / 臨界現象 / 半導体 / 不純物 / 密度汎関数理論
Outline of Annual Research Achievements

本研究は半導体中の不純物濃度の変化により生じる金属絶縁体転移の臨界現象に対する理論研究である。特にexponent puzzleと呼ばれる、臨界指数に対して実験で提案されている2つの値について、そのメカニズムを明らかにするために、スピンの自由度を考慮した系と補償効果を考慮した系の解析を行う。本研究ではスピン自由度の効果と補償効果を取り入れるために、ドナー不純物およびアクセプタ不純物が3次元空間上で不規則に配置された系を考え、密度汎関数理論に基づき電子状態を求める。交換相関汎関数には局所密度近似を用いる。電子状態の局在性の評価にはmultifractal exponentを用いた。2023年度は、2022年度に実施したスピンを考慮した系の計算結果を用いて有限サイズスケーリングを行い、臨界指数を求めた。異なるシステムサイズに対してmultifractal exponentをプロットしたところ、特定の濃度一点で交差せず、irrelevantなスケーリング変数の影響が大きいことがわかったので、有限サイズスケーリング解析を行う際にirrelevantなスケーリング変数の効果を取り入れた解析を行った。その結果、臨界指数0.23という値が得られた。これは実験から得られている2つの値のどちらとも一致せず、また、これまでに理論的に得られている値ともかけ離れている。現在、0.23という値が得られたメカニズムについて解析、考察を進めると同時に、論文執筆作業を進めている。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

3: Progress in research has been slightly delayed.

Reason

スピンを考慮した系の臨界指数の計算を達成した。現在、こちらについて論文執筆作業を進めている。今年度実施予定の補償系の計算について、前年度の解析から収束性について課題があることがわかったので、引き続き対処し、データ取集に取り組む。しかし、有限サイズスケーリング解析にirrelevantなスケーリング変数の効果が予想より大きく影響することがわかり、その対処に時間がかかってしまったため、補償系の計算が想定より進まなかった。

Strategy for Future Research Activity

2024年度は、補償系のデータ収集を開始し、データの取得を行う。まずはスピン自由度の固定などの計算の収束方法について検討し、収束の安定性を向上させる。データを取得後、補償系の臨界指数の解析をスピン系と同様に行う予定である。

Causes of Carryover

2023年度に購入予定であった計算機が、学内業務の都合上購入を延期したので、2024年度に購入予定である。またデータ収集のための計算を加速させるために、今年度も共同利用計算機の使用量を事前の想定より増やして契約する予定である。

  • Research Products

    (1 results)

All 2023

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results,  Open Access: 1 results)

  • [Journal Article] Finite temperature effects on the structural stability of Si-doped HfO2 using first-principles calculations2023

    • Author(s)
      Harashima Y.、Koga H.、Ni Z.、Yonehara T.、Katouda M.、Notake A.、Matsui H.、Moriya T.、Si M. K.、Hasunuma R.、Uedono A.、Shigeta Y.
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 122 Pages: 262903

    • DOI

      10.1063/5.0153188

    • Peer Reviewed / Open Access

URL: 

Published: 2024-12-25  

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