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2023 Fiscal Year Research-status Report

複合電子顕微分光による窒化アルミニウム蛍光体の発光メカニズム解明

Research Project

Project/Area Number 22K04684
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

齊藤 元貴  名古屋大学, 工学研究科, 助教 (00749278)

Project Period (FY) 2022-04-01 – 2025-03-31
Keywords電子顕微鏡 / 蛍光体 / ルミネッセンス / 窒化アルミニウム / ドーパント
Outline of Annual Research Achievements

本研究では、白色LEDに適用可能なAlN基蛍光体の燃焼合成、および複合電子顕微分光を用いた発光メカニズムの解明を目的としている。2022年度は、Eu2O3、Si3N4、Al、希釈材AlNを原料として窒素雰囲気で燃焼合成を行うことで、AlNにEuをドープした青色蛍光体の合成に成功した。電子顕微鏡による観察の結果、Euは、AlN内に形成した積層欠陥にドープされ、そこではSiやOの濃度が増加していることがわかった。即ち、EuのドープにはSiとOが必要であることが明らかとなった。
2023年度は、材料組成を最適化するため、添加するSiとEu濃度を変化させて材料を合成した。合成物中のAlとSiに対するEuの割合を0.5%と固定し、Siの割合を5~20%の範囲で変化させた結果、Si濃度を5%から10%に増加させると発光強度が増加した。しかし、Siを20%まで増加させると発光強度は減少し、α-Si3N4が不純物として形成し、青色と黄色の混ざった発光を示した。電子顕微鏡によるカソードルミネッセンススペクトルとEDSの複合分光分析を行った結果、Euがドープされたα-Si3N4が黄色発光を示し、ここでEuはCa-αSiAlONのCaサイトと同様の位置に侵入固溶していることがわかった。次に、Eu濃度のみを増加させた場合は、発光強度は大きく増加しなかった。EuとSiを同時に増加させた場合は発光強度が著しく向上することがわかった。
一方、カソードルミネッセンスとEDS検出器を搭載した走査電子顕微鏡による分析の結果、蛍光体粒子ごとの組成や発光強度のばらつきが大きく、EuやSiがドープされていない粒子も存在していることがわかった。これは、燃焼合成は加熱時間が短時間であるため元素が十分拡散せずばらつきが生じたためと考えられる。この組成のばらつきを評価するとともに、組成を均一化することが今後必要であることがわかった。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

材料組成を最適化し、発光特性に優れたAlN基蛍光体を合成できたため。また、電子顕微鏡によるカソードルミネッセンスとEDSの複合分光により、不純物粒子の組成と構造、発光特性を明らかにすることができたため。

Strategy for Future Research Activity

2022年度、2023年度はEuドーパントの侵入サイト等、よりミクロな視点から特性の解明を進めてきた。研究を進めていく中で、粒子ごとの組成の違いなど、マクロな観点からの統計的な分析が、特性を制御する上で重要であることがわかってきた。今後は、合成した粒子ごとの組成や発光特性のばらつきを、統計的な手法を用いて評価検討する予定である。さらに、材料をより均質化するために、液相を形成するフラックスの添加を検討する。

Causes of Carryover

試薬の在庫があり、熱電対等の消耗品が想定より消耗しなかったため、次年度使用額が生じた。今年度は実験用の試薬・消耗品の購入、論文投稿、解析ソフトのアップデートに使用する予定である。

  • Research Products

    (1 results)

All 2023

All Presentation (1 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results)

  • [Presentation] Modifying Commercial Table-Top SEM for Visible-Light Emission Spectral Imaging2023

    • Author(s)
      Takuma Kawamura, Genki Saito, Shunsuke Muto
    • Organizer
      20th International Microscopy Congress
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2024-12-25  

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