2012 Fiscal Year Annual Research Report
マトリックス状プローブ柔軟ピエゾ・スマート層による能動受動型欠陥モニタ逆解析手法
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23360055
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| Research Institution | Setsunan University |
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Principal Investigator |
久保 司郎 摂南大学, 理工学部, 教授 (20107139)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
阪上 隆英 神戸大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (50192589)
井岡 誠司 大阪電気通信大学, 工学部, 准教授 (50283726)
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| Project Period (FY) |
2011-04-01 – 2014-03-31
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| Keywords | 非破壊評価 / 破壊力学 / 欠陥同定 / 電気ポテンシャル法 / ピエゾフィルム / スマートマテリアル / パルスエコー法 |
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| Research Abstract |
本研究の目的は、ピエゾフィルム上にマトリックス状に探触子を配置したスマート層を構成し、欠陥等を有する物体に貼付することにより、負荷のもとで受動的にピエゾフィルム上に表れる電気ポテンシャル分布を受動的に計測し、能動的な音響発振と受信を多点探触子間で行い3次元き裂・欠陥をモニタする、マトリックス状探触子柔軟ピエゾ・スマート層による能動受動型３次元(3D)欠陥モニタ逆解析手法を確立することにある。
平成２４年度には、まず受動型電気ポテンシャルCT法の適用性について、試験片の複数の表面に貼付された複数のピエゾフィルムの上の電気ポテンシャル分布を用いたき裂の同定について検討を行った。その結果、複数のピエゾフィルムを用いた場合には、単数のピエゾフィルムを用いた場合に比べて良好な推定結果が得られる見通しが得られた。
また、ピエゾフィルムとフレキシブル基盤を組み合わせることによりスマート層を構成し、スマート層を貼付したき裂試験片に対して、能動型パルスエコー法を適用した。まず超音波の送信および受信を一つの探触子で行なう一探触子法を用いることにより、各探触子の下方にき裂が存在するか否かを判定することができることを確認した。複数の探触子から時間差をおいてパルスを発振する能動型パルスエコー法の適用性についても検討を行った。パルス発振の時間差を調整することにより、複数の探触子から発信された超音波が干渉をはじめることがわかった。このときの時間差を用いて、き裂の同定ができる見通しが得られた。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
非接触表面電位計の納入が遅れてはいるが、本研究の基礎となる受動型電気ポテンシャルCT法および能動型パルスエコー法の双方について、所期の成果が得られている。
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| Strategy for Future Research Activity |
受動型電気ポテンシャルCT法および能動型パルスエコー法の双方について、初期の成果が得られているため、大きな方針変更はない。複数のプローブの活用を中心に、検討を進める。
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