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2012 Fiscal Year Research-status Report

化学発光測定による生分解性高分子の劣化評価

Research Project

Project/Area Number 23560373
Research InstitutionWaseda University

Principal Investigator

平井 直志  早稲田大学, 理工学術院, 講師 (30329122)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 大木 義路  早稲田大学, 理工学術院, 教授 (70103611)
Keywords化学発光 / 酸化誘導期間 / 添加剤 / 生分解性高分子 / カルボニル基 / 走査型プローブ顕微鏡
Research Abstract

環境対応型絶縁材料として有望な生分解性高分子の酸化劣化評価は、実用化において非常に重要である。そこで、高分子の酸化評価に有用な手法である化学発光測定により、ポリ乳酸、ポリブチレンサクシネート、ポリブチレンサクシネートアジペート、ポリブチレンアジペートテレフタラートの5種の生分解性高分子と比較試料として低密度ポリエチレンの酸化過程を調べた。この結果、酸化開始後の発光スペクトル挙動は全ての試料で同様の傾向を示した。以上より、生分解性高分子の酸化進行過程は汎用高分子と同様であり、化学発光測定が生分解性高分子においても酸化評価手法として適用可能であることを確認した。
難燃エチレンプロピレンゴム(FR-EPR)について、化学発光(CL)を測定したところ、他の多くの高分子には見られない特異なCL挙動を示すことが分かった。すなわち,180℃の加熱開始と同時に、CLは大きな強度で始まり単調に減少したあとピークを示す。この後者のピークが酸化誘導期間(OIT)であると仮定すると、OIT以前には発光しない生分解性高分子や汎用高分子のポリエチレンなどと比べ、対称的なCL挙動である。OIT以前の発光は,試料に含まれる難燃剤等に起因する可能性が考えられるが、今後の検証が必要である。
さらに劣化進行過程における試料表面の状態を走査型プローブ顕微鏡(SPM)により観察した。具体的には難燃エチレンプロピレンゴムに熱・放射線同時劣化を施し,表面状態をSPMにおけるタッピングモードで観測した。その結果,粗さの変化は少ないが,表面は硬化していることがわかった。さらに,FT-IR-ATR測定により,表面の硬化は多重結合の増加に起因しており,酸化はほとんど進行していないことがわかった。また,熱劣化した架橋ポリエチレンと比較することにより,両者の劣化形態の差をミクロに捉えられた。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

生分解性高分子の酸化進行過程は汎用高分子と同様であり、化学発光測定が生分解性高分子においても酸化評価手法として適用可能であることを確認した。さらに、これまで添加剤由来の化学発光は殆ど報告されていないが、難燃剤由来の化学発光の可能性を確認した。

Strategy for Future Research Activity

これまで酸化防止剤等の添加剤も化学発光すると予想されていたにも拘わらずその発光を測定した報告は殆ど無い。難燃剤の化学発光の可能性を示唆する結果を得られたことより、種々の難燃剤を添加した試料について、難燃剤の発光の可能性を検証し、さらに発光種となる化学構造の特定に努める。

Expenditure Plans for the Next FY Research Funding

化学発光測定と走査型プローブ顕微鏡(SPM)による表面構造観察により添加剤の分布を測定し、添加剤揮散、表面観察等を総合的に評価することで、添加剤の化学発光および酸化機構に与える影響を明らかとする。主な消耗品としてはSPMの探針、CL試料台等を購入する。

  • Research Products

    (5 results)

All 2012

All Presentation (5 results)

  • [Presentation] 生分解性高分子の酸化時の化学発光2012

    • Author(s)
      高野さよ, 平井直志, 大木義路
    • Organizer
      2012年放電学会年次大会講演論文集
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20121201-20121201
  • [Presentation] 化学発光測定による架橋および未架橋ポリエチレンの酸化劣化評価2012

    • Author(s)
      平井直志, 山田貴之, 高野さよ, 大木義路
    • Organizer
      第43回電気電子絶縁材料システムシンポジウム予稿集
    • Place of Presentation
      三島
    • Year and Date
      20120910-20120912
  • [Presentation] Chemiluminescence as a Clear Diagnostic Tool of Polymer Oxidation2012

    • Author(s)
      Yoshimichi Ohki and Naoshi Hirai
    • Organizer
      2012 IEEE 10th International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials
    • Place of Presentation
      Bangalore
    • Year and Date
      20120724-20120728
  • [Presentation] 走査型プローブ顕微鏡による熱・放射線同時劣化難燃エチレンプロピレンゴムの表面観察2012

    • Author(s)
      仁木貴之, 平井直志, 大木義路
    • Organizer
      平成25年電気学会全国大会講演論文集
    • Place of Presentation
      名古屋
    • Year and Date
      20120320-20120322
  • [Presentation] 難燃エチレンプロピレンゴムの化学発光の特異性2012

    • Author(s)
      高野さよ, 平井直志, 大木義路
    • Organizer
      平成25年電気学会全国大会講演論文集
    • Place of Presentation
      名古屋
    • Year and Date
      20120320-20120322

URL: 

Published: 2014-07-24  

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