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2014 Fiscal Year Research-status Report

AlGaN/GaNヘテロ構造の欠陥準位とデバイス・スイッチング特性の相関研究

Research Project

Project/Area Number 25420300
Research InstitutionChubu University

Principal Investigator

中野 由崇  中部大学, 工学部, 教授 (60394722)

Project Period (FY) 2013-04-01 – 2016-03-31
KeywordsAlGaN/GaNヘテロ構造 / 電流コラプス / 欠陥準位 / スイッチング特性 / 有機金属気相成長 / 炭素 / GaNバッファ層 / ショットキーダイオード
Outline of Annual Research Achievements

AlGaN/GaNヘテロ界面の2次元電子ガスを積極的に利用した高移動度トランジスタは省エネルギー型の高周波パワーデバイスとして期待されているが、結晶中に存在する欠陥準位の存在によりスイッチング特性が不安定となる電流コラプス現象が深刻な問題となっている。研究開発当初はAlGaNバリア層への表面保護膜の形成やフィールドプレート型ゲート電極構造による電界緩和により電流コラプス現象は7割程度抑制されてきたが、バルク結晶内の欠陥準位に起因する電流コラプス現象が残存しており、未だ完全排除には至っていない。本研究ではバルク結晶に起因する電流コラプス現象の原因解明を最終目標としている。平成25年度は、有機金属気相成長(MOCVD)法による成長温度をパラメーターとして、GaNバッファ層に存在する炭素関連の欠陥準位とターンオン時のスイッチング特性の相関関係をショットキーダイオードを作製して詳細に検討した。平成26年度は、実用的な観点から更に踏み込んで、この両者の相関関係をウエハレベルで評価可能かどうか検討した。
ウエハ面内の部位による違いを明らかにするため、非侵襲測定が可能な水銀プローブ電極を用いて、ウエハ内の任意の位置で、光容量過渡分光法による欠陥準位の高感度評価とC-t法によるターンオン・スイッチング特性の短時間評価を可能とした。更に、複数ある炭素関連欠陥準位の光吸収エネルギーに対応する光照射を組み合わしてターンオン時の容量回復特性を評価することで、スイッチング特性に対するそれぞれの欠陥準位の影響を短時間で明確に分離できるようにした。その結果、残留炭素濃度に大きく依存するが、伝導帯下2.75eVと3.23eVに存在する炭素関連欠陥準位がスイッチング特性を支配することが分かった。また、この手法を用いると、AlGaNバリア層表面のスイッチング特性に及ぼす影響も簡便に評価できることが分かった。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

実験による検討は連携研究者の協力により当初の計画通り順調に進んでいる。

Strategy for Future Research Activity

これまでの実験検討で、サファイア基板上にMOCVD結晶成長した一般的なAlGaN/GaNヘテロ構造ではGaNバッファ層に存在する炭素関連の欠陥準位がスイッチング特性を支配していることが明らかになった。平成27年度は、実用上の観点からSi基板上に作製したAlGaN/GaNヘテロ構造ウエハを購入し、欠陥準位とスイッチング特性の相関を評価し、サファイア基板上のAlGaN/GaNヘテロ構造の結果と比較検討する予定である。

Causes of Carryover

研究成果を海外で開催される国際会議で発表する予定であったが、海外出張を次年度に延期したため予算の一部を繰り越すこととなった。

Expenditure Plan for Carryover Budget

次年度はSi基板上にMOCVD成長したAlGaN/GaNヘテロ構造ウエハを購入し、バルク結晶における欠陥準位とスイッチング特性の相関を検討する予定である。また、最終年度であるため、研究成果を纏めて海外の国際会議で発表するための海外出張も計画している。

  • Research Products

    (10 results)

All 2015 2014 Other

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (7 results) (of which Invited: 1 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Electrical Investigation of Deep-Level Defects Introduced in AlGaN/GaN Heterostructures by CF4 Plasma Treatments2015

    • Author(s)
      R. Kawakamia, Y. Nakano, M. Niibe, T. Shirahama, T. Mukai
    • Journal Title

