2012 Fiscal Year Annual Research Report
光トラップ型マルチパストムソン散乱計測器の開発研究
Project/Area Number |
24656556
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Research Institution | The University of Tokyo |
Principal Investigator |
江尻 晶 東京大学, 新領域創成科学研究科, 准教授 (30249966)
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Project Period (FY) |
2012-04-01 – 2013-03-31
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Keywords | プラズマ計測 / トムソン散乱 / 立ち上げプラズマ / 球状トカマク / マルチパス |
Research Abstract |
高周波波動により生成された低密度プラズマでは、散乱強度が密度に比例するトムソン散乱計測は困難である。この問題を解消すべく、一回の測定でレーザーがプラズマ中を同軸上で数回往復する光トラップ型マルチパス配位のトムソン散乱計測システムの開発研究を行った。この手法では、2枚の凹面鏡で構成されたトラップへの入射と閉じ込めを偏光方向をポッケルスセルで制御することで実現する。 光トラップ型マルチパス配位の利点は、同軸であるために、散乱点が固定されていることと、効率の限界が光学素子の透過率・反射率のみに依存する点である。一方、欠点は、同軸であるために、偏光を制御するポッケルスセルの動作が正確で高速でなければならない点と、実効的に非常に長い伝搬光路中で、光学素子に損傷を与えないように、ビーム伝送の厳密な管理が必要であるである。 本研究では、高電圧高速MOSFETを用いたポッケルスセル駆動回路を製作・設計し、20ns以内に偏光方向を90度変化させることに成功した。さらに、各光学素子のビーム径に対する制限、散乱点のでのビーム径に対する制限、光学素子の設置誤差を満たす長距離伝搬配位をビーム伝送計算によって求めた。また、各素子での反射・透過効率を実測し、それらを元に計算した結果、4往復で5倍の散乱強度の増加を見込めることがわかった。今後、実際のマルチパス配位でのパルス測定、プラズマ測定を予定している。
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[Journal Article] Off-Axis Temperature Anisotropy Measurement by Double-Pass Thomson Scattering Diagnostic System on TST-22012
Author(s)
J. HIRATSUKA, A. EJIRI, M. HASEGAWA, Y. NAGASHIMA, Y. TAKASE, H. TOJO, T. YAMAGUCHI, T. AMBO, H. FURUI,T. HASHIMOTO, H. KAKUDA, K. KATO, T. OOSAKO, T. SAKAMOTO, R. SHINO, T. SHINYA, M. SONEHARA, T. WAKATSUKI and O. WATANABE
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Journal Title
Plasma Fusion Res
Volume: 7
Pages: 2402092
DOI
Peer Reviewed
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