2012 Fiscal Year Annual Research Report
| Project/Area Number |
24860054
|
|---|
| Research Institution | The University of Kitakyushu |
|---|
Principal Investigator |
董 青 北九州市立大学, 国際環境工学部, 講師 (30638804)
|
|---|
| Project Period (FY) |
2012-08-31 – 2014-03-31
|
| Keywords | アナログLSI / 自己診断システム |
|---|
| Research Abstract |
本研究では、アナログLSIテストにおけるテスト容易化設計手法BIST技術を扱う。まず、アナログ信号の解析に関する研究を行い，テストするアナログ信号を統一評価できるディジタル信号に変換し、評価することを考える。ここでは、テストする信号特性の範囲における、変換回路技術、変換信号からアナログ特性を抽出する技術が研究の鍵となる。アナログ回路の電圧値と電流値、周波数と位相を出力信号として、体系的に評価する手法を提案する。そして被テスト信号の周波数/位相特性を正確に抽出するために、DSPを伴うA/D変換回路を提案する。さらに、オペアンプを被テスト回路の題材として選び、BISTを含むテスト回路機構を設計し、BISTにより被テスト回路(オペアンプ)への寄生の抽出を行う。寄生の影響をシミュレーションで確認し、BISTの追加により回路性能が劣化しないBIST回路レイアウト技術の研究を行う。実際の試作チップの評価により、提案のアナログBISTによるテスト容易性を示す。
提案するBIST機構は、(a)電流の電圧変換回路、(b)アナログ・ディジタル変換回路、(c)2つのディジタル・アナログ変換回路、(d)DSP、(e)制御回路から構成される。
平成24年度においては、まずアナログLSIテストの体系化を目的として、アナログ信号の解析に関する研究を行った。その結果、アナログ回路の電圧値と電流値、周波数と位相を出力信号として、体系的に評価する手法を提案した。具体的には、以下の手順で進めた。①回路に抵抗を追加し、電流を電圧に変換し、出力信号を電圧による統一的に評価した。②信号の電圧値を解析し、回路の周波数と位相の情報を抽出した。③追加した変換回路から元回路への影響を評価した。
|
| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
平成24年度においては，まずアナログLSIテストの体系化を目的として、アナログ信号の解析に関する研究を行った。おおむね計画通り順調に進展している。
|
| Strategy for Future Research Activity |
平成24年度の続き，平成25年度においてはBIST 機構のディジタル部を中心に研究開発を行う。提案するアナログBIST の第1 回目のプロトタイプは、テスト機能としての実行可能性の検証のために、被テス
ト回路と分離して実装する。第2 回目のプロトタイプはすべてのブロックをワンチップ化する。
|
