2013 Fiscal Year Annual Research Report
自由電子レーザー利用実験に向けた金属・半導体クラスター源の開発
Project/Area Number |
23600006
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Research Institution | Kyoto University |
Principal Investigator |
永谷 清信 京都大学, 理学(系)研究科(研究院), 助教 (30273436)
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Keywords | 自由電子レーザー / クラスター |
Research Abstract |
FEL実験に向けた試料導入として、超音速ジェットを用いた巨大希ガスクラスター源および、高融点元素クラスター源の開発を進めた。希ガスクラスターの生成には、既存のパルスバルブを用いた装置を改造し、原子数数千から数万程度および、数千万以上となるサイズの異なるクラスターを生成可能な装置を制作した。特に巨大クラスター生成装置では、クラスター源の中のオリフィス形状の最適化を行った。高融点元素クラスター源としては、ナノ秒のパルス幅を持つ高強度YAGレーザーを用いるレーザーアブレーション型の装置を制作し、性能評価を進めた。 上記の装置の内、希ガスクラスター源を日本のXFEL施設SACLAに設置して、アルゴンとキセノンのクラスターについて、XFELと光学レーザーのポンプ-プローブ計測による時分割計測を行った。粒子サイズが数千個程度の希ガスクラスターに、遅延時間を変えながらXFELと赤外レーザーを照射することで、明瞭なイオンや電子信号の増大を観測することに成功した。XFELと赤外レーザーがオーバーラップする際に、XFELによって生成したナノプラズマの表面プラズマ共鳴に起因すると考えられイオン増大を観測した。一方で、ポンプ-プローブ計測の比較的遅い遅延時間において、ナノプラズマ中の電子とイオンの再結合に伴う低価数イオンの増大の観測にも成功した。これらの遅延時間応答は、XFEL強度に加えて、クラスターサイズに対しても顕著な依存性が見られており、実験結果からXFELによるナノプラズマ形成と消滅の時定数を含む詳細なダイナミクスについての議論が可能となると期待される結果が得られた。
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Research Products
(11 results)
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[Journal Article] Pulse delay effect in angular distribution of near-threshold EUV+IR two-photon ionization of Ne2014
Author(s)
S. Mondal, H. Fukuzawa, K. Motomura, T. Tachibana, K. Nagaya, T. Sakai, K. Matsunami, S. Yase, M. Yao, S. Wada, H. Hayashita, N. Saito, C. Callegari, K. Prince, C. Miron, M. Nagasono, K. L. Ishikawa, A. K. Kazansky, N. M. Kabachnik and K. Ueda
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Journal Title
Phys. Rev. A
Volume: 89
Pages: 013415-1,-5
DOI
Peer Reviewed
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[Journal Article] Unusual Under-threshold Ionization of Neon Clusters Studied by Ion Spectroscopy2013
Author(s)
K. Nagaya, A. Sugishima, H. Iwayama, H. Murakami, M. Yao, H. Fukuzawa, X.-J. Liu, K. Motomura, K. Ueda, N. Saito, L. Foucar, A. Rudenko, M. Kurka, K.-U. Kühne, J. Ullrich, A. Czasch, R. Dörner, R. Feifel, M. Nagasono, A. Higashiya, M. Yabashi, T. Ishikawa, T. Togashi, H. Kimura, and H. Ohashi
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Journal Title
J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys.
Volume: 46
Pages: 164023-1,-5
DOI
Peer Reviewed
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[Journal Article] Frustration of photoionization of Ar nanoplasma produced by extreme ultraviolet FEL pulses2013
Author(s)
H Iwayama, K Nagaya, M Yao, H Fukuzawa, X-J Liu, G Pruemper, K Ueda, K Motomura, K. Ueda, N Saito, A Rudenko, L Foucar, M Nagasono, A Higashiya, M Yabashi, T Ishikawa, H Ohashi and H Kimura
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Journal Title
J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys.
Volume: 46
Pages: 164019-1,-5
DOI
Peer Reviewed
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[Journal Article] Deep inner-shell multiphoton absorption by intense x-ray free-electron laser pulses2013
Author(s)
H. Fukuzawa, S.-K. Son, K. Motomura, S. Mondal, K. Nagaya, S. Wada, X.-J. Liu, R. Feifel, T. Tachibana, Y. Ito, M. Kimura, T. Sakai, K. Matsunami, H. Hayashita, 他20名
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Journal Title
Phys. Rev. Lett.
Volume: 110
Pages: 173005-1,-5
DOI
Peer Reviewed
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[Journal Article] Crossover in the Photo-ionization Processes of Ne Clusters with Increasing EUV-FEL Intensity2013
Author(s)
S. Yase, K. Nagaya, Y. Mizoguchi, M. Yao, H. Fukuzawa, K. Motomura, A. Yamada, Ri Ma, K. Ueda, N. Saito, M. Nagasono, T. Togashi, K. Tono, M. Yabashi, T. Ishikawa, H. Ohashi, and Y. Senba
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Journal Title
Phys. Rev. A
Volume: 88
Pages: 043203-1,-5
DOI
Peer Reviewed
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[Presentation] Nano-plasma Formation and Thermal Electron Emission of Neon Clusters Induced by Extreme Ultraviolet Free Electron Laser Pulses2013
Author(s)
K. Nagaya, S. Yase, Y. Mizoguchi, M. Yao, H. Fukuzawa, K. Motomura, A. Yamada, R. Ma, K. Ueda, N. Saito, A. Rouzee , A. Hundertmark, M. Vrakking , P. Johnsson, M. Nagasono, T. Togashi, K. Tono, M. Yabashi, T. Ishikawa, H. Ohashi, Y. Senba.
Organizer
XXVIII International Conference on Photonic, Electronic and Atomic Collisions
Place of Presentation
Lanzhou, China
Year and Date
20130724-30
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[Presentation] Electron Spectroscopic Study of Multiple Photoionization Processes of Xe Clusters by Intense EUV-FEL Pulses2013
Author(s)
K. Nagaya, K. Matsunami, T. Sakai, S. Yase, M. Yao, H. Fukuzawa, K. Motomura, K. Ueda, S. Wada, H. Hayashita,, N. Saito, M. Nagasono, T. Togashi, K. Tono , M. Yabashi, T. Ishikawa, H. Ohashi , Y. Senba.
Organizer
XXVIII International Conference on Photonic, Electronic and Atomic Collisions
Place of Presentation
Lanzhou, China
Year and Date
20130724-30
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