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2013 Fiscal Year Research-status Report

難加工性材料の電界・スラリー流れ場制御型高能率研磨加工システムの開発

Research Project

Project/Area Number 25420070
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

Research InstitutionKanazawa Institute of Technology

Principal Investigator

畝田 道雄  金沢工業大学, 工学部, 教授 (00298324)

Project Period (FY) 2013-04-01 – 2016-03-31
Keywordsサファイア / CMP / スラリー流れ場 / 研磨レート / 研磨条件 / 電界印加
Research Abstract

平成25年度における本申請研究は「基礎研究フェーズ」として,各種研磨条件がスラリー流れ場に及ぼす影響を解明するとともに,スラリー流れ場と研磨特性との相関について,理論と実験の両面からの解明を試みた.また,電界領域制御印加によるスラリーの基本的な運動特性を確認するための装置設計を試みた.具体的な実施項目は次のとおりである.
(1)各種研磨加工条件がスラリー流れ場に及ぼす影響の解明:研磨条件をマトリックスとして整理し,それぞれがスラリー流れ場に及ぼす影響を解明することで,各種研磨条件の影響度を評価した. (2)スラリー流れ場が研磨特性に及ぼす影響の理論と実験の両面による解明:スラリー流れ場の安定性と研磨特性(研磨レート)に着目し,①スラリー流れ場,②研磨特性,③「Preston則」に基づく研磨レートの予測値から成る3つの評価パラメータの相関を評価した. (3)研磨メカニズムの分析と定量評価のための研磨データの重回帰分析:上記の(1)と(2)で得られた結果に加えて,研磨メカニズムを分析するための評価指標として研磨装置挙動(振動加速度)や研磨中におけるウェーハの微小変位量を測定し,研磨レートを律速とする主要因を解明した. (4)高い研磨能率を創出できるスラリー流れ場の解明:上記にも関連してスラリー流れ場の不安定性が研磨レートを律速にすることを明らかにした. (5)電解領域制御印加のための基礎試験:基礎的モデル実験の設計を行い,それによるスラリーの運動特性を平成26年度上半期に解明する予定である.

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

研究実績の概要で記したとおり,おおむね当初の計画通りに研究を進展させることができている.特に研磨レートを律速にする主要因を解明したことで,次なる展開は律速原因を如何にして解消し,高い研磨レートを得るシステムや消耗部材の組合せを実現することであり,それに向けて現在鋭意検討を進めている.

Strategy for Future Research Activity

申請調書にも記載したとおり,多様な専門を有するアドバイザーらと適宜コンタクトを取りつつ,独創性ある本研究を進展させる.

Expenditure Plans for the Next FY Research Funding

ほぼ当初計画通りで補助金を使用したが,若干の金額が残ったため,平成26年度に使用することとしたい.
当初計画通り,物品費,旅費,人件費・謝金として使用する計画である.

  • Research Products

    (6 results)

All 2014 2013

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (3 results) (of which Invited: 1 results)

  • [Journal Article] Fabrication Mechanism for Patterned Sapphire Substrates by Wet Etching2014

    • Author(s)
      Natsuko Aota, Hideo Aida, Yutaka Kimura, Yuki Kawamata and Michio Uneda
    • Journal Title

      ECS Journal of Solid State Science and Technology

      Volume: 3 Pages: N69-N74

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] サファイア基板のメカニカルポリシングに及ぼす定盤表面性状の影響―定盤表面性状とスラリーフロー並びに研磨レートの関係―2014

    • Author(s)
      畝田道雄,福田有哉,伊藤康昭,堀田和利,杉山博保,森永 均,石川憲一
    • Journal Title

      砥粒加工学会誌

      Volume: 58 Pages: 314-320

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] N-Face Finishing Influence on Geometry of Double-Side Polished GaN Substrate2014

    • Author(s)
      Koji Koyama, Hideo Aida, Michio Uneda, Hidetoshi Takeda, Seong-Woo Kim, Hiroki Takei, Tsutomu Yamazaki, and Toshiro Doi
    • Journal Title

      International Journal of Automation Technology

      Volume: 8 Pages: 121-127

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Relationships Between Polishing Variables, Removal Rate and Slurry Flow in Sapphire-CMP2013

    • Author(s)
      Michio Uneda, Yuya Fukuta, Yasuaki Itou, Kazutoshi Hotta, Kazusei Tamai, Hitoshi Morinaga and Ken-ichi Ishikawa
    • Organizer
      Proceedings of ICPT2013
    • Place of Presentation
      Ambassador Hotel, Hsinchu, Taiwan
    • Year and Date
      20131029-20131101
  • [Presentation] Effects of In-Situ Monitoring and Its Impact on Chemical Mechanical Polishing of Compound Materials2013

    • Author(s)
      Michio Uneda
    • Organizer
      Workshop on Ultra-Precision Processing for III-Nitride
    • Place of Presentation
      Best Western Plus Pepper Tree Inn, Santa Barbara, USA
    • Year and Date
      20131016-20131018
    • Invited
  • [Presentation] サファイアCMPの研磨レートに及ぼすスラリーフローの影響2013

    • Author(s)
      畝田道雄,福田有哉,伊藤康昭,堀田和利,玉井一誠,森永 均,石川憲一
    • Organizer
      2013年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • Place of Presentation
      関西大学
    • Year and Date
      20130914-20130916

URL: 

Published: 2015-05-28  

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