• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2016 Fiscal Year Annual Research Report

Local potential structure characterization of polar oxide interfaces by atomic-resolution electric field imaging STEM

Research Project

Project/Area Number 26289234
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

柴田 直哉  東京大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (10376501)

Project Period (FY) 2014-04-01 – 2017-03-31
Keywords極性界面 / STEM / ポテンシャル / 電場
Outline of Annual Research Achievements

本研究では、申請者らが近年開発した原子分解能電場計測走査透過電子顕微鏡法を用いてセラミックス界面の局所電場及び静電ポテンシャル構造を直接解析し、セラミックス界面における機能発現メカニズムを本質的に解明することを目指している。特に、本研究では強誘電体セラミックス及び圧電セラミックスなどの極性酸化物セラミックスの界面に着目し、その局所電場プロファイルをナノメーターオーダーで実空間観察することにより、界面における電場変調、電荷分布、静電ポテンシャル構造を実験的に直接明らかにする。これにより、極性酸化物セラミックスの界面機能発現の根本メカニズム解明にブレークスルーを与えるとともに、最近発見された極性酸化物ヘテロ界面における特異な電気伝導現象の起源解明にも挑戦する。
本年度は、原子分解能電場計測STEM法の理論解析とモデル結晶・ナノ粒子を用いた実験検証を精力的に行い、分割型検出器を用いて原子電場(原子内部の電場)の定量解析が可能であることを実証した。また、原子分解能電場計測STEM法を用いてGaN系ヘテロ構造における極性界面電場構造解析を行い、ヘテロ界面における界面ポテンシャル構造変化に起因する電場変化を超高空間分解能で計測することに成功した。この電場分布情報をもとに、マックスウェル方程式を用いて極性界面における電荷密度分布を実空間で可視化することにも成功した。本研究により、原子分解能電場計測STEM法は極性界面などの局所的な電場変化を伴う界面解析に極めて有効であることが示された。

Research Progress Status

28年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

28年度が最終年度であるため、記入しない。

Causes of Carryover

28年度が最終年度であるため、記入しない。

Expenditure Plan for Carryover Budget

28年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (34 results)

All 2017 2016 Other

All Int'l Joint Research (1 results) Journal Article (13 results) (of which Int'l Joint Research: 6 results,  Peer Reviewed: 13 results,  Open Access: 5 results,  Acknowledgement Compliant: 3 results) Presentation (20 results) (of which Int'l Joint Research: 11 results,  Invited: 19 results)

  • [Int'l Joint Research] Monash University(Australia)

    • Country Name
      Australia
    • Counterpart Institution
      Monash University
  • [Journal Article] Atomic-scale tracking of a phase transition from spinel to rocksalt in lithium manganese oxide2017

    • Author(s)
      P. Gao, R. Ishikawa, E. Tochigi, A. Kumamoto, N. Shibata and Y. Ikuhara
    • Journal Title

      Chem. Mater.

      Volume: 29 Pages: 1006-1013

    • DOI

      10.1021/acs.chemmater.6b03659

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Structure of <110>-Tilt Boundaries in Cubic Zirconia2017

    • Author(s)
      K. Inoue, B. Feng, N. Shibata, M. Kotani and Y. Ikuhara
    • Journal Title

      J. Mater. Sci.

      Volume: 52 Pages: 4278-4287

    • DOI

      10.1007/s10853-016-0682-1

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] A new method to detect and correct sample tilt in scanning transmission electron microscopy bright-field imaging2017

    • Author(s)
      H. Brown, R. Ishikawa, G. Sanchez-Santolino, N. Lugg, Y. Ikuhara, L.J. Allen and N. Shibata
    • Journal Title

      Ultramicoscopy

      Volume: 137 Pages: 76-83

    • DOI

      http://doi.org/10.1016/j.ultramic.2016.11.024

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Direct visualization of lithium via annular bright field scanning transmission electron microscopy: a review2017

    • Author(s)
      S.D. Findlay, R. Huang, R. Ishikawa, N. Shibata and Y. Ikuhara
    • Journal Title

      Microscopy

      Volume: 66 Pages: 3-14

    • DOI

      https://doi.org/10.1093/jmicro/dfw041

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] DPC STEM法による局所電場・磁場分布の直接観察と材料研究応用2017

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Journal Title

      セラミックス

      Volume: 52 Pages: 87-90

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Co thin films deposited directly on ZnO polar surfaces2016

    • Author(s)
      D. Chiba, N. Shibata and A. Tsukazaki
    • Journal Title

      Sci. Rep.

