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2014 Fiscal Year Research-status Report

陶磁器の絵付けに利用された有機物の高感度分析

Research Project

Project/Area Number 25560139
Research InstitutionTokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute

Principal Investigator

樋口 智寛  地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター, 事業化支援本部地域技術支援部城東支所, 副主任研究員 (50463063)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 二宮 修治  東京学芸大学, 教育学部, 教授 (30107718)
Project Period (FY) 2013-04-01 – 2016-03-31
Keywords陶磁器 / 有機物 / TOF-SIMS
Outline of Annual Research Achievements

陶磁器の絵付けに使用する絵具などの有機物に注目し、これらに近年発展した表面分析手法の応用を試み、陶磁器における分析法確立を最終目的とした。1年目において、上絵付けのモデル試料により焼成後にも有機物全てが焼失または炭化されることなく、一部は残存していることが明らかとなった。2年目は、実際の陶磁器を試料として分析を可能とする洗浄方法について検討を続ける予定としていた。一方、学会における成果発表において、1年目で得られた分析結果の裏付けに関した提案が多数あり、その必要性と飛行時間型二次イオン分析計(TOF-SIMS)に匹敵する検出感度を有する有機物分析の新たな分析手法の利用などの今後の研究進捗を考慮し、3年目に予定していた残存有機物の同定に向けた展開を前倒しし、あわせて実施した。
実際の陶磁器の分析に向けた試みとして、市販されている既成の磁器に上絵付けしたモデル試料を作製し、これらを用いて洗浄方法などの検討を行った。その結果、1年目で得られた洗浄条件を適用することにより、TOF-SIMS分析が可能な試料状態となる事が分かった。
残存有機物成分の同定に向けた試みとして、陶磁器の焼成の各段階における有機物の変化を分析した。焼成のモデルとして、熱重量測定・示差熱分析(TG-DAT)を用い、重量変化が生じた各領域からそれぞれ分析試料を採取し、赤外分光分析(IR)により分析を行った。その結果、有機物と上絵具とを混合した場合、有機物や上絵具といった各成分単独の場合と比較して熱分解の挙動が大きく異なることが明らかとなった。また焼成温度によっては、通常のIR分析でも検出可能な程度、有機物が残存していることも分かった。通常、陶磁器上絵の焼付が行われる800℃程度では、有機物の灰分のみが検出された。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

2年目は、実際の陶磁器を試料として分析を可能とする洗浄方法について検討を続ける予定としていたが、3回の学会における成果発表において、残存有機物に関する提案が多数あり、次年度実施予定の計画を前倒し、あわせて実施した。
実試料の分析に向けた洗浄法の検討では、1年目で得られた手法が磁器上の上絵にも有効であることが分かった。このことは、本法が比較的保存状態が良い実試料にも応用可能であることを示しており、今後の実試料分析に向けた知見が蓄積されたといえる。
TOF-SIMSに匹敵する有機物検出感度を有する一般的な分析手法がほぼ無く、次年度以降、加速器による赤外放射光分析を試みる必要性が出てきている。一方で、有益な分析結果が得られるかの見極めを進める必要がある。本年度は、陶磁器の焼成時における有機物の変化を熱分析や赤外分光分析などにより段階的に追い、熱分解に関する基礎的な知見を得ることとし、上絵具の存在による有機物の特異な変化を見出すに至った。この成果は、陶磁器製作に限らず、糊材として有機物を扱う文化財の保存修復にも有益なものである。なお、成果は27年度の日本文化財科学会にて発表予定である。

Strategy for Future Research Activity

本研究課題の最終年の3年目は、研究分担者2名の追加により、これまで以上に研究を進捗させ、本研究成果の将来的な展望を見出す。
2年目に引き続き上絵層の残存有機物同定を進めていく。上絵モデル試料において、焼成後の上絵層には有機物が残存していることがTOF-SIMS分析により明らかとなったが、残存量が少なく、実際の陶磁器製作に使われた有機成分の同定にはTOF-SIMS分析のみでは困難を極めることが予想される。そのためTOF-SIMSの他、将来的には放射光分析の適用なども考慮した、高感度な有機物分析法を複合的に取り入ることも視野に入れた実験を進める。当初より課題となっている試料の洗浄法については、現在、TOF-SIMS分析のための表面に特化した洗浄手法をとっているが、他分析法のための湿式などのバルクの洗浄も視野に入れて検討を進める。
また、実際の陶磁器試料の分析により、本研究の有用性を示していく。そのため、陶磁器の製作地に精通した新たな研究分担者を追加し、実際の文化財などの試料入手につなげる。実際の陶磁器試料の分析により、既報の文献との整合性なども含め、産地や技法などの解明への本研究の発展性の見極めも進める。

Causes of Carryover

3年目に研究分担者追加を予定していたため、陶磁器製作地などの現地調査を追加後に実施することとした。そのため旅費やその他諸経費などの繰り越しが発生した。

Expenditure Plan for Carryover Budget

九州などの陶磁器産地における現地調査を実施する。研究の進捗をより早めるため、追加の研究分担者への分担内容の振り分けを行い、分析に必要となる消耗品類の購入、また研究成果発表の旅費として使用する。

  • Research Products

    (4 results)

All 2015 2014

All Presentation (4 results)

  • [Presentation] 陶磁器の上絵層における有機物分析の試み-焼成に伴う膠成分の変化を中心に-2015

    • Author(s)
      樋口智寛、二宮修治
    • Organizer
      日本文化財科学会 日本文化財科学会第32回大会
    • Place of Presentation
      東京学芸大学
    • Year and Date
      2015-07-11 – 2015-07-12
  • [Presentation] 文化財科学のためのTOF-SIMS分析の試み-糊として用いられる膠について-2014

    • Author(s)
      樋口智寛、二宮修治
    • Organizer
      (一社)表面分析研究会 2014年度実用表面分析講演会
    • Place of Presentation
      御殿場高原時之栖
    • Year and Date
      2014-10-27 – 2014-10-28
  • [Presentation] 陶磁器の上絵層における有機物分析の試み-焼成後における有機物材料残存の可能性について-2014

    • Author(s)
      樋口智寛、二宮修治
    • Organizer
      日本文化財科学会 日本文化財科学会第31回大会
    • Place of Presentation
      奈良教育大学
    • Year and Date
      2014-07-05 – 2014-07-06
  • [Presentation] 膠の塗布膜最表面を構成する化学成分-飛行時間型二次イオン質量分析による試み-2014

    • Author(s)
      樋口智寛、二宮修治
    • Organizer
      一般社団法人文化財保存修復学会 文化財保存修復学会第36回大会
    • Place of Presentation
      明治大学 駿河台キャンパス アカデミーコモン
    • Year and Date
      2014-06-07 – 2014-06-08

URL: 

Published: 2016-05-27  

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