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2013 Fiscal Year Annual Research Report

化学発光測定による生分解性高分子の劣化評価

Research Project

Project/Area Number 23560373
Research InstitutionWaseda University

Principal Investigator

平井 直志  早稲田大学, 理工学術院, 講師 (30329122)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 大木 義路  早稲田大学, 理工学術院, 教授 (70103611)
Keywords化学発光 / 生分解性高分子 / 酸化防止剤 / 難燃剤 / 酸化誘導期間 / 金属水酸化物 / 放射線 / 引張破断伸び
Research Abstract

これまで、ポリオレフィン系高分子や生分解性高分子における化学発光(CL)測定においては、高分子の酸化はCLを呈するが、酸化防止剤の酸化はCLを生じないと思われてきた。しかし、難燃(FR)エチレンプロピレンジエン共重合体(EPDM)では、前述の材料では観測されなかったCLが観測された。このCL由来推定のために、EPDMのCL挙動に及ぼすイオウ系酸化防止剤、ハロゲン系難燃剤、金属水酸化物、耐放射線性付与剤、イオントラッパーの影響を調べた結果、大気中180°CでのCL測定により、全試料で測定開始時からCLが検出された。
難燃剤としての金属水酸化物のみからのCLの検証のために、Mg(OH)2についてCL測定した。Mg(OH)2の粉体は加熱初期に大きなCLを呈し、Mg(OH)2を添加したEPDMは、未添加EPDMよりも大きなCLを呈する。この結果は、(1)Mg(OH)2の粉体は表面から酸化されるときに大きなCLを呈する、(2)Mg(OH)2がEPDM中に添加されているときには、酸素の供給が追いつかないため、CLは遅れて発生する、という2つの事を示唆しているとより、Mg(OH)2がCLを呈することは確実と思われる。
熱のみ、γ線照射のみ、加熱下γ線照射したFR-EPDMシートの表面付近、中央部、その中間部の3点について、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の位相遅れにより硬さを評価した。その結果、(1)加熱のみでは試料の硬化進行は遅い、(2)室温γ線照射により表面が硬化する、(3)加熱中にγ線を照射することは硬化を内部まで促進することがわかった。これらの試料のCL測定から求めたOITや引張破断伸びでは、劣化の種類における差は確認できるが、厚さ方向の違いを把握することは難しい。よって、SPMは微小領域における劣化評価法として有用であると思われる。

  • Research Products

    (4 results)

All Other

All Presentation (4 results)

  • [Presentation] 走査型プローブ顕微鏡による難燃エチレンプロピレンゴム内部の劣化状況観察

    • Author(s)
      仁木貴之
    • Organizer
      平成25年電気学会基礎・材料・共通部門大会
    • Place of Presentation
      横浜国立大学
  • [Presentation] 異なる添加剤を含むエチレンプロピレンゴムにおける化学発光測定

    • Author(s)
      平井直志
    • Organizer
      第44回電気電子絶縁材料システムシンポジウム
    • Place of Presentation
      穂の国とよはし芸術劇場
  • [Presentation] 酸化防止剤と耐放射線性付与剤を含まないエチレンプロピレンジエン共重合体の化学発光

    • Author(s)
      平井直志
    • Organizer
      平成26年電気学会全国大会
    • Place of Presentation
      愛媛大学
  • [Presentation] 化学発光より推定した熱・放射線同時劣化難燃EPDMの酸化誘導時間

    • Author(s)
      平井直志
    • Organizer
      マテリアルライフ学会第25回研究発表会
    • Place of Presentation
      北陸先端科学技術大学院大学東京サテライト

URL: 

Published: 2015-05-28  

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