• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2012 Fiscal Year Research-status Report

アーク放電に接している電気接点表面の高速度分光撮影による接点消耗過程の研究

Research Project

Project/Area Number 23560322
Research InstitutionShizuoka University

Principal Investigator

関川 純哉  静岡大学, 工学部, 准教授 (80332691)

Keywordsアーク放電 / 電気接点 / 高速度カメラ / 電磁リレー / 接触 / 分光 / コネクタ
Research Abstract

平成23年度までに高速度分光撮影の基本的な測定手法を確立した。開離時アーク発生中の電気接点表面の画像と開離時アークの画像を、異なる2台の高速度カメラで同時撮影することができるようになった。各画像はそれぞれ特定の波長のみを撮影することによって得られた。平成24年度では、特に接点表面状態の画像を詳しく解析することで、接点表面の状態変化を開離時アークの移動特性とを直接関連付ける観点から、接点表面の状態が進展する過程を調べた。
接点材料としては純銀(99.99%)を用いた。試料接点対の形状は直径5mm、長さ20mmの円柱であり、その端面を接触面として開離アークを発生させた。被撮影側の接点表面は平面、対になるもう片側の接点表面は曲面とした。家庭用直流給電や自動車用電装品の中負荷領域を想定して、電源電圧は直流48V、回路電流は10A程度とした。高速度カメラの撮影速度は1000コマ/秒であり、二台のカメラの撮影タイミングは同期している。
接点表面の画像から、表面状態の変化が起こった位置を画像解析によって特定し、開離時アーク発生後の接点表面状態と比較した。画像解析の方法としては、異なる時刻で撮影された画像の差分を計算した。その結果、接点表面上に残された痕跡が形成された時刻を特定することができた。この時、開離時アークのアーク足はその痕跡部分には直接触れていなかった。これにより、開離時アークが直接接している位置の接点表面の変化だけではなく、直接接していない領域が形成される様子が分かるようになった。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

高速度分光撮影による接点表面状態と開離時アークとの同時撮影の結果から、接点表面上での痕跡の形成過程が分かるようになったことから、本年度の目的は達成できている。

Strategy for Future Research Activity

本年度の成果を発展させ、計画に沿って他の実験条件での実験を実施する。接点表面撮影のための開離時アークの長さは、これまでに実施した実験条件の範囲内で十分確保できることが分かった。しかし、開離時アークの長さが短い場合について、興味深い結果が得られそうであるため、その撮影に挑戦する。アーク長さが0.1mm程度と短い時期において、開離時アークの放電モードが変化していると予想されるため、この変化の前後での接点表面状態の撮影ができれば消耗過程の理解をさらに深めることができると考えられる。

Expenditure Plans for the Next FY Research Funding

該当なし。

  • Research Products

    (16 results)

All 2013 2012 Other

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (13 results)

  • [Journal Article] 壁により移動範囲を制限される開離時アークの磁気吹き消し2013

    • Author(s)
      小野仁、関川純哉
    • Journal Title

      電子情報通信学会、和文論文誌C

      Volume: J96-C Pages: 未定

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Position and Shape of Break Arcs Driven by Transverse Magnetic Field2012

    • Author(s)
      Tomoaki SASAKI, Junya SEKIKAWA, and Takayoshi KUBONO
    • Journal Title

      IEICE Trans. Electron.

      Volume: E95-C Pages: 1527-1530

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Arc Duration of Break Arcs Magnetically Blown-Out in a DC 450 V Resistive Circuit2012

    • Author(s)
      Hitoshi ONO, Junya SEKIKAWA, and Takayoshi KUBONO
    • Journal Title

      IEICE Trans. Electron.

      Volume: E95-C Pages: 1515-1521

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 開離時アーク発生中の接点表面とアーク放電光の高速度同時撮影

    • Author(s)
      関川純哉
    • Organizer
      電子情報通信学会 2012 年ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      富山大学(富山県)
  • [Presentation] 開離時アークに接している電気接点表面の高速度分光撮影方法

    • Author(s)
      中村真人・関川純哉
    • Organizer
      電子情報通信学会 2012 年ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      富山大学(富山県)
  • [Presentation] 磁気吹き消しされる開離時アークの輝点の動き

    • Author(s)
      小野 仁・関川純哉
    • Organizer
      電子情報通信学会 2012 年ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      富山大学(富山県)
  • [Presentation] 横磁界によって駆動される開離時アークの移動特性

    • Author(s)
      佐々木友彰・関川純哉
    • Organizer
      電子情報通信学会 2012 年ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      富山大学(富山県)
  • [Presentation] 開離時アーク発生中の陽極表面とアーク放電光との高速度分光撮影

    • Author(s)
      関川純哉
    • Organizer
      2013年 電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      岐阜大学(岐阜県)
  • [Presentation] 横磁界によって駆動される開離時アークの移動特性に対する接点表面形状の影響

    • Author(s)
      佐々木友彰・関川純哉
    • Organizer
      2013年 電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      岐阜大学(岐阜県)
  • [Presentation] 直流450V抵抗性負荷回路内において磁気吹き消しされる開離時アークの引き伸ばし速度

    • Author(s)
      小野 仁・関川純哉
    • Organizer
      2013年 電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      岐阜大学(岐阜県)
  • [Presentation] 直流高電圧回路での開離時アークの長さと継続時間の関係

    • Author(s)
      小西弘純・関川純哉
    • Organizer
      2013年 電子情報通信学会総合大会
    • Place of Presentation
      岐阜大学(岐阜県)
  • [Presentation] High-Speed Spectroscopic Imaging of Contact Surfaces Eroded by Break Arcs

    • Author(s)
      Junya Sekikawa
    • Organizer
      The 58th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts
    • Place of Presentation
      Doubletree by Hilton Portland(アメリカ)
  • [Presentation] 壁により移動範囲を制限される開離時アークの磁気吹き消し

    • Author(s)
      小野 仁、関川純哉
    • Organizer
      電子情報通信学会,機構デバイス研究会
    • Place of Presentation
      機械振興会館(東京都)
  • [Presentation] Real Time Spectroscopic Observation of Contact Surfaces being Eroded by Break Arcs

    • Author(s)
      Masato Nakamura・Junya Sekikawa
    • Organizer
      IEICE, International Session on Electro-Mechanical Devices 2012 (IS-EMD2012)
    • Place of Presentation
      千葉工業大学(千葉県)
  • [Presentation] Arc Length of Break Arcs Magnetically Blown-out at Arc Extinction

    • Author(s)
      Hitoshi Ono・Junya Sekikawa
    • Organizer
      IEICE, International Session on Electro-Mechanical Devices 2012 (IS-EMD2012)
    • Place of Presentation
      千葉工業大学(千葉県)
  • [Presentation] Break Arcs Occurring between Ag and C Contact Pairs when Transverse Magnetic Field is Applied

    • Author(s)
      Tomoaki Sasaki・Junya Sekikawa
    • Organizer
      IEICE, International Session on Electro-Mechanical Devices 2012 (IS-EMD2012)
    • Place of Presentation
      千葉工業大学(千葉県)

URL: 

Published: 2014-07-24  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi