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2015 Fiscal Year Annual Research Report

ドーパント格子の実現とその磁性制御の研究

Research Project

Project/Area Number 25706003
Research InstitutionUniversity of Toyama

Principal Investigator

堀 匡寛  静岡大学, 電子工学研究所, 講師 (50643269)

Project Period (FY) 2013-04-01 – 2016-03-31
Keywordsシリコントランジスタ / チャージポンピング法 / 電子スピン共鳴法 / EDMR / 界面欠陥 / 局在準位 / ドーパント原子 / 電子捕獲過程
Outline of Annual Research Achievements

平成27年度の主な成果は、以下の通りである。
1.電子スピン共鳴法を用いたドーパント原子の解析。
電子スピン共鳴法の精密計測技術を確立し、これを用いてシリコン中のドーパント原子(リン、ヒ素、アンチモン)を詳細に解析した(Appl. Phys. Lett. 2015掲載)。また、この精密計測技術を基盤として、下記のEDMR計測を行った。
2.EDMR測定技術の確立と信号の取得。
電気的にスピン共鳴を検出する手法:EDMR(Electrically detected magnetic resonance)の高感度化、およびMOSトランジスタ中の欠陥準位のEDMR信号の取得を目的とした。ここでは特に、トランジスタを電子スピン共鳴装置のキャビティ内に挿入するために、新たにサンプルホルダを設計した。サンプルホルダに含まれる微量なスピンに由来するゴースト信号を抑制するため、サンプルホルダの材料の選定から行った。サンプルホルダ材料のほかにも、配線材料、デバイス固定材料等について、(キャビティー内での)それぞれのQ値を詳細に調べ、EDMR計測に最適なサンプルホルダの設計を行った。また、ノイズを抑制するためのフィルターの配備や、低ノイズ電源の選定も行った。
上記の結果、MOSトランジスタのEDMR信号を観測することに成功した。測定から求めたg値より、信号の起源はシリコンダングリングボンドであると結論付けた。また、前年度より測定手法を確立してきたチャージポンピング法に、EDMRを組み合わせたチャージポンピングEDMR法の立ち上げも行い、この信号の観測にも成功した。これらの成果は、少数個の電子スピンを精密に検出するための基礎技術となる。

Research Progress Status

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Causes of Carryover

27年度が最終年度であるため、記入しない。

Expenditure Plan for Carryover Budget

27年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (10 results)

All 2016 2015

All Journal Article (3 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Peer Reviewed: 3 results,  Open Access: 1 results,  Acknowledgement Compliant: 2 results) Presentation (7 results) (of which Int'l Joint Research: 6 results,  Invited: 2 results)

  • [Journal Article] Band transport across a chain of dopant sites in silicon over micron distances and high temperatures2016

    • Author(s)
      E. Prati, K. Kumagai, M. Hori, T. Shinada
    • Journal Title

      Scientific Reports

      Volume: 6 Pages: 19704_1-8

    • DOI

      10.1038/srep19704

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Evaluation of accuracy of charge pumping current in time domain2015

    • Author(s)
      T. Watanabe, M. Hori, T. Tsuchiya, Y. Ono
    • Journal Title

      IEICE Trans. Electron.

      Volume: E98-C Pages: 390-394

    • DOI

      10.1587/transele.E98.C.390

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Electrical activation and electron spin resonance measurements of arsenic implanted in silicon2015

    • Author(s)
      M. Hori, M. Uematsu, A. Fujiwara, Y. Ono
    • Journal Title

      Appl. Phys. Lett.

      Volume: 106 Pages: 142105_1-4

    • DOI

      10.1063/1.4917295

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Presentation] シリコン酸化膜界面欠陥の低温 チャージポンピング2016

    • Author(s)
      渡辺時暢、堀匡寛、小野行徳
    • Organizer
      電子情報通信学会 研究会「機能ナノデバイスおよび関連技術」
    • Place of Presentation
      北海道大学 百年記念会館(北海道札幌市)
    • Year and Date
      2016-03-03 – 2016-03-04
  • [Presentation] Cryogenic Charge Pumping using Silicon on Insulators2015

    • Author(s)
      T. Watanabe, M. Hori, T. Saruwatari, A. Fujiwara, Y. Ono
    • Organizer
      28th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2015)
    • Place of Presentation
      Toyama International Conference Center, Toyama
    • Year and Date
      2015-11-10 – 2015-11-13
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Electrically detected magnetic resonance study on silicon PN junction2015

    • Author(s)
      Y. Nishiuchi, K. Furuta, T. Mitani, M. Hori, Y. Ono
    • Organizer
      2015 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2015)
    • Place of Presentation
      Jeju Island, Korea
    • Year and Date
      2015-06-29 – 2015-07-01
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] ESR measurements of As donor electrons in silicon2015

    • Author(s)
      M. Hori, M. Uematsu, A. Fujiwara, Y. Ono
    • Organizer
      The 5th International Symposium on Organic and Inorganic Electronic Materials and Related Nanotechnologies (EM-NANO 2015)
    • Place of Presentation
      TOKI MESSE Niigata Convention Center Niigata, Japan
    • Year and Date
      2015-06-16 – 2015-06-19
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Charge pumping by point defects –Towards ultimate control of recombination in silicon-2015

    • Author(s)
      Y. Ono and M. Hori
    • Organizer
      III Bilateral Italy-Japan Seminar
    • Place of Presentation
      Campus Plaza Kyoto, Kyoto Japan
    • Year and Date
      2015-06-16 – 2015-06-16
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Single ion implantation of Ge donor impurity in silicon transistors2015

    • Author(s)
      E. Prati, Y. Chiba, M. Yano, K. Kumagai, M. Hori, G. Ferrari, T. Shinada, T. Tanii
    • Organizer
      2015 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW-2015)
    • Place of Presentation
      Rega Royal Hotel Kyoto, Japan
    • Year and Date
      2015-06-14 – 2015-06-15
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Charge Puming in SOI Gated PIN Diode2015

    • Author(s)
      T. Watanabe, M. Hori, T. Saruwatari, T. Tsuchiya, A. Fujiwara, Y. Ono
    • Organizer
      2015 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW-2015)
    • Place of Presentation
      Rega Royal Hotel Kyoto, Japan
    • Year and Date
      2015-06-14 – 2015-06-15
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2017-01-06  

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