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2013 Fiscal Year Research-status Report

空間分解分光学的見地からのIII族窒化物不均一混晶半導体の発光機構解明

Research Project

Project/Area Number 25420288
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

Research InstitutionYamaguchi University

Principal Investigator

倉井 聡  山口大学, 理工学研究科, 助教 (80304492)

Project Period (FY) 2013-04-01 – 2016-03-31
Keywords窒化アルミニウムガリウム / ドーピング / カソードルミネッセンス / 混晶半導体 / 顕微分光
Research Abstract

Si添加されたAl組成0.6の窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)混晶薄膜の微視的な構造不均一性について、走査電子顕微鏡(SEM)/カソードルミネッセンス(CL)マッピング法を用いて評価した。
Si添加量の増大とともに表面ヒロックが発展し、ヒロック端に局所的な発光が観察されることを見出した。この局所発光はバンド端発光より0.4~0.5eV低エネルギー側に発光ピークを有するDAP発光であることがわかった。このような局所発光はSi添加を行わない場合には、ヒロックが存在ていても観測されなかったことから、混晶の組成分離等では説明できず、Siが関与した発光であると考えられた。
Si添加されたAl組成の異なるAlGaN混晶薄膜についても同様の評価を行った結果、Al組成の減少に伴い歪み緩和を起源とする表面ヒロックが発展すること、低Al組成でヒロックが発展した試料ではSiが起源と考えられるヒロック端の局所発光が観測されること、ヒロックが見られない平坦な表面の高Al組成AlGaN混晶薄膜においては、このような発光は観測されないことがわかった。
以上から、この局所発光は高密度欠陥およびそれに伴う歪み場が存在するヒロック端部にSi不純物が取り込まれることによるDAP発光であると結論づけた。DAP発光エネルギーから、アクセプタのエネルギー準位を見積もり、Al組成の変化に伴うバンドの変化に沿って変化することがわかった。これは酸素とIII族空孔の複合欠陥において、アクセプタ準位がバンド内でピン留めされていることとは異なる傾向であった。以上の結果およびアクセプタエネルギーによる類推から、この局所DAPに関わるアクセプタの起源として、SiとIII族空孔の複合欠陥アクセプタや、窒素サイトに置換したSiアクセプタを考えた。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

混晶組成比、Si添加量の異なるSi添加AlGaNのカソードルミネッセンスマッピング評価により、当初の研究目的であるAlGaNへのSi添加に伴う局所発光の起源に関する一定の結論を得た。これにより目的の一部を達成した。また、AlGaN混晶薄膜の混晶不均一揺らぎに関する評価、AlGaN/AlGaN多重量子井戸の評価を進め、結果を得つつある。温度依存性評価については、上記課題解決後に実施する予定である。
なお、これら研究の安定的遂行を目的として、本年度は研究経費の前倒し申請を行い、突発的な装置障害への対応を実施できたため、順調に計画を達成することができた。

Strategy for Future Research Activity

AlGaN混晶薄膜の混晶不均一揺らぎに関する評価、AlGaN/AlGaN多重量子井戸の評価を進め、現在得られつつある結果とともに成果をまとめる。
同時にGaInN系混晶材料についてカソードルミネッセンスマッピング法の電流依存性・温度依存性評価を開始する。像の変化が得られた場合、近接場光学顕微分光法による評価結果と比較しながら、現象の解釈を行う。

Expenditure Plans for the Next FY Research Funding

前倒し予算請求により機器の障害復旧を実施したため、元々の予算が圧迫されている。努力により予算圧縮し次年度に備えた。
消耗品費、論文投稿料として使用する予定である。

  • Research Products

    (8 results)

All 2014 2013

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (6 results)

  • [Journal Article] Inhomogeneous distribution of defect-related emission in Si-doped AlGaN epitaxial layers with different Al content and Si concentration2014

    • Author(s)
      Satoshi Kurai, Fumitaka Ushijima, Hideto Miyake, Kazumasa Hiramatsu, Yoichi Yamada
    • Journal Title

      Journal of Applied Physics

      Volume: 115 Pages: 053509 1-6

    • DOI

      10.1063/1.4864020

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Cathodoluminescence Study of Optical Inhomogeneity in Si-Doped AlGaN Epitaxial Layers Grown by Low-Pressure Metalorganic Vapor-Phase Epitaxy2013

    • Author(s)
      Satoshi Kurai, Fumitaka Ushijima, Yoichi Yamada, Hideto Miyake, Kazumasa Hiramatsu
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 52 Pages: 08JL07 1-4

    • DOI

      10.7567/JJAP.52.08JL07

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Al 組成の異なるAlxGa1-xN 薄膜のカソードルミネッセンス法による局所スペクトル評価2014

    • Author(s)
      倉井聡、合田直樹、三宅秀人、平松和政、山田陽一
    • Organizer
      第61 回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      青山学院大学(神奈川県相模原市)
    • Year and Date
      20140317-20140320
  • [Presentation] CL measurement of AlGaN grown on the off-oriented AlN substrate2014

    • Author(s)
      Mitsuaki Suda, Katsushi Nishino, Satoshi Kurai, Yoichi Yamada
    • Organizer
      6th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials/ 7th International Conference on Plasma-Nano Technology & Science
    • Place of Presentation
      Meijo University, Nagoya, Japan
    • Year and Date
      20140302-20140306
  • [Presentation] LP-MOVPE法で成長したSi添加AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多重量子井戸構造(x~0.6)のカソードルミネッセンスマッピング評価2013

    • Author(s)
      倉井聡、穴井恒二、若松歩、三宅秀人、平松和政、山田陽一
    • Organizer
      第74回応用物理学会秋季学術講演会
    • Place of Presentation
      同志社大学(京都府京田辺市)
    • Year and Date
      20130916-20130920
  • [Presentation] InGaN量子井戸構造における障壁層暗点分布と活性層発光分布の相関2013

    • Author(s)
      信田真孝、細川大介、倉井聡、岡田成仁、只友一行、山田陽一
    • Organizer
      第74回応用物理学会秋季学術講演会
    • Place of Presentation
      同志社大学(京都府京田辺市)
    • Year and Date
      20130916-20130920
  • [Presentation] CLマッピング法によるInGaN混晶薄膜の貫通転位近傍におけるポテンシャル分布評価2013

    • Author(s)
      若松歩、倉井聡、工藤広光、岡川広明、山田陽一
    • Organizer
      応用物理・物理系学会中国四国支部合同学術講演会
    • Place of Presentation
      香川大学工学部(香川県高松市)
    • Year and Date
      20130727-20130727
  • [Presentation] 青色および緑色発光InGaN量子井戸構造の近接場発光分布2013

    • Author(s)
      細川大介、信田真孝、倉井聡、岡田成仁、只友一行、山田陽一
    • Organizer
      応用物理・物理系学会中国四国支部合同学術講演会
    • Place of Presentation
      香川大学工学部(香川県高松市)
    • Year and Date
      20130727-20130727

URL: 

Published: 2015-05-28  

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