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2012 Fiscal Year Research-status Report

フレキシブル有機EL半導体の屈曲性改善とその設計手法の確立

Research Project

Project/Area Number 24560178
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

Research InstitutionTsuyama National College of Technology

Principal Investigator

小林 敏郎  津山工業高等専門学校, その他部局等, 教授 (70563865)

Project Period (FY) 2012-04-01 – 2015-03-31
Keywords有機EL / フレキシブル / 屈曲性 / 発光効率 / 薄膜 / 設計工学
Research Abstract

本研究の目的は、「フレキシブル有機EL半導体の屈曲性の改善とその設計手法の確立」であり、有機EL半導体に用いられる有機薄膜層の変形特性を測定し、屈曲性に悪影響を及ぼす脆弱な層を明らかにして、(a)脆弱な有機薄膜層の高強靭化(混合層化)、あるいは(b)他材料への置き換え、により屈曲性を改善する手法の確立を目指している。
これまでのところ、代表的な基本有機EL半導体素子を構成する薄膜層の単層膜引張り試験を実施して、薄膜層の延性を定量測定し、屈曲性に悪影響を及ぼすと考えられる低延性層を把握した。また、この低延性層に高延性材料を混合した混合層では、延性が改善されることを確認した。更に、混合層を用いた有機EL半導体素子では、素子性能が低下する副作用が懸念されたため、素子構造の設計を見直し、基本素子、混合層適用素子、混合層適用新構造素子の3種類の有機EL発光素子を試作して、発光効率を測定比較した結果、予想通り、基本素子と比較して、混合層適用素子では発光効率が低下するものの、混合層適用新構造素子では、基本素子とほぼ同等の発光効率が得られることを確認した。
これまでの試験結果から、本研究で提案したフレキシブル有機EL半導体の屈曲性改善手法は原理的に成立する見通しが得られた。これに伴い、従来の電子工学的な取り組みによる素子設計、素子性能評価、耐曲げ性評価、というプロセスを経た思考錯誤的方法から、電子工学的取り組みと並行して機械工学・設計工学的手法を組み合わせる方法にシフトすることにより、素子の電子特性と機械特性の両者を兼ね備えた高性能な有機EL半導体素子の開発が期待できるとともに、研究開発期間ならびに開発費用の低減が期待できる。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

現在までの達成度は、(2)おおむね順調に進展している。
理由は、本研究の目的は、「フレキシブル有機EL半導体の屈曲性の改善とその設計手法の確立」であり、有機EL半導体に用いられる有機薄膜層の変形特性を測定し、屈曲性に悪影響を及ぼす脆弱な層を明らかにして、(a)脆弱な有機薄膜層の高強靭化(混合層化)、あるいは(b)他材料への置き換え、により屈曲性を改善する手法の確立を目指しており、研究実績の概要欄に記載のとおり、基本素子に対しては、本研究で提案した設計手法は、原理的に成立する見通しが得られたからである。
また、実験手法に関しては、H24年度の前半に、担当した学生の熱心な取り組みと創意工夫により、現象の解明と、測定条件などのノウハウも蓄積することが出来、これらの内容についても、学会で発表することができた。

Strategy for Future Research Activity

基本素子に対しては、本研究で提案した設計手法は、原理的に成立する見通しが得られたが、データ蓄積による信頼性向上と、学術的な解析・考察を継続して実施中である。さらに一般化のために、他の素子構造、素子構成材料に関してもデータ取得を行い、提案手法の更なる可能性を見極める。
また、研究成果の発表に関しては、H24年度に国際会議で1件発表し、H25年度も1件発表予定であるが、学術的な解析・考察を充実させて、国際的な学術誌への投稿を目指す。
さらに、発光している素子の変形・屈曲試験手法についても調査を行い、次ステップへの足がかりとしたい。

Expenditure Plans for the Next FY Research Funding

次年度使用額(B-A)は約33万円である。
これは、神奈川県または広島県の工業技術センターの設備(ナノインデンター:微小硬度計)を用いての測定費用・装置利用費用ならびに立会のための交通費として計画していたものである。複数の装置保有機関に試験片を送付して、測定誤差等に関して検討依頼を行い、ほぼ測定条件が固まった段階であるが、測定サンプルが、有機材料の薄膜であり、測定経験に乏しいため、これまでの作業は研究的要素が大きく、料金の支払いは、測定条件が固まって、仕様欄に明確に記載できるようになってからの測定サンプルを対象としたいとの先方意向があり、これまでの試験的な測定に関しては費用が発生していない。しかしながら、ほぼ測定条件が固まったため、明確な仕様で、検査成績書付きの測定を依頼してデータ測定を行ってもらうためには、H24年度に計画していた費用をH25年度に支出することになる。

  • Research Products

    (3 results)

All 2013 2012

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (2 results)

  • [Journal Article] Study on Evaluation Methods for Mechanical Properties of Organic Semiconductor Materials2013

    • Author(s)
      T. Kobayashi, T. Yokoyama, Y. Utsumi, H. Kanematsu and T. Masuda
    • Journal Title

      Journal ofPhysics:ConferenceSeries

      Volume: 433 Pages: 1-7

    • DOI

      doi:10.1088/1742-6596/433/1/012009

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Measuring the Ductility of Organic Semiconductor Materials2013

    • Author(s)
      T. Kobayashi
    • Organizer
      19th International Vacuum Congress
    • Place of Presentation
      Paris, France
    • Year and Date
      20130909-20130913
  • [Presentation] Study on Evaluation Methods for Mechanical Properties of Organic Semiconductor Materials2012

    • Author(s)
      T. Yokoyama
    • Organizer
      The Irago Conference 2012
    • Place of Presentation
      Irago, Japan
    • Year and Date
      20121115-20121116

URL: 

Published: 2014-07-24  

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