      Volume: 6 Pages: 38005

    • DOI

      doi:10.1038/srep38005

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Single atom visibility in STEM optical depth sectioning2016

    • Author(s)
      R. Ishikawa, S.J. Pennycook, A.R. Lupini, S.D. Findlay, N. Shibata and Y. Ikuhara
    • Journal Title

      Appl. Phys. Lett.

      Volume: 109 Pages: 163102

    • DOI

      http://dx.doi.org/10.1063/1.4965709

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Direct observation of individual dislocation interaction processes at grain boundaries2016

    • Author(s)
      S. Kondo, T. Mitsuma, N. Shibata and Y. Ikuhara
    • Journal Title

      Sci. Adv.

      Volume: 2 Pages: e1501926

    • DOI

      10.1126/sciadv.1501926

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Jointed magnetic skyrmion lattice at a small-angle grain boundary visualized by advanced electron microscopy2016

    • Author(s)
      T. Matsumoto, Y.-G. So, Y. Kohno, H. Sawada, Y. Ikuhara and N. Shibata
    • Journal Title

      Sci, Rep

      Volume: 6 Pages: 35880

    • DOI

      doi:10.1038/srep35880

    • Peer Reviewed / Open Access / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Low magnification differential phase contrast imaging of electric field in crystals with fine electron probes2016

    • Author(s)
      D.J. Taplin, N. Shibata, M. Weyland and S.D. Findlay
    • Journal Title

      Ultramicroscopy

      Volume: 169 Pages: 69-79

    • DOI

      http://doi.org/10.1016/j.ultramic.2016.07.010

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Crystalline grain interior configuration affects lithium migration kinetics in Li-rich layered oxide2016

    • Author(s)
      H.-J. Yu, Y.-G. So, A. Kuwabara, E. Tochigi, N. Shibata, T. Kudo, H.-S. Zhou and Y. Ikuhara
    • Journal Title

      Nano Lett.

      Volume: 16 Pages: 2907-2915

    • DOI

      DOI: 10.1021/acs.nanolett.5b03933

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Atomic mechanism of polarization-controlled surface reconstruction in ferroelectric thin films2016

    • Author(s)
      P. Gao, H.-J. Liu, Y.-L. Huang, Y.-H. Chu, R. Ishikawa, B. Feng, Y. Jiang, N. Shibata. E.-G. Wang and Y. Ikuhara
    • Journal Title

      Nature Comm.

      Volume: 7 Pages: 11318

    • DOI

      doi:10.1038/ncomms11318

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Interfacial Atomic Structure of Twisted Few-Layer Graphene2016

    • Author(s)
      R. Ishikawa, N.R. Lugg, K. Inoue, H. Sawada, T. Taniguchi, N. Shibata and Y. Ikuhara
    • Journal Title

      Sci. Rep.

      Volume: 6 Pages: 21273

    • DOI

      doi:10.1038/srep21273

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Presentation] Development of aberration-corrected differential phase-contrast STEM for materials science2017

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      UT-Chalmers Workshop 2017
    • Place of Presentation
      東京都、文京区、東京大学
    • Year and Date
      2017-03-30
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Differential phase-contrast scanning transmission electron microscopy imaging of materials and devices2017

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      Advanced microscopy workshop
    • Place of Presentation
      Australia, Melbourne, Monash University
    • Year and Date
      2017-03-21
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] DPC STEMを用いた材料解析2017

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      ナノテク産業化基盤技術の有効利用および高度化と融合を目指した研究会2017
    • Place of Presentation
      福岡県、福岡市、九州大学
    • Year and Date
      2017-03-10
    • Invited
  • [Presentation] 原子レベルからのセラミックス界面構造解析2017

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      JFCAイブニングセミナー
    • Place of Presentation
      東京都、港区、(一社)日本ファインセラミックス協会
    • Year and Date
      2017-02-22
  • [Presentation] Differential phase-contrast imaging using aberration-corrected scanning transmission electron microscopy2017

