低ドーズオペランド電子線ホログラフィーによる有機EL発光／劣化メカニズムの可視化

2024 Fiscal Year Comments on the Screening Results

• Project/Area Number: 24H00423
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Review Section: Medium-sized Section 29:Applied condensed matter physics and related fields
• Research Institution: Japan Fine Ceramics Center
• Principal Investigator: 山本 和生 一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 主席研究員 (80466292)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 野村 優貴 一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 上級研究員 (60970126) ; 吉本 則之 岩手大学, 理工学部, 教授 (80250637) ; 佐々木 祐聖 一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 研究員 (00995160)
• Project Period (FY): 2024-04-01 – 2028-03-31

Scientific Significance and Expected Research Achievements

本研究は、動作している最中の有機半導体薄膜内部の電位分布を電子線ホログラフィーを用いて直接観察することにより、有機半導体デバイスの発光／劣化のメカニズムを解明しようとするものであり、大変独創的である。応募者らは機械学習を利用して60倍程度の高感度化を実現しており、試料にダメージを与えにくい低ドーズ電子線下での観察も達成している。この世界をリードする研究を進展させ、有機エレクトロニクスの分野に大きな波及効果をもたらすと期待される。