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2014 Fiscal Year Annual Research Report

次世代三次元形状の高精度化のための三次元計測における不確かさ推定手法の実用化

Research Project

Project/Area Number 26249006
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

高増 潔  東京大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (70154896)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 高橋 哲  東京大学, 先端科学技術研究センター, 教授 (30283724)
Project Period (FY) 2014-04-01 – 2019-03-31
Keywords不確かさ推定 / 三次元形状測定 / 光計測 / ナノメートル計測 / 座標計測
Outline of Annual Research Achievements

以下の2つの研究テーマに関して,研究を実施した.
1.不確かさ推定理論の体系化とシミュレーションソフトウェアの提供
三次元計測における不確かさ推定理論の体系化を行った.標準を利用した測定機の校正作業により,測定機の運動学パラメータの不確かさが推定される.この理論体系を実際の三次元計測に適用した.構築した体系に対応するシミュレーションソフトウェアを構築した.特定の測定機器(CMMおよびSEM)に対応した,不確かさシミュレーションソフトウェアの開発指針を明らかにし,不確かさを推定するだけでなく,不確かさを小さくするための方法をソフトウェア上でテストできるプラットホームの基礎部分を作成した.
2.光学的三次元形状測定の応用実験
新しい光学的手法を利用したナノ三次元測定に関して,角度測定による三次元測定システムを適用対象として,より高精度な測定と,その不確かさの評価手法の実用化を目指した.回転するステージとオートコリメータを組み合わせることで,高精度化とステージの誤差の分離,オートコリメータの自律校正を可能にするシステムが構築できた.このシステムを三次元計測の実施例として開発し,理論的な不確かさ推定と合わせてシステム全体の不確かさ評価を理論的および実験的に行った.

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

1: Research has progressed more than it was originally planned.

Reason

まず,不確かさ推定理論の体系化とシミュレーションソフトウェアの提供に関しては,三次元計測における不確かさ推定理論の体系化を行い,標準を利用した測定機の校正作業により,測定機の運動学パラメータの不確かさが推定のためのソフトウェアの開発が実現できた.特に,構築した体系に対応するシミュレーションソフトウェアを構築し,特定の測定機器(CMMおよびSEM)に対応した,不確かさシミュレーションソフトウェアの開発指針を明らかにできた.
つぎに,光学的三次元形状測定の応用実験に関しては,新しい光学的手法を利用したナノ三次元測定に関して,角度測定による三次元測定システムを適用対象として,より高精度な測定と,その不確かさの評価手法の実用化の基本部分が実現できた.

Strategy for Future Research Activity

2つの大きなテーマについて,以下の方針で研究を推進する.
まず,不確かさ推定理論の体系化とシミュレーションソフトウェアの提供では,理論体系を実際の三次元計測に適用した結果を解析し,構築した体系に対応するシミュレーションソフトウェアを利用者が自由に使えるシステムを構築する.特定の測定機器の範囲を拡大し,前年度に確立した不確かさシミュレーションソフトウェアの開発指針をもとに,不確かさを推定するだけでなく,不確かさを小さくするための方法をソフトウェア上でテストできるプラットホームの基礎部分の作成を推進する.
次に,光学的三次元形状測定の応用実験では,前年度に開発した角度測定による三次元測定システムに対して,引き続きより高精度な測定と,その不確かさの評価手法の実用化を進める.さらに,新しい光学的三次元形状測定手法の開発と,精度評価および校正方法の検討を行い,システム全体の不確かさ評価を理論的および実験的に行う.

Remarks

東京大学 高増・高橋研究室

  • Research Products

    (15 results)

All 2015 2014 Other

All Journal Article (5 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results,  Peer Reviewed: 5 results,  Open Access: 1 results) Presentation (9 results) (of which Int'l Joint Research: 5 results,  Invited: 4 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Verification of the positioning accuracy of industrial coordinate measuring machine using optical-comb pulsed interferometer with a rough metal ball target2015

    • Author(s)
      Wiroj Sudatham, Hirokazu Matsumoto, Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu
    • Journal Title

      Precision Engineering

      Volume: 41 Pages: 63-67

    • DOI

      10.1016/j.precisioneng.2015.01.007

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] A novel dark field in-process optical inspection method for micro-openings on mirrored surfaces beyond the diffraction limit using active phase control2014

    • Author(s)
      S. Takahashi, H. Yokozeki, D. Fujii, R. Kudo, K. Takamasu
    • Journal Title

      CIRP Annals - Manufacturing Technology

      Volume: 63 Pages: 465-468

    • DOI

      10.1016/j.cirp.2014.03.035

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Profile measurement of aspheric surfaces using scanning deflectometry and rotating autocollimator with wide measuring range2014

    • Author(s)
      Kyohei Ishikawa, Tomohiko Takamura, Muzheng Xiao, Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu
    • Journal Title

      Measurement Science and Technology

      Volume: 25 Pages: 064008 1-7

    • DOI

      10.1088/0957-0233/25/6/064008

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Performance evaluation of a coordinate measuring machine’s axis using a high-frequency repetition mode of a mode-locked fiber laser2014

    • Author(s)
      Narin Chanthawong, Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu, Hirokazu Matsumoto:
    • Journal Title

      International Journal of Precision Engineering and Manufacturing

      Volume: 15 Pages: 1507-1512

    • DOI

      10.1007/s12541-014-0498-3

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Two-color absolute length measuring method based on pulse repetition interval lengths2014

    • Author(s)
      Dong Wei, Masato Aketagawa, Kiyoshi Takamasu, Hirokazu Matsumoto
    • Journal Title

      Optical Engineering

      Volume: 53 Pages: 122413 1-5

    • DOI

      10.1117/1.OE.53.12.122413

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Line Profile Measurement of Advanced-FinFET Features by Reference Metrology2015

    • Author(s)
      Kiyoshi Takamasu, Yuuki Iwaki, Satoru Takahashi, Hiroki Kawada, Masami Ikota, Atsuko Yamaguchi, Gian F. Lorusso, Naoto Horiguchi
    • Organizer
      SPIE Advanced Lithography
    • Place of Presentation
      San Jose (USA)
    • Year and Date
      2015-02-23 – 2015-02-26
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Non-Contact Measurement Technique for Dimensional Metrology Using Optical Comb2014

    • Author(s)
      Wiroj Sudatham, Hirokazu Matsumoto, Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu
    • Organizer
      11th Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場(茨城県つくば市)
    • Year and Date
      2014-09-02 – 2014-09-05
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Measurement of Surface Roundness Using a Multi-Beam Angle Sensor2014

    • Author(s)
      Meiyun Chen, Soichiro Ueda, Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu
    • Organizer
      11th Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場(茨城県つくば市)
    • Year and Date
      2014-09-02 – 2014-09-05
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 参照計測ためのTEM画像を用いたレジストおよびFinFETの形状測定2014

    • Author(s)
      高増潔
    • Organizer
      次世代リソグラフィワークショップ2014
    • Place of Presentation
      東京工業大学蔵前会館(東京都目黒区)
    • Year and Date
      2014-07-18 – 2014-07-18
    • Invited
  • [Presentation] Nanometer Profile Measurement of Aspheric Surface Using Scanning Deflectometry and Rotating Autocollimator: Self-Calibration Method of Autocollimator2014

    • Author(s)
      Kiyoshi Takamasu, Kyohei Ishikawa, Tomihiko Takamura, Muzheng Xiao, Satoru Takahashi
    • Organizer
      ASPE/ASPEN Summer Topical Meeting
    • Place of Presentation
      Hawaii (USA)
    • Year and Date
      2014-06-25 – 2014-06-27
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] トレーサビリティと精密測定の歴史,精密測定の条件,精密測定における測定不確かさ2014

    • Author(s)
      高増潔
    • Organizer
      精密工学会/精密測定技術振興財団第367回講演会「“はかる”を知る,精密測定の理論と最新動向」
    • Place of Presentation
      東京大学本郷キャンパス(東京都文京区)
    • Year and Date
      2014-06-16 – 2014-06-16
    • Invited
  • [Presentation] Precision measurement technique for rough surface object using self-beat signals of optical frequency comb2014

    • Author(s)
      Taro Onoe, Zongluo Yang, Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu, Hirokazu Matsumoto
    • Organizer
      14th euspen International Conference
    • Place of Presentation
      Dubrovnik (Croatia)
    • Year and Date
      2014-06-02 – 2014-06-06
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 記念講演・精密測定の今後2014

    • Author(s)
      高増潔
    • Organizer
      日本精密測定機器工業会 創立60周年記念講演会
    • Place of Presentation
      ホテルアルジュール竹橋(東京都港区)
    • Year and Date
      2014-05-21 – 2014-05-21
    • Invited
  • [Presentation] STEMによる半導体構造の形状測定2014

    • Author(s)
      高増潔
    • Organizer
      日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会第74回研究会
    • Place of Presentation
      産業技術総合研究所臨海f区都心センター(東京都江東区)
    • Year and Date
      2014-04-24 – 2014-04-24
    • Invited
  • [Remarks] www.nanolab.t.u-tokyo.ac.jp

URL: 

Published: 2017-01-06  

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