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      Electron Holography Workshop 2017
    • Place of Presentation
      埼玉県、比企郡、日立基礎研究センタ
    • Year and Date
      2017-02-15
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 多分割検出器を用いた原子分解能微分位相コントラストSTEM法の開発2017

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      日本学術振興会 荷電粒子ビームの工業への応用 第132委員会
    • Place of Presentation
      東京都、千代田区、弘済会館
    • Year and Date
      2017-01-13
    • Invited
  • [Presentation] Atomic-resolution differential phase contrast STEM using high speed segmented detector2016

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      MRS fall meeting 2016
    • Place of Presentation
      USA, Massachusetts, Boston
    • Year and Date
      2016-11-28
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] DPC STEM法による材料解析2016

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第59回シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京都、豊島区、帝京平成大学 池袋キャンパス
    • Year and Date
      2016-11-18
    • Invited
  • [Presentation] Atomic-resolution differential phase contrast scanning transmission electron microscopy2016

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      IAMNano 2016
    • Place of Presentation
      South Africa, Port Elizabeth
    • Year and Date
      2016-11-08
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Electromagnetic field imaging of materials by differential phase contrast scanning transmission electron microscopy2016

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      Seminar in The University of the Witwartersrand
    • Place of Presentation
      South Africa, Johannesburg
    • Year and Date
      2016-11-04
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 最先端STEM法を用いたナノ機能元素構造定量解析2016

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      日本金属学会 秋期講演大会
    • Place of Presentation
      大阪府、豊中市、大阪大学豊中キャンパス
    • Year and Date
      2016-09-21
    • Invited
  • [Presentation] 分割検出STEM法による材料界面解析2016

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      日本物理学会 2016年秋季大会
    • Place of Presentation
      石川県、金沢市、金沢大学角間キャンパス
    • Year and Date
      2016-09-14
    • Invited
  • [Presentation] 最新STEM法による材料界面構造解析2016

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      日亜化学セミナー
    • Place of Presentation
      徳島県、阿南市、日亜化学工業
    • Year and Date
      2016-08-19
    • Invited
  • [Presentation] Advanced STEM imaging of materials by segmented-type annular detector2016

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      PRICM9
    • Place of Presentation
      京都府、京都市、国立京都国際会館
    • Year and Date
      2016-08-03
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Direct electromagnetic structure observation by aberration-corrected differential phase contrast scanning transmission electron microscopy2016

    • Author(s)
      N. Shibata, S.D. Findlay, T. Matsumoto, T. Seki, G.S. Santolino, Y. Kohno, H. Sawada, H. Sasaki, Y.G. So, R. Ishikawa and Y. Ikuhara
    • Organizer
      Microscopy and Microanalysis 2016
    • Place of Presentation
      USA, Ohio, Columbus
    • Year and Date
      2016-07-26
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Electromagnetic field imaging of materials by scanning transmission electron microscopy2016

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      RCBJSF-IWRF 2016
    • Place of Presentation
      島根県、松江市、くにびきメッセ
    • Year and Date
      2016-06-21
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Development of atomic-resolution scanning transmission electron microscopy for ceramic interfaces2016

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      APMC11
    • Place of Presentation
      Thailand, Puket
    • Year and Date
      2016-05-26
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] 先進原子分解能STEMによる局所材料解析2016

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      AZtechセミナー2016
    • Place of Presentation
      東京都、品川区、オックスフォード・インスツルメンツ株式会社
    • Year and Date
      2016-05-20
    • Invited
  • [Presentation] 先進原子分解能STEMによる材料界面解析2016

    • Author(s)
      柴田直哉
    • Organizer
      学振第133委員会、第232回研究会(第1分科会)-最先端透過電子顕微鏡の新展開―
    • Place of Presentation
      東京都、文京区、東京大学
    • Year and Date
      2016-05-14
    • Invited
  • [Presentation] Direct electric field imaging of materials by differential phase contrast STEM2016

    • Author(s)
      N. Shibata
    • Organizer
      AMTC 5
    • Place of Presentation
      愛知県、名古屋市、ウインク愛知
    • Year and Date
      2016-05-11
    • Int'l Joint Research / Invited

URL: 

Published: 2018-01-16  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi