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2023 Fiscal Year Research-status Report

高信頼化に向けたメムキャパシタ脳型コンピュータ設計基盤

Research Project

Project/Area Number 22K11954
Research InstitutionKyoto Institute of Technology

Principal Investigator

新谷 道広  京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 准教授 (80748913)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 中島 康彦  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (00314170)
木村 睦  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 客員教授 (60368032)
Project Period (FY) 2022-04-01 – 2025-03-31
Keywordsニューラルネットワーク / メムキャパシタ / 専用ハードウェア / 高信頼化 / ガウス過程
Outline of Annual Research Achievements

メムキャパシタによる脳型コンピュータはこれまでの計算基盤を刷新する最重要技術の1つとして期待を集めているが、製造不安定に起因する信頼性課題により大規模化に重大な課題を抱えており、従来計算規模を超える目処は立っていない。今年度は、メムキャパシタの特性モデル化に取り組んだ。まずは、ネット上で公開されているメモリスタを題材に、機械学習の1種であるガウス過程を用いてモデル化を試みた。従来、メメモリスタを用いた機械学習によるモデル化はLSTMを用いた手法があったが、ガウス過程のスパース近似を用いることで、LSTMよりも2000倍以上高速にモデル化できることを示した。さらに、多値を取りうるメムキャパシタを開発し、上記メモリスタと同様にモデル化できることを示した。これを用いてホップフィールドネットワークをSPICEシミュレーション上に構築し、学習および推論を実行できることを示した。さらに、メムキャパシタのアプリケーション例として超次元コンピュータを検討している。まずは、FPGA上に実装可能な電力効率に優れたアクセラレータを開発した。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

任意のメムデバイス素子をモデル化できる環境を立ち上げた。

Strategy for Future Research Activity

今後はさらに大規模なアプリケーション回路に対して検証を行う。

Causes of Carryover

年度末に出張予定であったがこれを見送ったことで、次年度使用することとした。

  • Research Products

    (12 results)

All 2024 2023

All Journal Article (8 results) (of which Peer Reviewed: 8 results) Presentation (4 results)

  • [Journal Article] EcoFlex-HDP: High-Speed and Low-Power and Programmable Hyperdimensional-Computing Platform with CPU Co-processing2024

    • Author(s)
      Yuya Isaka, Nau Sakaguchi, Michiko Inoue, Michihiro Shintani
    • Journal Title

      Proc. of IEEE Design, Automation and Test in Europe (DATE)

      Volume: - Pages: -

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] ccelerating Machine Learning-Based Memristor Compact Modeling Using Sparse Gaussian Process2024

    • Author(s)
      Yuta Shintani, Michiko Inoue, Michihiro Shintani
    • Journal Title

      Proc. of IEEE Design, Automation and Test in Europe (DATE)

      Volume: - Pages: -

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Wafer-Level Characteristic Variation Modeling Considering Systematic Discontinuous Effects2024

    • Author(s)
      NAGAO Takuma、NAKAMURA Tomoki、KAJIYAMA Masuo、EIKI Makoto、INOUE Michiko、SHINTANI Michihiro
    • Journal Title

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      Volume: E107.A Pages: 96~104

    • DOI

      10.1587/transfun.2023KEP0010

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Efficient Wafer-level Spatial Variation Modeling for Multi-site RF IC Testing2024

    • Author(s)
      MIAN Riaz-ul-haque、NAKAMURA Tomoki、KAJIYAMA Masuo、EIKI Makoto、SHINTANI Michihiro
    • Journal Title

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      Volume: - Pages: -

    • DOI

      10.1587/transfun.2023EAP1115

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Improving Efficiency and Robustness of Gaussian Process Based Outlier Detection via Ensemble Learning2023

    • Author(s)
      Eiki Makoto、Nakamura Tomoki、Kajiyama Masuo、Inoue Michiko、Sato Takashi、Shintani Michihiro
    • Journal Title

      Proc. of International Test Conference (ITC)

      Volume: - Pages: 132, 140

    • DOI

      10.1109/ITC51656.2023.00029

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Lifetime Improvement Method for Memristor-Based Hyperdimensional Computing Accelerator2023

    • Author(s)
      Iwasaki Tetsuro、Shintani Michihiro
    • Journal Title

      Proc. of IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)

      Volume: - Pages: -

    • DOI

      10.1109/IMFEDK60983.2023.10366339

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Feasibility Study of Incremental Neural Network Based Test Escape Detection by Introducing Transfer Learning Technique2023

    • Author(s)
      Takaya Ayano、Shintani Michihiro
    • Journal Title

      Proc. of IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)

      Volume: - Pages: -

    • DOI

      10.1109/ITC-Asia58802.2023.10301182

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Experimental Study of Pass/Fail Threshold Determination Based on Gaussian Process Regression2023

    • Author(s)
      Daisuke Goeda, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Makoto Eiki, Takashi Sato, Michihiro Shintani
    • Journal Title

      Proc. of Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI)

      Volume: - Pages: -

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] ガウス過程回帰に基づく薄膜強誘電体メムキャパシタのモデル化と評価2024

    • Author(s)
      浦田涼雅, 篠田太陽, 木村睦, 新谷道広
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
  • [Presentation] 誤り検出と冗長救済によるメモリスタ超次元コンピューティング推論アクセラレータの長寿命化2023

    • Author(s)
      岩崎哲朗, 新谷道広
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
  • [Presentation] 転移学習を用いた自己符号化器による逐次見逃し故障 LSI 検出2023

    • Author(s)
      高谷彩乃, 新谷道広
    • Organizer
      電子情報通信学会技術研究報告 (VLSI設計技術研究会)
  • [Presentation] 機械学習に基づく薄膜メムキャパシタのモデル化に関する一考察2023

    • Author(s)
      浦田涼雅, 木村睦, 新谷道広
    • Organizer
      情報処理学会 SLDM研究発表会 (SLDM WIP Forum 2023)

URL: 

Published: 2024-12-25  

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