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2013 Fiscal Year Annual Research Report

プラズモンアンテナ型センサを用いた超高分解能固液界面その場解析手法の確立

Research Project

Project/Area Number 23656470
Research InstitutionWaseda University

Principal Investigator

本間 敬之  早稲田大学, 理工学術院, 教授 (80238823)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 柳沢 雅広  早稲田大学, 付置研究所, 教授 (20421224)
齋藤 美紀子  早稲田大学, 付置研究所, 准教授 (80386739)
Keywords固液界面 / 表面増強ラマン散乱 / めっきプロセス / プラズモニクス / 密度汎関数法 / 埋もれた界面 / 分子吸着 / 触媒
Research Abstract

本研究では、0.1nmの深さ分解能をもって固液界面における電気化学反応の1原子・分子層レベルのその場解析を可能とする新規な計測手法を確立し、従来未知であった単分子レベルの固液界面反応の解明に挑戦することを目的としている。
同心円形状の反射型プラズモンアンテナセンサおよび金属ナノ粒子を表面コートした透過型プラズモンセンサを試作し、0.1nm深さ分解能で固液界面を計測する系を開発した。センサはAu,Ag,Cuなどのプラズモン活性金属を用い、高感度で固液界面における吸着分子の表面増強ラマンスペクトルを測定することに成功した。また急峻なプラズモン電界勾配を利用して、固液界面から深さ方向のスペクトル変化を0.1nmの分解能で測定することにも成功した。実証例として、一般にプラズモン励起が弱いとされるNiプラズモンアンテナ上での次亜リン酸吸着状態の測定に成功した。この結果は、種々の金属のセンサとしての適用可能性を示しており、広範な展開が期待できる。また上記の結果は、密度汎関数法により確認することができた。
さらにAuのプラズモンセンサを用いて成長抑制剤のヤヌスグリーンB(JGB)の吸着構造を解析し、JGB分子の電界印加による分解反応の観察に成功した。またビア構造中のJGB溶液中のJGB分子の拡散状態をラマンイメージングで観察することに成功した。ハードディスク表面のサブナノメートル厚のダイヤモンドライクカーボン(DLC)膜と液体潤滑剤の、膜厚方向の結晶および分子構造の変化の測定を行い、窒素添加DLC表面近傍の潤滑油分子の界面吸着構造を0.1nmの深さ測定することに成功した。特に、潤滑膜が0.7nmずつの固着層と流動層から形成されていることを実証した。このように、従来測定が困難であったオングストロームレベルの分解能での固液界面や固固界面の分子構造が簡便に測定できることを明らかにした。

  • Research Products

    (12 results)

All 2013 Other

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (6 results) (of which Invited: 2 results) Patent(Industrial Property Rights) (3 results)

  • [Journal Article] Analysis of hydrazine on a Cu surface with nanoscale resolution using surface enhanced Raman spectroscopy2013

    • Author(s)
      B. Jiang, T. Ouchi, N. Shimano, A. Otomo, M. Kunimoto, M. Yanagisawa, T. Homma
    • Journal Title

      Electrochim. Acta

      Volume: 100 Pages: 317-320

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Raman and DFT study of the reaction of hydrazine and hypophosphite on a Cu surface in the electroless deposition process2013

    • Author(s)
      B. Jiang, S. Wodarz, M. Kunimoto, M. Yanagisawa, T. Homma
    • Journal Title

      Electrochemistry

      Volume: 81 Pages: 674-677

    • DOI

      10.5796/electrochemistry.81.674

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effect of Thiourea on Oxidation of Hypophosphite Ions on Ni Surface Investigated by Raman Spectroscopy and DFT Calculation2013

    • Author(s)
      B. Jiang, M. Kunimoto, M. Yanagisawa, T. Homma
    • Journal Title

      J. Electrochem. Soc.

      Volume: 160 Pages: D366-D371

    • DOI

      10.1149/2.073309jes

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] プラズモンセンサを用いた極薄潤滑膜の化学構造解析

    • Author(s)
      柳沢雅広,齋藤美紀子,本間敬之
    • Organizer
      トライボロジー会議2013春
    • Place of Presentation
      東京
  • [Presentation] 顕微ラマン分光法によるスルーホール内部における添加剤の挙動の観察

    • Author(s)
      加藤 晃,柳沢雅広,本間敬之
    • Organizer
      表面技術協会第125回公演大会
    • Place of Presentation
      福岡
  • [Presentation] プラズモンセサを用いた極薄 DLC膜と潤滑剤分子の相互作用の解析

    • Author(s)
      柳沢雅広,齋藤美紀子,本間敬之
    • Organizer
      トライボロジー会議2013秋
    • Place of Presentation
      福岡
  • [Presentation] Electrochemical Fabrication of Magnetic Nanostructures - analysis, control, and design of deposition processes

    • Author(s)
      T.Homma, S. Wodarz, B. Jiang, M. Kunimoto, M. Yanagisawa
    • Organizer
      224th Meeting of the Electrochemical Society
    • Place of Presentation
      San Francisco, USA
    • Invited
  • [Presentation] Novel Plasmonic SERS Sensor and Its application to Chemical Analysis for Solid/Solid Interfaces

    • Author(s)
      M.Yanagisawa, M.Saito, T.Homma
    • Organizer
      224th Meeting of the Electrochemical Society
    • Place of Presentation
      San Francisco, USA
  • [Presentation] Theoretical and in situ SERS analysis on the electroless deposition processes for fabrication of functional nanostructures

    • Author(s)
      T. Homma, M. Kunimoto, M. Yanagisawa
    • Organizer
      ICSE2013 (1st International Conference on Surface Engineering)
    • Place of Presentation
      Busan, Korea
    • Invited
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 光学デバイスおよび分析装置2013

    • Inventor(s)
      本間敬之、柳沢雅広、斎藤美紀子、三田正弘
    • Industrial Property Rights Holder
      早稲田大学,協同インターナショナル
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      特願2013-246726
    • Filing Date
      2013-11-28
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 光学デバイスおよび分析装置2013

    • Inventor(s)
      本間敬之、柳沢雅広、斎藤美紀子、三田正弘
    • Industrial Property Rights Holder
      早稲田大学,協同インターナショナル
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      特願2013-246727
    • Filing Date
      2013-11-28
  • [Patent(Industrial Property Rights)] めっき装置およびこれを用いたセンサ装置2013

    • Inventor(s)
      本間敬之、柳沢雅広、斎藤美紀子、山本智之、山本渡、小岩仁子
    • Industrial Property Rights Holder
      早稲田大学、山本鍍金試験器
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      特願2013-169504
    • Filing Date
      2013-08-19

URL: 

Published: 2015-05-28  

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