2014 Fiscal Year Annual Research Report
コネクタの緩みによる1GHz超の電磁環境劣化メカニズムの解明
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25820098
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| Research Institution | Tohoku University |
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Principal Investigator |
林 優一 東北大学, 情報科学研究科, 准教授 (60551918)
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| Project Period (FY) |
2013-04-01 – 2015-03-31
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| Keywords | 電磁環境 / コネクタ / 接触不良 / 伝送線路 / 電気接点 / 相互接続 / 電磁情報セキュリティ / サイドチャネル攻撃 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
平成26年度は、交付申請書の各項目に応じて以下2項目について研究を行った。
1. 相互接続部に緩みを有する情報機器からの放射電磁波を通じた情報漏えいリスク評価: 汎用的な緩みモデルを情報機器に適用し、前年度に行った情報セキュリティ確保に求められる3要素の1つである可用性の評価に相当する放射電磁波予測に加え、残りの2要素となる完全性・機密性の評価を行った。評価対象は情報機器の暗号処理時に発生する放射電磁波に含まれる機密情報とした。漏えい源にはサイドチャネル攻撃評価ボードSASEBOを用い、申請者が開発した暗号ハードウェアモデルに汎用的な緩みモデルを接続し、評価対象の情報機器とした。評価には既存設備であるEMCスキャナを用い、コネクタに緩みなどの不整合部を有する暗号ハードウェアから生ずる漏えい電磁波を網羅的に観測及び解析することで情報漏えいのリスク評価を行った。
2. 接触境界表面及び周囲の電磁界伝搬の可視化に基づくメカニズム解明: 前年度に得られたモデル用いて、緩みの生じたコネクタの接触境界表面及び周囲の電磁界分布をFDTD法により解析した。解析の際には緩みモデルを特性インピーダンスが50Ωの同軸伝送路に接続し、伝送路に対してTEMモードで電磁波を励振した。励振信号は1GHz超の周波数を含む立ち上がりの鋭いガウシャンパルスとし、接触境界表面における電磁界の乱れを可視化することでメカニズムを解明した。得られたメカニズムを基に1GHzの高周波領域における機器相互接続部のコネクタに求められる接触性能要件を接触部の幾何的性質を基に与えた。
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Research Products
(6 results)