      ECS Solid State Letters

      Volume: 4 Pages: 36-38

    • DOI

      10.1149/2.0011505ssl

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Optical and electrical investigation of Ar+-irradiated GaN2014

    • Author(s)
      Miao-Gen Chen, Keiji Nakamura, Yan-Qing Qiu, Daisuke Ogawa, Retsuo Kawakami, Masahito Niibe, Yoshitaka Nakano
    • Journal Title

      Applied Physics Express

      Volume: 7 Pages: 111003

    • DOI

      10.7567/APEX.7.111003

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Carbon-Related Deep-Level Defects and Carrier-Trapping Characteristics in AlGaN/GaN Hetero-Structures2015

    • Author(s)
      Yoshitaka Nakano, Yoshihiro Irokawa, Masatomo Sumiya, Shuichi Yagi, Hiroji Kawai
    • Organizer
      7th International Symposium on Advanced Plasma Science and Its Applications for Nitrides and Nanomaterials/8th International Conference on Plasma-Nano Technology & Science (ISPlasma2015/IC-PLANTS2015)
    • Place of Presentation
      名古屋大学 (愛知県・名古屋市)
    • Year and Date
      2015-03-26 – 2015-03-31
  • [Presentation] Generation Behavior of Deep-Level Defects in Ar+-Irradiated GaN2015

    • Author(s)
      Yoshitaka Nakano, Miao-Gen Chen, Daisuke Ogawa, Keiji Nakamura, Retsuo Kawakami, Masahito Niibe
    • Organizer
      7th International Symposium on Advanced Plasma Science and Its Applications for Nitrides and Nanomaterials/8th International Conference on Plasma-Nano Technology & Science (ISPlasma2015/IC-PLANTS2015)
    • Place of Presentation
      名古屋大学 (愛知県・名古屋市)
    • Year and Date
      2015-03-26 – 2015-03-31
  • [Presentation] Ar+イオン照射したMOCVD-GaN:Si膜の電気的評価2015

    • Author(s)
      中野由崇, 高木健司, 小川大輔, 中村圭二, 新部正人, 川上烈生
    • Organizer
      第62回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      東海大学 (神奈川県・平塚市)
    • Year and Date
      2015-03-11 – 2015-03-14
  • [Presentation] CF4プラズマ処理したAlGaN/GaNヘテロ構造の電気的評価2015

    • Author(s)
      中野由崇, 川上烈生, 新部正人, 高木健司, 白濱達夫, 向井孝志
    • Organizer
      第62回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      東海大学 (神奈川県・平塚市)
    • Year and Date
      2015-03-11 – 2015-03-14
  • [Presentation] C-t法によるAlGaN/GaNヘテロ構造のターンオン回復特性評価2014

    • Author(s)
      中野由崇, 色川芳宏, 角谷正友, 八木修一, 河合 弘治
    • Organizer
      第75回応用物理学会秋季学術講演会
    • Place of Presentation
      北海道大学 (北海道・札幌市)
    • Year and Date
      2014-09-17 – 2014-09-20
  • [Presentation] Ar+イオン照射したHVPE-GaN膜の電気的評価2014

    • Author(s)
      中野由崇, 中村圭二, 新部 正人, 川上烈生
    • Organizer
      第75回応用物理学会秋季学術講演会
    • Place of Presentation
      北海道大学 (北海道・札幌)
    • Year and Date
      2014-09-17 – 2014-09-20
  • [Presentation] AlGaN/GaNヘテロ構造における炭素関連の欠陥準位評価2014

    • Author(s)
      中野由崇
    • Organizer
      日本物理学会 第24回格子欠陥フォーラム「パワーデバイス開発のための格子欠陥評価・制御」
    • Place of Presentation
      かんぽの宿 恵那 (岐阜県・恵那市)
    • Year and Date
      2014-09-11 – 2014-09-12
    • Invited
  • [Remarks] 中部大学教員情報 中野由崇

    • URL

      http://www.chubu.ac.jp/about/faculty/profile/18fda985f369f45f4e48e0e57ab46fa441142616.html

URL: 

Published: 2016-05-27  

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