2013 Fiscal Year Annual Research Report
極表面分析用全反射減衰遠紫外分光分析装置の開発と高分子極表面分析への応用
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23350037
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| Research Institution | Kwansei Gakuin University |
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Principal Investigator |
尾崎 幸洋 関西学院大学, 理工学部, 教授 (00147290)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
佐藤 春実 神戸大学, 人間発達環境学研究科, 准教授 (10288558)
森澤 勇介 近畿大学, 理工学部, 講師 (60510021)
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| Project Period (FY) |
2011-04-01 – 2014-03-31
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| Keywords | 遠紫外分光 / ポリマー / 表面分析 / 全反射吸収 / ATR / ポリエチレン / 電子状態 / 流動ベリー遷移 |
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| Research Abstract |
高分子の極表面の分析を行うために報告者らは、自ら開発した表面わずか数十nm程度の電子スペクトルの情報が取得可能な全反射減衰全反射吸収-遠紫外（ATR-FUV）分光器を用い、ポリエチレンのATR-FUVスペクトル測定(145-250 nm)を行った。密度の異なる18種類のポリエチレン(high-density polyethylenes (HDPEs), linear low-density polyethylenes (LLDPEs), low-density polyethylenes (LDPEs))のATRスペクトルと透過スペクトルの比較、液体、固体アルカンとの比較、異なるサンプル作製法での比較から、電子状態と表面状態の変化の相関を得た。また、量子化学計算を用いてスペクトル変化がどのような物性や構造変化によるものか明らかにし、新しい分光分析法における基礎を確立した。HDPEs と LDPEs は155 nm 近傍に強いバンドを与えた。このバンドはHOMO から Rydberg 3p への遷移とHOMO-1から Rydberg 3s への遷移の重なりと帰属した。 LLDPEs とLDPEs は180-200 nmの領域にもう一本のバンドを与えた。 LLDPEs と LDPEsの透過スペクトルは185 nm 近傍にバンドを与えた。このバンドの強度は結晶化度の増大とともに減少した。従ってこのバンドはアモルファス由来であると示唆された。185 nmバンドの強度をATR と透過スペクトルで比較した。その結果これらのポリエチレンの表面は他のどの部分よりアモルファス部分が多いことが分かった。
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| Current Status of Research Progress |
Reason
25年度が最終年度であるため、記入しない。
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| Strategy for Future Research Activity |
25年度が最終年度であるため、記入しない。
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