2015 Fiscal Year Annual Research Report
情報ハイディング技術の標準化と性能保証への基盤構築
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25330028
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| Research Institution | Yamaguchi University |
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Principal Investigator |
川村 正樹 山口大学, 理工学研究科, 准教授 (60314796)
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| Project Period (FY) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| Keywords | 情報ハイディング / 電子透かし / 誤り訂正符号 / 電子透かしコンテスト / SIFT特徴量 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
情報ハイディング及びその評価基準(IHC)委員会は電子透かしの評価基準を定め、その基準を満す手法を認定している。IHCバージョン4では、電子透かしが埋め込まれたステゴ画像に対して、画像の拡大縮小と回転が攻撃として加えられることが盛り込まれた。これまでの電子透かし手法では、同期符号を導入することにより、画素の同期が取りやすい場合に有効であったが、これらの攻撃が加えられると、同期を取ることが難しくなる。本研究では、拡大縮小に不変なSIFT特徴量を用いて、これらの攻撃に耐性のある手法を提案した。この成果は、情報科学フォーラム(FIT)とEMM研究会で発表を行った。その結果、FIT奨励賞とEMM優秀ポスター賞を受賞することができた。
次に、誤り訂正符号には大別すると、一定のビット数を完全に訂正できるものと、一定の確率で訂正できるものがある。これらを組み合わせることによって、より訂正能力を高めることができる。本研究では、低密度パリティチェック符号(LDPC)とBCH符号を組み合わせることにより、効率の高い誤り訂正符号を構成することができた。この手法を用いた電子透かし法を提案し、従来よりも高画質なステゴ画像を生成することができた。この成果は、国際会議IWDW2015において発表した。また、Springerからレクチャーノート(LNCS)として出版された。
次に、スパース推定を用いたWet Paper符号による電子透かし法を改良した。従来の我々の手法では、透かしが一部に集中して埋め込まれるため、ブロック状にノイズが現れる問題があった。そこで、離散コサイン変換(DCT)係数に分散して埋め込む手法を提案し、このノイズによる画質の低減を抑えることができた。この成果は、EMM研究会で発表した。
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