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2015 Fiscal Year Annual Research Report

超高圧位相差電子顕微鏡による金属・イオン伝導体界面の研究

Research Project

Project/Area Number 25246001
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

丹司 敬義  名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 研究員 (90125609)

Project Period (FY) 2013-10-21 – 2017-03-31
Keywords固体酸化物型燃料電池 / 電子線位相微分顕微鏡法 / 細胞脂質二重膜 / 電界観察 / 超高圧電子顕微鏡
Outline of Annual Research Achievements

通常の透過電子顕微鏡では、透過電子波の強度(振幅)のみが観察でき、その位相情報は失われてしまう。そのため、生体試料や電磁界等電子の位相のみを変調し、振幅にほとんど影響を与えない物体(位相物体)は、一般に、焦点を大きく外すことによって位相の情報を振幅情報に変換して観察されている。従って、得られる像の分解能、画質は装置の能力に対し十分なものとは言えない。本研究では、磁性細線周囲に生じるベクトルポテンシャルを用いた新奇位相板を開発し、名古屋大学のガス環境その場観察超高圧電子顕微鏡に導入して、超高圧電子線位相微分顕微鏡法を開発する。そして本技術により、固体酸化物型燃料電池(SOFC)の電極/電解質界面における伝導イオンの挙動をその場観察し、高効率電極材料の開発に資する。同時に、従来、正焦点での高分解能観察が容易ではなかった生体材料や高分子材料への応用も探る。平成27年度は、1000kV超高圧走査電子顕微鏡内で、酸素環境下、試料温度800℃で電極間に数Vの電圧を印加することによる電解質/電極界面での構造や電子状態の変化を観察すること、また、前年度までに導入した新奇位相板を用いるに最適な電子光学条件を求め、非染色生体試料、および電磁界観察の実用化を目指した。
その結果、1000keVの電子線で帯電したプラスチック球周辺の電界を直接観察し、電磁気学的シミュレーションと良く一致する結果を得た。また、マウス光受光細胞の非染色切片を観察して、1000kV電子顕微鏡により内部のミトコンドリアの高コントラスト像や、細胞脂質二重膜の観察に成功した。さらに、SOFCの電極/電解質界面のその場観察では、高温・外部電圧印加時に電極材料の白金が加工時の損傷予防のため付加するタングステン層と反応して電池のセル構造が破壊されてしてしまい、今後モデルセル構造のさらなる検討が必要であることが判明した。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

これまでに、超高圧電子顕微鏡用いた電子線位相微分法、および、電圧印加・加熱試料ホルダーを新規開発し実装した。このシステムにより、固体酸化物型燃料電池の電極/電解質界面の酸素中高温電圧印加その場観察が可能となった。非染色生体試料の高コントラスト観察、電界観察等も当初の予定通りその可能性を実証できた。

Strategy for Future Research Activity

固体酸化物型燃料電池のモデルセルを酸素中高温で電圧印加すると、現状その界面構造が破壊されてしまうため、モデル電池の構造を再検討し、界面における電界分布、および、イオン濃度分布のその場観察を実現する。また、集束イオンビーム加工装置-電子顕微鏡間試料トランスファーシステムを改良し、超高圧電子顕微鏡による構造観察、電子エネルギー損失分光(イオン濃度分布、電子構造変化観察用)、200kV電子線ホログラフィー顕微鏡による界面の電位分布観察を同じ一つの試料個体で実施する。

  • Research Products

    (15 results)

All 2016 2015 Other

All Int'l Joint Research (2 results) Journal Article (3 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Peer Reviewed: 3 results,  Open Access: 3 results,  Acknowledgement Compliant: 2 results) Presentation (8 results) (of which Int'l Joint Research: 5 results,  Invited: 1 results) Patent(Industrial Property Rights) (2 results)

  • [Int'l Joint Research] 大連工業大学(中国)

    • Country Name
      CHINA
    • Counterpart Institution
      大連工業大学
  • [Int'l Joint Research] University of Victoria(カナダ)

    • Country Name
      CANADA
    • Counterpart Institution
      University of Victoria
  • [Journal Article] Phase reconstruction in annular bright-field scanning transmission electron microscopy2015

