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2015 Fiscal Year Annual Research Report

超高密度パワーSOC(Supply on Chip)用集積回路基板の研究

Research Project

Project/Area Number 24360111
Research InstitutionKyushu Institute of Technology

Principal Investigator

松本 聡  九州工業大学, 大学院 工学研究院, 教授 (10577282)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 西澤 伸一  国立研究開発法人産業技術総合研究所, エネルギー技術部門, 研究員 (40267414)
馬場 昭好  九州工業大学, マイクロ化総合技術センター, 准教授 (80304872)
新海 聡子  九州工業大学, マイクロ化総合技術センター, 准教授 (90374785)
Project Period (FY) 2012-04-01 – 2016-03-31
Keywords集積化電源 / 排熱 / 抜熱
Outline of Annual Research Achievements

ナノダイヤを排熱層とした場合の効果を評価した結果、酸化膜に比べて20℃程度低温化できることを明らかにした。また、評価結果をもとに、シミュレーション用のモデルを作製した。
シリサイド化による貼り合わせにおいて,Hf膜厚を150nm以下に設定すると接合強度が急激に減少することを明らかにした。同時に,接合面積を大きくすると、接合強度が減少した。これはダイヤモンドの表面粗さに顕著に影響を受けるようになったためと考えられる。検証の結果、ダイヤモンドの表面粗さが10nmを越えると高いシリサイド化温度を設定しても、接合ができない、もしくは,極めて弱い接合となることが明らかとなった。そのため、シリサイド化を用いた接合の実現には、ダイヤモンドの低い表面粗さと150nm程度のHf膜厚の両方が必要であることを明らかにした。

Research Progress Status

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

27年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (3 results)

All 2015

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results,  Acknowledgement Compliant: 1 results) Presentation (2 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results)

  • [Journal Article] Impact of the silicon on diamond structure for high temperature switching applications2015

    • Author(s)
      H. Kanoya K. Nakagawa and S. Matsumoto
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 54 Pages: 04DP09

    • DOI

      http://dx.doi.org/10.7567/JJAP.54.04DP09

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Presentation] “The Heat Performance Study of Nanocrystal Diamond Film Used in a Thin Film Device”,2015

    • Author(s)
      S. Duangchan, U. Koshikawa, R. Shirahama, K.Oishi, A. Baba, S. Matsumoto, and M.Hasagawa,
    • Organizer
      International Conference on Solid State Devices and Materials 2015
    • Place of Presentation
      Saporo, Japan
    • Year and Date
      2015-09-27 – 2015-09-30
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] The Silicon on Diamond Structure by low temperature bonding technique2015

    • Author(s)
      S. Duangchan, U. Uchikawa, U. Koshikawa, A. baba, K. Nakagawa, S.Matsumoto, M.Hasagawa, and S.Nishizawa
    • Organizer
      IEEE Electric Components and Technology Conference 2015 (ECTC2015)
    • Place of Presentation
      San Diego, USA
    • Year and Date
      2015-05-26 – 2015-05-29
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2017-01-06  

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