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2012 Fiscal Year Annual Research Report

熱検知接触型センサによるウェハ表面欠陥の高感度検出技術に関する研究

Research Project

Project/Area Number 23860005
Research InstitutionTohoku University

Principal Investigator

清水 裕樹  東北大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (70606384)

Project Period (FY) 2011-08-24 – 2013-03-31
Keywords接触センサ / 摩擦熱 / デフェクト / ウエハ検査
Research Abstract

本研究では,次世代ウエハなどナノレベル平滑面に要求される微小欠陥検出実現を目的とし,軽微な接触で発生する極小摩擦熱を熱検知素子抵抗値の変化に変換して表面微小突起を検出する,全く新しい微小欠陥検出原理の確立に取り組んだ.最終年度となる本年度は,【検討1】熱検知センサ構造の最適化設計,【検討2】熱検知センサシステムの試作および【検討3】微小デフェクト検出デモを目標とし検討を進めた.
【検討1】では,前年度構築の有限要素モデルをもとに,熱検知素子の幅,厚さ及び設置深さに関するサーベイを実施して提案手法による微小突起検出実現の可能性を検討し,素子を薄膜で構成し,かつそのサイズをマイクロメートルオーダに設定することで微小突起が検出できる可能性を見出した.
これに続き【検討2】では,素子試作工程を検討し,サイズ10~30μm四方,厚さ100nmのプロトタイプ素子試作に成功し,またより小さなマイクロサイズ素子実現の見通しを得た.更に,集光レーザ利用の微小熱印加システムを構築し,素子サイズと感度との関係を実験的に明らかにした.一方,今回試作の熱検知素子は感度を有する部分が30nmほど窪んだ構造となった.この点については,25~26年度採択課題(若手(B))における設計変更で対応予定である.
【検討3】では,試作素子の高感度部分が窪んだ構造となったため,デフェクト検出デモに替わりマイクロ球を用いた摩擦実験装置を構築し,微小摩擦熱と素子出力の関係を実験的に検討し,素子サイズと摩擦熱検知感度との関係を明らかにした.
以上,FEMシミュレーション及び試作プロトタイプ素子による実験的検討の結果より,提案の計測原理で微小欠陥検出が実現可能である見通しを得た.一方で,その実現にはマイクロサイズでの熱検知素子製作が必要で,今後,25~26年度採択課題(若手(B))で引き続き検討を進める.

Current Status of Research Progress
Reason

24年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (10 results)

All 2013 2012 Other

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (6 results) (of which Invited: 2 results) Remarks (1 results) Patent(Industrial Property Rights) (1 results)

  • [Journal Article] Design and Experiment of Thermal Contact Sensor Detecting Defects on Si Wafer Surface2012

    • Author(s)
      Wenjian Lu, Yuki Shimizu, Wei Gao
    • Journal Title

      Key Engineering Materials

      Volume: Vols. 523-524 Pages: 826-831

    • DOI

      DOI:10.4028/www.scientific.net/KEM. 523-524.826

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] New Measurement Concept of Nanometer-Level Defects on Si Wafer Surface by Using Micro Contact Sensor2012

    • Author(s)
      Wenjian Lu, Yuki Shimizu, Wei Gao
    • Journal Title

      Advanced Materials Research

      Volume: Volume 497 Pages: 137-141

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/AMR.497.137

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Feasibility study on the concept of thermal contact sensor for nanometer-level defect inspections on smooth surfaces2013

    • Author(s)
      Yuki Shimizu, Wenjian Lu, Yuta Ohba, Wei Gao
    • Organizer
      The 11th International Symposium of Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII2013)
    • Place of Presentation
      Aachen and Braunschweig (Germany)
    • Year and Date
      20130701-20130705
  • [Presentation] 表面欠陥検出向け接触型熱検知素子の試作2013

    • Author(s)
      盧文剣,清水裕樹,大場裕太,高偉 (清水裕樹)
    • Organizer
      日本機械学会 東北支部第48期総会・講演会
    • Place of Presentation
      宮城県仙台市
    • Year and Date
      20130315-20130315
  • [Presentation] Design and experiment of thermal contact sensor detecting defects on Si wafer surface2012

    • Author(s)
      Wenjian Lu, Yuki Shimizu, So Ito, Wei Gao (Yuki Shimizu)
    • Organizer
      The 14th International Conference on Precision Engineering
    • Place of Presentation
      Awaji-shi (Hyogo, Japan)
    • Year and Date
      20121108-20121110
  • [Presentation] 接触型熱検知センサによる平滑面欠陥検出の実験的原理検討2012

    • Author(s)
      盧文剣,清水裕樹,大場裕太,高偉 (清水裕樹)
    • Organizer
      日本機械学会 第9回生産加工・工作機械部門講演会
    • Place of Presentation
      秋田県由利本荘市
    • Year and Date
      20121027-20121028
  • [Presentation] Design of a Micro-sized Thermal Contact Sensor for Inspection of Surface Defects2012

    • Author(s)
      Yuki Shimizu, Wenjian Lu, Wei Gao (Yuki Shimizu)
    • Organizer
      The 3rd International Conference on Nanomanufacturing (nanoMan2012)
    • Place of Presentation
      Wako-shi (Saitama, Japan)
    • Year and Date
      20120725-20120727
    • Invited
  • [Presentation] ヘッド組み込み型熱検知センサを用いた磁気ディスク表面のナノ微小欠陥検出技術2012

    • Author(s)
      清水裕樹,徐鈞国,小平英一 (清水裕樹)
    • Organizer
      日本トライボロジー学会 トライボロジー会議2012 春 東京
    • Place of Presentation
      東京都代々木区
    • Year and Date
      20120514-20120516
    • Invited
  • [Remarks] 東北大学, 大学院 工学研究科, ナノメカニクス専攻 高・清水・伊東研究室

    • URL

      http://www.nano.mech.tohoku.ac.jp/

  • [Patent(Industrial Property Rights)] 平滑面検査装置2012

    • Inventor(s)
      清水裕樹,高偉,盧文剣
    • Industrial Property Rights Holder
      清水裕樹,高偉,盧文剣
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      特願2012-097818
    • Filing Date
      2012-04-23

URL: 

Published: 2014-07-24  

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