2016 Fiscal Year Research-status Report
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26330067
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| Research Institution | Oita University |
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Principal Investigator |
大竹 哲史 大分大学, 工学部, 准教授 (20314528)
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| Project Period (FY) |
2014-04-01 – 2018-03-31
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| Keywords | FPGA / フィールドテスト / 特定用途依存テスト / 遅延故障 / 故障診断 / BIST / 耐故障設計 / 劣化検知 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本テーマでは，フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）上に搭載された回路の高信頼化を実現するため，使用環境でのテストおよび診断（フィールドテスト）のための要素技術となる（１）線形フィードバックシフトレジスタ（ＬＦＳＲ），（２）レジスタ転送レベルのテスト容易化設計（ＤＦＴ），（３）通常動作モード／テストモード切り替え制御，（４）高品質遅延故障組込み自己テスト（ＢＩＳＴ），（５）ＢＩＳＴ環境での遅延故障診断について研究を行っている．
平成２８年度は，主に（５）について，平成２７年度に発表した外部テスト向けの診断テスト生成法のＢＩＳＴ環境への応用を行った．これについては一定の評価を終え，研究会論文として発表した．
また（４）について，高品質遅延故障ＢＩＳＴを実施する際の新たな課題が見つかった．システムクロックよりも高速のクロックを用いてテストを実行する際に，テスト応答を圧縮する多入力シグネーチャレジスタ（ＭＩＳＲ）に取り込んではいけない誤ったテスト応答への対応が必要である．そのため，ＭＩＳＲに取り込む値をマスクする新たな機構を提案し，国際会議論文として発表を行った．
当該年度に当初予定していた，（１）～（３）の技術の統合については，平成２７年度に実施した（３）の外部発表の際に統合しており，完了している．
平成２７年度に（１）の要素技術として提案した，外的ノイズやソフトエラーに耐性をもつＦＰＧＡ上のＢＩＳＴ機構に関する研究会発表について，平成２８年度１１月に平成２７年度電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会最優秀講演賞を受賞した．
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
3: Progress in research has been slightly delayed.
Reason
当初予定していた研究項目について，平成２７年度までにすべて着手している．平成２８年度までに各要素技術の確立および一定の評価を終了し，評価が完了したものについては国際会議発表を行い，途中のものについても研究会発表を行った．一部，外部発表が完了していないものがあり，また，総合評価について時間がかかっている．予定より若干の遅れがあるが，次年度に完了できる見込みである．
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| Strategy for Future Research Activity |
平成２８年度までに要素技術の確立は完了し，ほぼ予定通りに各項目について評価を進めている．一部要素技術に関する評価と総合評価が残っており，研究期間の延長により完了を目指している．研究内容について計画に変更はない．
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| Causes of Carryover |
個別要素技術の評価実験に当初計画よりも時間がかかったため，一部成果について成果発表が完了していない．現在，引き続き実験及び国際会議論文として投稿準備中である．また，要素技術を統合した総合評価についても当初計画よりも時間がかかっており完了していない．これについても成果発表を行う必要があるが，投稿にはまだ時間を要する．
以上により，予定していた旅費及び参加費を支出できておらず，次年度使用額が生じた．
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| Expenditure Plan for Carryover Budget |
成果発表のための旅費および会議参加費等に使用する．
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