    • Author(s)
      [1]T. Ishida, T. Kawasaki, T. Tanji, T. Kodama, T. Matsutani, K. Ogai and T. Ikuta
    • Journal Title

      Microscopy

      Volume: 64 Pages: 69-76

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfu098

    • Peer Reviewed / Open Access / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Quantitative evaluation of annular bright-field phase images in STEM2015

    • Author(s)
      T. Ishida1, T. Kawasaki, T. Tanji and T. Ikuta
    • Journal Title

      Microscopy

      Volume: 64 Pages: 121-128

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfu113

    • Peer Reviewed / Open Access / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Determination of three-dimensional strain state in crystals using self-interfered split HOLTS lines2015

    • Author(s)
      R. Herring, M. Norouzpour, K. Saitoh, N. Tanaka and T. Tanji
    • Journal Title

      Ultramicroscopy

      Volume: 156 Pages: 37-40

    • DOI

      10.1016/j.ultramic.2015.04.013

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Presentation] Electron differetial phase microscopy with an A-B effect phase plate2016

    • Author(s)
      T. Tanji
    • Organizer
      Symposium on Surface and Nano Science
    • Place of Presentation
      Furano, Japan
    • Year and Date
      2016-01-13 – 2016-01-17
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 固体酸化物型燃料電池のその場観察のための電圧印加・加熱試料ホルダーの開発2015

    • Author(s)
      石田高史,丹司敬義,富田正弘,樋口公孝
    • Organizer
      第25回日本MRS年次大会
    • Place of Presentation
      横浜
    • Year and Date
      2015-12-08 – 2015-12-10
  • [Presentation] Simulation of phase imperfection restoration in electron holography in noisy case2015

    • Author(s)
      W. Li and T. Tanji
    • Organizer
      The 2nd East Asia Microscopy Conference (EAMC2)
    • Place of Presentation
      Himeji, Japan
    • Year and Date
      2015-11-24 – 2015-11-27
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] A-B効果を用いたヒルベルト位相板の開発2015

    • Author(s)
      石田高史,李偉,丹司敬義
    • Organizer
      第76回応用物理学会秋季学術講演会
    • Place of Presentation
      名古屋
    • Year and Date
      2015-09-13 – 2015-09-16
  • [Presentation] New quantitative phase reconstruction technique using hollow-cone probe and annularly arrayed detectors in STEM2015

    • Author(s)
      T. Ishida, T. Kawasaki and T. Tanji
    • Organizer
      Microscopy & Microanalysis
    • Place of Presentation
      Portland, USA
    • Year and Date
      2015-08-02 – 2015-08-06
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Electron differential phase microscopy with an A-B effect phase plate2015

    • Author(s)
      T. Tanji, H. Niimi, J. Usukura and Y. Yamamoto
    • Organizer
      Microscopy & Microanalysis
    • Place of Presentation
      Portland, USA
    • Year and Date
      2015-08-02 – 2015-08-06
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] n situ observation of propene epoxidation by gold nanoparticles supported on anatase TiO22015

    • Author(s)
      T. Kawasaki, H. Murase, K. Yoshida and T. Tanji
    • Organizer
      Microscopy & Microanalysis
    • Place of Presentation
      Portland, USA
    • Year and Date
      2015-08-02 – 2015-08-06
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] A-B効果位相板を用いた電子線微分干渉顕微鏡法の開発Ⅲ2015

    • Author(s)
      丹司敬義, 新美博久, 山本悠太, 臼倉治郎
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第71回学術講演会
    • Place of Presentation
      京都
    • Year and Date
      2015-05-13 – 2015-05-15
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 電子顕微鏡用試料加熱・印加装置2016

    • Inventor(s)
      富田正弘、丹司敬義、石田高史、浮穴基英、吉田寿治
    • Industrial Property Rights Holder
      株式会社真空デバイス
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      2016-20447
    • Filing Date
      2016-02-05
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 荷電粒子ビーム用電磁レンズの球面収差補正装置2015

    • Inventor(s)
      川﨑忠寬、生田孝、丹司敬義
    • Industrial Property Rights Holder
      名古屋大学総長
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      2015-090241
    • Filing Date
      2015-04-27

URL: 

Published: 2018-01-16  

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