2013 Fiscal Year Annual Research Report
マルチサイクル過渡故障に耐性を持つディジタルシステムの動作合成法
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23500065
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| Research Institution | Hiroshima City University |
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Principal Investigator |
井上 智生 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授 (40252829)
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| Keywords | ソフトエラー / 高位合成 / 耐過渡故障設計 / コントローラ合成 / スケジューリング / バインディング / 誤り訂正・検出 |
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| Research Abstract |
本研究では，一時的な故障（過渡故障）に耐性を持つディジタルシステムの高位合成法を提案する．近年の半導体技術の発展による微細化のために，複数サイクル継続するソフトエラーの発生が懸念されている．本研究ではそのようなエラーの原因をマルチサイクル過渡故障としてモデル化し，それに耐性を持つシステムの合成法の提案を目指している．最終年度の平成25年度では，主に２つの課題に取り組み，成果を得た．
(1) 誤り訂正・誤り検出可能なデータパスを指向したスケジューリングアルゴリズム：前年度に提案した「誤り訂正可能なデータパスを指向したスケジューリングアルゴリズム」をもとに，k_c サイクル故障による誤りを訂正するとともに，k_d サイクル故障による誤りを検出することを可能とするデータパスの合成において，リソース（演算器数）を最小にするためのスケジューリングアルゴリズムを提案した．
(2) 誤り訂正・誤り検出可能なコントローラの設計法：k_c サイクル故障訂正可能・k_d サイクル検出可能なコントローラの設計法を提案した．データパス部の耐過渡故障性（誤り訂正機構，誤り検出機構）を活用することで，コントローラ部の耐故障化のためのオーバーヘッドを最小化するものである．
これらの手法は，先に提案したバインディングアルゴリズムと組み合わせることで，単純な３重化システムよりずっと小さいリソースで耐マルチサイクル過渡故障システムが実現できる．
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