2016 Fiscal Year Annual Research Report
Timing failure diagnosis using pre-silicon test and post-silicon test
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25330063
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| Research Institution | Ehime University |
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Principal Investigator |
高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654)
四柳 浩之 徳島大学, 大学院理工学研究部, 准教授 (90304550)
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| Project Period (FY) |
2013-04-01 – 2017-03-31
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| Keywords | テスト / 診断 / オンチップセンサー / 抵抗性オープン故障 / ポストシリコンテスト / プリシリコンテスト |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本研究では， プリシリコンテストとオンチップセンサを利用したポストシリコンテストを併用したタイミング不良に対する診断法に関する研究を行う．本研究では，３つのサブテーマ（目標），（目標１）プリシリコンテストにおける診断用テスト生成法の開発，（目標２）プリシリコンテストにおけるパスの順位付け法の開発，（目標３）プリシリコンテストとオンチップセンサを利用したポストシリコンテストを併用した故障箇所の絞り込み法の開発に挑戦する．
本年度は，目標１に対して，大規模回路に対するポストシリコンテストにおいては，そのテスト時間が問題になることに着目して，テスト集合を構成するテストパターンの分割法を提案した．テストパターンの分割法においては，どのような指標を基準に分割するかが問題である．そこで，本研究では，故障の原因として考えらえるエージングの速度を検査対象となる箇所の信号変化の割合で評価する手法を導入し，その評価指針に従ってテストパターン分割する手法を提案した．
目標２に対しては，オンチップセンサーの基本回路の研究を進めるために，配線の抵抗を精密に測定することができるアナログバウンダリスキャン技術を利用した配線抵抗の精密計測法を提案した．さらに，その手法の計測精度の評価や実装可能性を評価した．
目標３においては，複数の２パターン２ペア診断用テストによって生じる遅延量を特徴量とする異常検知によって製造バラつきの影響があるもとでも半断線故障を識別できる手法を提案した．提案法は機械学習による異常検出を適用した手法である．さらに，評価実験を行い，その結果から，提案法は，故障線と並走する隣接信号線が短い場合においても有効であることを明らかにした．
本年度の研究成果は，2件の電気関連学会支部大会発表，1件の電子情報通信学会技術報告，１件の国際会議論文において発表を行った．
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