2013 Fiscal Year Research-status Report
表面修飾ナノ粒子分析を目指した、ＡＴＲ－ＦＵＶ分光測定による分析深さの精密化
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25870938
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Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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| Research Institution | Kinki University |
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Principal Investigator |
森澤 勇介 近畿大学, 理工学部, 講師 (60510021)
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| Project Period (FY) |
2013-04-01 – 2015-03-31
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| Keywords | 電子状態 / 高分子 / 表面分析 / 減衰全反射 / 遠紫外分光法 |
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| Research Abstract |
(a)入射角依存減衰全反射遠紫外分光(ATR-FUV)プローブの改造
減衰全反射測定において入射角を変化させることにより分析深さを変化させることができる。この測定において問題となる、有効入射角の制御と決定を行うために入射角依存ATR-FUVプローブの作製と入射光学系の改造を行った。研究費減額により、当初予定していた発光点が小さく集光性の高い光源の購入はできなかったが、光学系にアパーチャーを入れるなどの工夫を行い、入射角の幅が約2度程度となるような入射光学系を作成した。また、広角側の入射において、障害となるプローブのでっぱりなどをできる限り削り取り設計した入射角依存ATR-FUVプローブを作成した。
(b)ナノ粒子測定
開発した装置を用いて、高分子ナノ粒子分散液の角度依存ATR-FUV測定を行った。分散液のまま測定した場合と、分散媒である水を乾燥させて、ナノ粒子を沈降させた場合の2つの場合で、1μmの直径を持つ単分散ポリスチレン粒子（PS）の測定を行った。分散液で得られた吸収バンドにおけるPSと水のアサイメントは、研究協力者によるバルクのPSの固体表面ATR-FUV測定の結果と、上記の乾燥状態の測定を用いて行った。（ATR-FUV測定では100nm以下の分析深さで測定を行うために、分散媒の乾燥は難しいと考えられたが、時間をかけて、行うことで乾燥できることがわかった。）角度依存測定では、分散液においては、水のピークとPSのピークの強度比が充填率によって変化する様子が観測された。
これらの結果については平成26年度日本分光学会年次講演会において発表を予定している。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.
Reason
当初今年度計画を予定していた二つの研究課題(a)入射角依存減衰全反射遠紫外分光(ATR-FUV)プローブの改造および、(b)ナノ粒子測定をともに達成しており、おおむね順調に進展していると思われる。
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| Strategy for Future Research Activity |
今後は半径の異なるナノ粒子分散液の測定を行うことで、ナノ粒子により制御された表面状態と測定し解析したデータが合理的に一致するかを明らかにする。さらに、表面修飾を行ったナノ粒子において、その表面の電子状態がどのように変化しているかをATR-FUV測定によって明らかにする。
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| Expenditure Plans for the Next FY Research Funding |
減額により、当初予定していた新規光源購入の予定を変更し、FUV-ATR装置部品の購入とその改造によって計画を遂行した。これらの計画変更によって生じた差額
計画の変更によって、入射精度はほぼ予定通りの実現をすることができたが、感度は予定通りとはならなかった。よりよい、S/Nを得るために多くの実験時間が必要となるため、来年度消耗品（特に窒素ガス）に使用する。
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Research Products
(4 results)
