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2016 Fiscal Year Annual Research Report

量子ビーム複合利用による最先端微細加工材料のナノ化学の研究

Research Project

Project/Area Number 25246036
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

古澤 孝弘  大阪大学, 産業科学研究所, 教授 (20251374)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 室屋 裕佐  大阪大学, 産業科学研究所, 准教授 (40334320)
山本 洋揮  大阪大学, 産業科学研究所, 助教 (00516958)
小林 一雄  大阪大学, 産業科学研究所, 助教 (30116032)
Project Period (FY) 2013-04-01 – 2018-03-31
Keywords放射線、X線、粒子線 / 半導体超微細化 / シミュレーション工学 / 計算物理
Outline of Annual Research Achievements

半導体製造用リソグラフィでは、電離放射線による11nm 以下の大量生産の実現に向け開発が進められている。レジスト【微細加工材料】には、感度とともに、現像後のパターン側壁のラフネス【ラインエッジラフネス】を1nm 以下に抑えることが要求されるため、11nm 以下の加工の実現は、開かれた系に電離放射線を使って限られた量のエネルギーを局所的に与えた後、(拡散を伴う)化学反応を11nm 以下の領域で1nm 以下の精度で制御することを意味する。本研究は、極短パルス放射線による放射線誘起反応の時間分解計測に、極微電子線による空間分解計測を組み合わせた独自の手法により、最先端微細加工材料中のナノ空間で誘起される化学反応を解明し、11nm 以下の解像度による半導体大量生産を実現するための材料設計指針を得ることを目的に実施した。
本研究は①化学反応の時間分解計測からの化学種空間分布の時間変化抽出、②化学反応後の空間分解計測からの化学種空間分布の時間変化抽出、③化学反応のスパーオーバラップ計測(空間と時間の重なりの解析)、④シミュレーションコードの作製と解析の4つの手法により、ナノスケールの空間領域に誘起される化学反応の解析を行った。本年度は、化学増幅型レジストに関しては、光分解性塩基の効果を従来型塩基の効果との比較において明確にした。新規材料に関しては、ヘテロ原子及び金属含有レジストの放射線誘起反応の解明を行った。また、自己組織化のレジストプロセスへの適用を念頭に自己組織化関連材料の反応機構の解明を行った。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

年度当初に想定していた研究項目に関して、解析を行えたので、おおむね順調に進展していると判断した。

Strategy for Future Research Activity

来年度は最終年度であるので、これまでの研究で得られたデータの不足分を収集するとともに、全データを包括的に解析し、最先端微細加工材料のナノ化学を体系立て、11nm以下の分解能による半導体大量生産を実現するための材料設計指針を得る。

  • Research Products

    (10 results)

All 2016 Other

All Journal Article (6 results) (of which Peer Reviewed: 6 results) Presentation (3 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results,  Invited: 2 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Theoretical study of fabrication of line-and-space patterns with 7 nm quarter-pitch using electron beam lithography with chemically amplified resist process: IV. Comparison with experimental results2016

    • Author(s)
      T. Kozawa
    • Journal Title

      Jpn. J. Appl. Phys.

      Volume: 55 Pages: 056503

    • DOI

      10.7567/JJAP.55.056503

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Chemically amplified molecular resists based on noria derivatives containing adamantyl ester groups for electron beam lithography2016

    • Author(s)
      H. Yamamoto, S. Tagawa, T. Kozawa, H. Kudo, and K. Okamoto
    • Journal Title

      J. Vac. Sci. Technol. B

      Volume: 34 Pages: 041606

    • DOI

      10.1116/1.4953068

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Dynamics of radical cations of poly(4-hydroxystyrene) in the presence and absence of triphenylsulfonium triflate as determined by pulse radiolysis of its highly concentrated solution2016

    • Author(s)
      K. Okamoto, T. Ishida, H. Yamamoto, T. Kozawa, R. Fujiyoshi, and K. Umegaki
    • Journal Title

      Chem. Phys. Lett.

      Volume: 657 Pages: 44-48

    • DOI

      10.1016/j.cplett.2016.05.058

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Synthesis and Resist Properties of Calixarene Polymers with Pendant Haloalkyl Groups2016

    • Author(s)
      H. Kudo, H. Ogawa, H. Yamamoto, and T. Kozawa
    • Journal Title

      J. Photopolym. Sci. Technol.

      Volume: 29 Pages: 495-500

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Theoretical study of fabrication of line-and-space patterns with 7 nm quarter-pitch using electron beam lithography with chemically amplified resist process: V. Optimum beam size2016

    • Author(s)
      T. Kozawa
    • Journal Title

      Jpn. J. Appl. Phys.

      Volume: 55 Pages: 106502

    • DOI

      10.7567/JJAP.55.106502

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Requirement for Suppression of Line Width Roughness in Fabrication of Line-and-Space Patterns with 7 nm Quarter-Pitch Using Electron Beam Lithography with Chemically Amplified Resist Process2016

    • Author(s)
      T. Kozawa
    • Journal Title

      J. Photopolym. Sci. Technol.

      Volume: 29 Pages: 809-816

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Challenges in sub-10 nm fabrication using EUV lithography2016

    • Author(s)
      T. Kozawa, J.J. Santillan, and T. Itani
    • Organizer
      14th Fraunhofer IISB Lithography Simulation Workshop
    • Place of Presentation
      Hersbruck, Germany
    • Year and Date
      2016-09-22 – 2016-09-24
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Synthesis and Resist Properties of Calixarene Polymers with Pendant Haloalkyl Groups2016

    • Author(s)
      H. Kudo, H. Ogawa, H. Yamamoto, and T. Kozawa
    • Organizer
      The 33rd International Conference of Photopolymer Science and Technology
    • Place of Presentation
      Chiba, Japan
    • Year and Date
      2016-06-22 – 2016-06-24
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Molecular Resist Materials for Extreme Ultraviolet Lithography2016

    • Author(s)
      H. Yamamoto, H. Kudo, and T. Kozawa
    • Organizer
      2016 International Workshop on EUV Lithography
    • Place of Presentation
      CA, USA
    • Year and Date
      2016-06-13 – 2016-06-16
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Remarks] 古澤研ホームページ

    • URL

      http://www.sanken.osaka-u.ac.jp/labs/bms/

URL: 

Published: 2018-01-16  

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