2012 Fiscal Year Annual Research Report
対向型２探針走査トンネル顕微鏡によるナノスケール電子伝導測定
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23760032
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| Research Institution | Kyoto University |
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Principal Investigator |
黒川 修 京都大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (90303859)
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| Keywords | 走査トンネル顕微鏡 |
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| Research Abstract |
本研究で開発に取り組んでいる対向型2探針STM（走査トンネル顕微鏡）はオーストリアのグループも開発に取り組んでおり，我々のグループにおいても早期の開発が課題となっている．この中，本年度は２探針STMの本体の作製，制御システムの自作，試料の試作を行った．本体は機械的振動ノイズの原因となるメカニカルループを最小とするよう設計に留意した．制御装置は自作し（備品のPXIシステムをベースとして，外部エレクトロニクスも自作した）２つの探針をそれぞれ，STMとして機能させることができた．またSTM探針を用いたナノスケールでの電子伝導度測定の手法を考案し，モデル構造を作製，実際に測定を行った．
本研究で観察対象としているfree standing grapheneは多くの研究の対象となっており，STM観察（一つの探針を用いるものがほとんど）の結果も多数報告されている．この結果によると，探針―graphene間の相互作用に伴うgrapahneの変形によるみかけの凹凸が非常に大きいことがわかっており，ナノスケールでのgrapheneの電子伝導を測定するという我々の目的を達成するためにはこの変形を抑える必要がある．grapheneの相互作用による変形の大きさは，freeの領域の面積と関係しており，すなわち，より小さな「枠」を用いてgrapheneを担持すれば，変形が抑えられると考えられる．現在，このような枠材の選定を行っている．
本年度の研究により，対向２探針STMの技術的構成要素を完成させることができた．今後は，ナノスケールにおけるgrapheneの電子伝導の研究を行う．
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