2013 Fiscal Year Annual Research Report
間欠動作型故障検出システムを用いたアナログ混載ＬＳＩの高信頼化
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23500067
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| Research Institution | Kochi University of Technology |
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Principal Investigator |
橘 昌良 高知工科大学, 工学部, 教授 (50171715)
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| Keywords | ディペンダブルコンピューティング / Analog-Mixed-Signal |
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| Research Abstract |
本研究はAMS(Analog Mixed-Signal)システムLSIのアナログ回路の故障検出をシステムの動作中にも行える機構の開発を主たる目的としている。システムが動作中であるが検査対象となるアナログ回路の動作を必要としない時間帯を利用してテストを進めることで、システムの動作状態での動作異常の検出を行うことが出来るシステムを提案し、LSI化することによりその有効性を実証することである。この方式によれば、異常の発生した回路をあらかじめ用意されている正常な回路と切り替えることで、システム全体の信頼性を向上させることが出来る。
平成２５年度は、昨年度の研究成果であるＤＡコンバータのテストに関して、論文を発表した。また、ＡＤコンバートしてのΔΣ変調器のＢＩＳＴに関して、テスト用のモチーフとなる回路の設計および作成を行い、その性能を確認した。このΔΣ変調器やスイッチ・キャパシタ回路で多用されるスイッチについて、オン抵抗が低く、ひずみの少ないブートストラップスイッチ回路の設計および作成を行い、その性能を確認し、これらの回路についてのＢＩＳＴ方式の検討を開始した。さらに、これまでの研究により、検出が難しいことがわかっているバイアス回路のゲートオープン故障に関して、バイアスの基準となる電圧源の出力をテスト時に変動させる方式を着想し、そのテスト用のモチーフとなるバンドギャップレファレンス回路の設計および作成を行い、性能の確認を行った。
以上の研究成果についての発表および論文はが１件、国内学会での発表が２件ある。
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