2014 Fiscal Year Annual Research Report
LSIライフサイクル全般の信頼性向上のための組込み自己テストに関する研究
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25280015
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| Research Institution | Nara Institute of Science and Technology |
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Principal Investigator |
井上 美智子 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 教授 (30273840)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
米田 友和 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
大和 勇太 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20707244)
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| Project Period (FY) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| Keywords | 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング |
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| Outline of Annual Research Achievements |
平成26年度は、以下の研究成果が得られた。
①テスト実行時の電圧変動を考慮するBIST手法：LSIテスト実行時には、過剰電力や過剰電流変動による電源ノイズが起こりテスト結果の御判定をもたらすことが問題となっている。電源ノイズには、抵抗によるIRドロップやインダクタとキャパシタ間のエネルギー交換によって起こる共振ノイズなどがある。これまで、テスト実行時のIRドロップ解析に取り組んでいたが、今年度は共振ノイズの解析に取り組んだ。共振ノイズの大きさとシフトクロック周波数との関係を高速に解析する手法を考案し、ノイズの影響を低減するシフトクロックの導出法を提案した。
②ライフサイクル全般での信頼性を考慮するメモリ自己修復・誤り訂正手法：システムオンチップに組み込まれるメモリが大容量化しており、メモリの信頼性確保がLSIの信頼性確保に大きく影響している。そこで、自己テスト・自己修復手法と誤り訂正手法を組み合わせてメモリの信頼性を向上させる手法を提案した。提案手法では、定期的な自己テストによる故障検出、スペアワードへのアドレスリマッピングによる機能的なメモリワード修復、誤り訂正符号(ECC)を用いた誤り訂正を組み合わせ、故障メモリセルの個数や分布に応じて修復、訂正をアダプティブに切り替えることで信頼性を向上することに成功した。
③微小遅延故障検出のためのパス遅延故障シミュレーションの高速化：本研究テーマは、主に平成25年度に行ったものであるが、今年度は評価実験を追加し内容を拡充させて国際会議での成果発表を行った。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
研究実施計画に記入した①テスト実行時の電圧変動を考慮するBIST手法、②ライフサイクル全般での信頼性を考慮するメモリ自己修復・誤り訂正手法に関して、それぞれ解決するための手法を提案することができた。②に関しては、研究会発表１回、国際会議発表１回を行い、さらに拡張した結果が国際会議に採択され、平成27年度に発表を行う予定であり、順調に進捗している。①に関しては、手法の提案を行い評価を充実させているところである。また、前年度に行った③微小遅延故障検出のためのパス遅延故障シミュレーションの高速化に関しては、評価を拡充して国際会議での成果発表を行うことができた。
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| Strategy for Future Research Activity |
今度は、これまで得られたテスト実行時のノイズ等の解析をさらに推進し、また、それらの解析結果を踏まえ、製造時だけでなく出荷後のフィールドテストに適用可能な高品質なテストを低コストで実現する自己テストアーキテクチャの提案を行う。組込みメモリの信頼性もさらに向上させ、論理部、メモリ部双方の信頼性を高める手法の確率を目指す。
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| Causes of Carryover |
平成26年度の研究成果を平成27年に開催される国際会議で発表するため、旅費の一部を平成27年度に使用することにしたため。
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| Expenditure Plan for Carryover Budget |
平成27年5月に開催される IEEE European Test Syｍposium での研究成果発表のための旅費および会議参加費に使用する。
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