• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2013 Fiscal Year Annual Research Report

ばらつきに対応したSRAMの動作安定化に関する研究

Research Project

Project/Area Number 23560423
Research InstitutionOsaka Institute of Technology

Principal Investigator

牧野 博之  大阪工業大学, 情報科学部, 教授 (50454038)

KeywordsSRAM / ばらつき / 動作安定化 / しきい値 / 電圧 / スピードセンサ / リングオシレータ
Research Abstract

2013年度は、前年度未完成であったしきい値を検知するためのスピードセンサの開発を重点的に行った。p型MOSFETとn型MOSFETのサイズ比を変化させた3種類のリングオシレータに対して、サイズ比や電源電圧などの条件を様々に変化させてシミュレーションを行うことにより、しきい値電圧に対する動作周波数が完全に1対1対応となる条件を見出した。続いて、測定した動作周波数から2次関数への近似を用いてしきい値電圧を逆算する方法を開発し、リングオシレータの動作周波数から容易にしきい値電圧を検知する手法を確立した。さらに検知精度の向上にも取り組み、±5mVの高精度なしきい値の検知を可能とした。
これと並行して、電源電圧を制御するための電源回路の検討を行い、電圧を連続的に変化させることのできるカレントミラー型の電圧変換器を採用した。昨年度設計したSRAM全体回路に対して、ワード線の電源、メモリセルの電源、メモリセルのGNDのそれぞれに、この電圧変換器を組み込んで最終的なSRAM回路を完成させた。最後に、SRAM全体をシミュレーションで動作させ、各電源回路をコントロールして最適電圧を与えることにより、通常の電圧条件では動作不可能であったSRAMが動作可能となることを確認した。
以上のように、2011年度から2012年度までに明らかにしたしきい値電圧の仕上がりに対するSRAMの最適電圧の対応関係、および2013年度に確立したスピードセンサによるしきい値の仕上がり値の検知方法を組み合わせることにより、しきい値のばらつきに応じて電圧をコントロールすることによって従来動作不良となっていたSRAMの動作安定性を改善し、動作させることが可能となり、本研究の目的が達成された。本研究成果を用いることによって、SRAMの動作歩留まりを大幅に改善することができる。

  • Research Products

    (6 results)

All 2014 2013

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (4 results)

  • [Journal Article] ANALYSIS OF VOLTAGE, CURRENT AND ENERGY DISSIPATION OF STEPWISE ADIABATIC CHARGING OF A CAPACITOR USING A NONRESONANT INDUCTOR CURRENT2014

    • Author(s)
      Shunji Nakata, Hiroshi Makino, Ryota Honda, Masayuki Miyama, and Yoshio Matsuda
    • Journal Title

      Journal of Circuits, Systems, and Computers

      Volume: Volume 23, No. 3 Pages: pp.1450039/1-21

    • DOI

      10.1142/S021812661450039X

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Increase in Read Noise Margin of Single-bit-line SRAM using Adiabatic Change of Word Line Voltage2014

    • Author(s)
      Shunji Nakata, Hiroki Hanazono, Hiroshi Makino, Hiroki Morimura, Masayuki Miyama, and Yoshio Matsuda
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

      Volume: Volume 22, Issue 3 Pages: pp.686-690

    • DOI

      10.1109/TVLSI.2013.2247642

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Estimation of Threshold Voltage from Frequency of Ring Oscillator2014

    • Author(s)
      Takuya Matsumoto, Hroshi Makino, Tsutomu Yoshimura, Shuhei Iwade, and Yoshio Matsuda
    • Organizer
      IEEE The 2014 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai(IMFEDK2014)
    • Place of Presentation
      Ryukoku University
    • Year and Date
      20140619-20140620
  • [Presentation] トランジスタの閾値電圧検知手法の提案2013

    • Author(s)
      松本 拓也、大東 士朗、牧野 博之、吉村 勉、岩出 秀平、松田 吉雄
    • Organizer
      2013年度電気関係学会関西連合大会
    • Place of Presentation
      大阪電気通信大学
    • Year and Date
      20131116-20131117
  • [Presentation] エネルギー散逸のないステップ電圧生成回路を用いたキャパシタの高効率充電2013

    • Author(s)
      細川 淳平、中田 俊司、牧野 博之、吉村 勉、岩出 秀平、深山 正幸、松田 吉雄
    • Organizer
      2013年度電気関係学会北陸支部連合大会
    • Place of Presentation
      金沢大学
    • Year and Date
      20130921-20130922
  • [Presentation] Expansion of SRAM Operation Margin by Adaptive Voltage Supply2013

    • Author(s)
      Kyohei Kishida, Tomohiro Tsujii, Hroshi Makino, Tsutomu Yoshimura, Shuhei Iwade, and Yoshio Matsuda
    • Organizer
      IEEE The 2013 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai(IMFEDK2013)
    • Place of Presentation
      Kansai University
    • Year and Date
      20130605-20130606

URL: 

Published: 2015-05-28  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi