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2016 Fiscal Year Annual Research Report

Investigation of surface phonon and local surface proiperties at atomic scale with atomic force microscopy

Research Project

Project/Area Number 26286007
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

内藤 賀公  大阪大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教 (90362665)

Project Period (FY) 2014-04-01 – 2017-03-31
Keywords原子間力顕微鏡 / 表面物性 / ナノコンタクト / フォノン
Outline of Annual Research Achievements

本研究の目的は、原子間力顕微鏡法(AFM)を応用して新たに表面原子の振動状態や電荷分布を高感度に測定する技術を開発し、表面欠陥や不純物周りの局所的な表面物性状態(結合弾性状態、電荷秩序分布)を明らかにすることである。
先ず、原子の振動状態を高感度にサブ原子スケールで捉えるために、既存のAFM装置の高感度化を図った。具体的には、光干渉法を用いたAFM力センサー(カンチレバー)の変位検出方式から光てこ法を用いた検出方式に変更した。この改良によって、検出される力のノイズ密度を30-40fm/√Hzから15-25fm/√Hzに向上させることに成功した。
さらに表面原子変位を精密に捉えるために探針-試料表面間に働く相互作用力の3方向(X,Y,Z)成分を全て取得する手法を考案した。表面原子が感じる力を得られた3方向力成分から3次元ベクトルで表し、その空間分布を取得できる技術を確立した。こ技術はこれまでの顕微鏡法では達成できなかったものであり、今後のナノスケール物性計測に新たな展開が期待できる。この研究成果は論文にまとめて国際的に著名な学術誌(Nature Physics)に掲載された。
また、固体表面の電荷分布やその変化(電荷移動)を捉えるために3倍振動を用いた静電気力分光法を新たに開発した。この手法と多周波数モード計測を利用して探針-試料間の静電気力によるカンチレバーの共振周波数の変化(周波数シフト)を三次元的に測定し、数値計算(アルゴリズムは開発済み)により、静電気力の空間分布、さらにはクーロンポテンシャルの空間分布を原子スケールで導出できる技術を開発した。

Research Progress Status

28年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

28年度が最終年度であるため、記入しない。

Causes of Carryover

28年度が最終年度であるため、記入しない。

Expenditure Plan for Carryover Budget

28年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (12 results)

All 2017 2016

All Journal Article (4 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results,  Peer Reviewed: 4 results,  Acknowledgement Compliant: 1 results) Presentation (8 results) (of which Int'l Joint Research: 6 results,  Invited: 4 results)

  • [Journal Article] Sub-atomic-scale tip-surface force vector mapping above a Ge(001) dimer using bimodal atomic force micorscopy2017

    • Author(s)
      Yoshitaka Naitoh, Robert Turansky, Jan Brndiar, Yan Jun Li, Ivan Stich and Yasuhiro Sugawara
    • Journal Title

      Nature Physics

      Volume: 14 Pages: -

    • DOI

      10.1038/nphys4083

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Investigation of tunneling current and local contact potential difference on the TiO2(110) surface by AFM/KPFM at 78 K2017

    • Author(s)
      Huanfei Wen, Yanjun Li, Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhihai Cheng
    • Journal Title

      Nanotechnology

      Volume: 28 Pages: 105704

    • DOI

      10.1088/1361-6528/aa5aef

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Investigation of the surface potential of TiO2 (110) by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy2016

    • Author(s)
      Lili Kou, Yanjun Li, Takeshi Kamijo, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara
    • Journal Title

      Nanotechnology

      Volume: 27 Pages: 505704

    • DOI

      10.1088/0957-4484/27/50/505704

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Development of low temperature atomic force microscopy with an optical beam deflection system capable of simultaneously detecting the lateral and vertical forces2016

    • Author(s)
      Eiji Arima, Huanfei Wen, Yoshitaka Naitoh, Yanjun Li, and Yasuhiro Sugawara
    • Journal Title

      Rev. Sci. Inst.

      Volume: 87 Pages: 097113

    • DOI

      10.1063/1.4962865

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Investigation of Tunneling Current and Local Contact Potential Difference on O-TiO2(110) surface by AFM/KPFM2017

    • Author(s)
      Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Yoshitaka Naitoh, Yanjun Li and Yasuhiro Sugawara
    • Organizer
      第64回応用物理学春季学術講演会
    • Place of Presentation
      パシフィコ横浜 横浜
    • Year and Date
      2017-03-14 – 2017-03-17
  • [Presentation] Simultaneous Characterization of Tunneling Current and Local Contact Potential Difference on Rutile TiO2(110) surface by AFM/KPFM2017

    • Author(s)
      Huan Fei Wen、Quan Zhen Zhang、Yoshitaka Naitoh、
    • Organizer
      Symposium on Surface Science & Nanotechnology -25th Anniversary of SSSJ Kansai
    • Place of Presentation
      Kyoto International Community House、Kyoto
    • Year and Date
      2017-01-24 – 2017-01-25
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Atomic-resolution Simultaneous Imaging of Topography, Surface Potential and Dipole Moment on TiO2(110) Surface2017

    • Author(s)
      Haunfei Wen, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li and Yasuhiro Sugawara
    • Organizer
      The 2nd International Symposium on "Recent Trends in Analysis Techniques for Functional Materials and Devices"
    • Place of Presentation
      大阪大学 吹田市
    • Year and Date
      2017-01-17 – 2017-01-19
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] The investigation of topography, surface potential and local dipole moment on TiO2(110) surface by AFM/EFM2016

    • Author(s)
      H. F. Wen, Y. J. Li, H Yokoyama, Y Naitoh and Y Sugawar
    • Organizer
      2016 International Conference on Materials, Manufacturing and Mechanical Engineering
    • Place of Presentation
      Beijing, China
    • Year and Date
      2016-12-30 – 2016-12-31
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 多周波数モード原子間力顕微鏡による探針試料間弾性力ベクトルの3次元マッピング2016

    • Author(s)
      内藤賀公、李艶君、菅原康弘
    • Organizer
      トライボロジー会議2016
    • Place of Presentation
      朱鷺メッセ 新潟市
    • Year and Date
      2016-10-12 – 2016-10-14
  • [Presentation] Tip-surface potential derived from three force components using multi-frequency AFM2016

    • Author(s)
      Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara
    • Organizer
      NC-AFM 2016
    • Place of Presentation
      Nottingham/UK
    • Year and Date
      2016-07-25 – 2016-07-29
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] The investigation of dipole moment on TiO2(110) surface by electrostatic force Microscopy (EFM)2016

    • Author(s)
      Yan Jun Li, Huanfei Wen, Yoshitaka Naitoh and Yasuhiro Sugawara
    • Organizer
      The 14th Annual Meeting of the Society of Nano Science and Technology
    • Place of Presentation
      Kitakyushu International Conference Center
    • Year and Date
      2016-06-14 – 2016-06-16
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Spatial Elastic Property of Ge(001) Surface at Sub-Atomic Scale with Multi-Frequency Atomic Force Microscopy.2016

    • Author(s)
      Yoshitaka Naitoh
    • Organizer
      Emerging Technologies 2016: Communications, Microsystems, Optoelectronics, Sensors.
    • Place of Presentation
      Montreal, Canada
    • Year and Date
      2016-05-26 – 2016-05-27
    • Int'l Joint Research / Invited

URL: 

Published: 2018-01-16  

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