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2015 Fiscal Year Annual Research Report

軽量AlMgSi合金の特性を阻害するナノクラスターの実時間可視化

Research Project

Project/Area Number 25286085
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

奥田 浩司  京都大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (50214060)

Project Period (FY) 2013-04-01 – 2016-03-31
Keywords軟X線 / 異常分散効果 / 異常小角散乱 / アルミニウム合金 / 2次元測定
Outline of Annual Research Achievements

通常の硬X線での小角散乱測定ではコントラストがつかないために定量測定が困難であるAl-Mg,Al-Mg-Siなどの構造用アルミニウム合金のナノ組織評価の定量化を目的とし、AlやMgなどのいわゆるTenderX-rayと呼ばれるエネルギー領域での小角散乱測定の実現を目的として研究を進めてきた。ビームライン老朽化対策とCCD立ち上げのトラブルによるビームタイムキャンセルなどのアクシデントによって1年近い研究の遅れが生じたものの、最終的にAlのK吸収端(1.5keV領域)での異常分散効果を半定量的にあたえる小角散乱強度プロファイルの2次元測定を実現することに成功し、第一報を投稿中である。
最終年度に透過2次元小角散乱強度の十分なダイナミックレンジをもつ2次元強度プロファイルをAl-Zn,Al2O3について得ることができ、強度変化から計算した異常分散効果がCromerらの計算によるAlの吸収端におけるf'の値と良い対応を示すことがわかった。
実験からえられるf’の変化は数電子分にも相当し、AlMgなどこれまでコントラストが得られなかった合金系について、Cromerらの計算から得られる散乱コントラスト変化に対応した異常小角散乱測定が実現できることを意味しており、SPring8において予備的な結果も得られた。本研究で利用したビームラインは比較的長時間のビームタイムが安定して確保できたため、これまで例のないAl吸収端での小角散乱の定量測定を実現するための装置系開発と検証という観点からは非常に適していた。一方、今年度のデータの解析の結果、今後の低コントラスト系の研究を進めるには輝度が不足しているため、装置システムの定量性改良のための測定とは別に、高輝度ビームラインを用いた低コントラスト試料の測定のための測定を進めていく必要があることが判明した。

Research Progress Status

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Causes of Carryover

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Expenditure Plan for Carryover Budget

27年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (5 results)

All 2016 2015

All Presentation (5 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results,  Invited: 2 results)

  • [Presentation] 1keVから100keVまで 小角散乱の金属材料への応用2016

    • Author(s)
      奥田浩司、浴畑嶺、北島義典、為則祐介
    • Organizer
      PF研究会
    • Place of Presentation
      筑波 高エネルギー研
    • Year and Date
      2016-03-30 – 2016-03-31
    • Invited
  • [Presentation] 軟X線二次元小角散乱法の開発とAl合金への応用2016

    • Author(s)
      浴畑嶺、西澤勇樹、奥田浩司、北島義典
    • Organizer
      物性工学談話会
    • Place of Presentation
      京都大学
    • Year and Date
      2016-01-27 – 2016-01-27
  • [Presentation] Al K吸収端での異常小角散乱の試み2016

    • Author(s)
      奥田浩司,北島義典
    • Organizer
      日本放射光学会年会
    • Place of Presentation
      柏 東京大学サテライト
    • Year and Date
      2016-01-09 – 2016-01-11
  • [Presentation] EXTENSIONS OF GISAXS MEASUREMENTS IN TENDER X-RAY REGION2015

    • Author(s)
      H.Okuda,T.Yamamoto, M.Hirai,Y.Kitajima,N.Shimizu and N.Igarashi
    • Organizer
      GISAS2015
    • Place of Presentation
      Nice, France
    • Year and Date
      2015-09-08 – 2015-09-11
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Microstructure evolution of thin films examined by GISAXS2015

    • Author(s)
      H.Okuda, T.Yamamoto, Y.Kitajima, S.Sakurai, H.OPgawa, N.Shimizu, N.Igarashi
    • Organizer
      American Crystallographic Association, annual meeting
    • Place of Presentation
      Philadelphia,USA
    • Year and Date
      2015-07-26 – 2015-07-29
    • Int'l Joint Research / Invited

URL: 

Published: 2017-01-06  

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