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2022 Fiscal Year Research-status Report

高信頼化に向けたメムキャパシタ脳型コンピュータ設計基盤

Research Project

Project/Area Number 22K11954
Research InstitutionKyoto Institute of Technology

Principal Investigator

新谷 道広  京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 准教授 (80748913)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 中島 康彦  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (00314170)
木村 睦  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 客員教授 (60368032)
Project Period (FY) 2022-04-01 – 2025-03-31
Keywordsニューラルネットワーク / メムキャパシタ / 専用ハードウェア / 高信頼化
Outline of Annual Research Achievements

本研究であ、メムキャパシタSPICEシミュレーションモデルを開発するとともに、そのシミュレーション結果を取り込んだ高信頼化設計環境を構築する。

今年度は、1) メムキャパシタのSPICEモデリング技術開発、2) 超次元コンピューティングによる推論アーキテクチャ開発に取り組んだ。1) について、ガウス過程を用いた機械学習ベースのSPICEモデリング技術を開発した。ガウス過程は、測定データのみに基づいたノンパラメトリックな手法であり、測定データさえ入手可能であれば、Verilog-Aに変換できる環境を構築した。まずはメモリスタに対して適用し、他で提案されたLSTMを用いた手法よりも、高速かつ高精度にモデル化できることを示した。現在、メムキャパシタについてモデル化を行っている。2)について、メムキャパシタを搭載する脳型アーキテクチャとして超次元コンピューティングを検討している。メムデバイスでの実装を踏まえ、信頼性の課題となる箇所を検討した。

さらには、本研究で得た機械学習の学習アルゴリズムに関する知見を活かして、集積回路の早期歩留まり予測手法の開発や、テストコスト削減手法を提案し、研究成果を挙げている。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

モデリング環境を構築できたことで、実測データさせあれば任意のメムデバイス素子をモデル化できる。

Strategy for Future Research Activity

次年度は超次元コンピューティング回路へ実装した場合について、さらに検討を深める。

Causes of Carryover

国際会議への発表を計画していたが、不採録となり参加できなくなったため、この分の旅費が浮いた。この費用は回路試作等に充て、採録確度を上げるよう努める。

  • Research Products

    (6 results)

All 2023 2022

All Presentation (6 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results)

  • [Presentation] ガウス過程回帰に基づくLSI テストにおける適応的良品判定基準決定手法2023

    • Author(s)
      五枝大典, 中村友紀, 梶山賀生, 栄木誠, 新谷道広
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
  • [Presentation] ガウス過程を用いた機械学習に基づくメモリスタモデリングの高速化2023

    • Author(s)
      新谷悠太, 井上美智子, 新谷道広
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
  • [Presentation] 低消費電力デバイスのためのプログラマブルな二値超次元計算アクセラレータ2023

    • Author(s)
      井阪友哉, 坂口生有, 井上美智子, 新谷道広
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
  • [Presentation] Wafer-Level Characteristic Variation Modeling Considering Systematic Discontinuous Effects2023

    • Author(s)
      Takuma Nagao, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Makoto Eiki, Michiko Inoue, and Michihiro Shintani
    • Organizer
      Proc. of IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] ガウス過程を用いたウェハーレベル特性モデル化手法のカーネル関数選択に関する実験的検討2022

    • Author(s)
      廣江達也, ミアリアーズウルハック, 新谷道広
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサエティ大会
  • [Presentation] Accurate Failure Rate Prediction Based on Gaussian Process Using WAT Data2022

    • Author(s)
      Makoto Eiki, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Michiko Inoue, and Michihiro Shintani
    • Organizer
      Proc. of IEEE International Test Conference (ITC)
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2023-12-25  

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