2013 Fiscal Year Annual Research Report
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23700042
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| Research Institution | Toyo University |
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Principal Investigator |
野中 誠 東洋大学, 経営学部, 准教授 (30318787)
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| Keywords | ソフトウェア品質 / 欠陥予測 / レイリーモデル |
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| Research Abstract |
ソフトウェアの残存欠陥数を予測する手法の一つに、レイリーモデルを適用する方法がある。本研究では、この技法が持つ課題である①層欠陥数の予測値が実績値を下回る矛盾が生じること、②レイリーモデルの形状パラメータを調整すべき条件が不明確であること、③上流工程の欠陥データだけでは総欠陥数の予測精度が悪くなることの課題を挙げ、これらを克服する方法の研究を目的としている。
本年度の成果として、過去に実施してきた部分的な成果を総合し、体系的に整理することを試みた。①については、摘出済み欠陥数の実測値が得られているという条件において、条件付き確率の期待値の概念を適用することで予測値が実測値を下回ることのないように調整する方法をすでに提案したが、これを理論的に整理し、再現可能な手法としてまとめた。また、期待値ではなく中央値を用いた方が予測精度が高まることについても考察を行った。
②については、様々な観点から検討を試みたが、理論を検証するのに適したデータを得ることができず、十分な成果をあげることができなかった。この点について、研究計画時点での見通しが不十分であり、より実現性の高い計画とすべきであった。
③については、上流工程の欠陥混入工程別に欠陥データを分けて扱い、それぞれの回帰モデルを得るという成果を得た。この結果を踏まえ、レイリーモデルを欠陥混入工程別に適用することで、全体の欠陥データを一括して扱うことに起因する予測精度の低下を改善できる見通しを得た。
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